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講演検索結果
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 57件中 1~20件目  /  [次ページ]  
研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
LQE, ED, CPM
(共催)
2023-11-30
13:55
静岡 アクトシティ浜松 ALDにより形成した絶縁膜を有するAlGaN/GaN MIS-HFETに対するゲートリセスエッチング後表面処理の効果
久保俊晴江川孝志名工大ED2023-16 CPM2023-58 LQE2023-56
ALD-SiO2/Al2O3 2層絶縁膜を用いたゲートリセス構造を有するノーマリオフ型AlGaN/GaN MIS-HFE... [more] ED2023-16 CPM2023-58 LQE2023-56
pp.11-14
MRIS, ITE-MMS
(連催)
2023-06-08
15:50
宮城 東北大(通研)
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
Co酸化物添加ターゲット材からの酸素欠損補填スパッタリングによるCoPtCr-酸化物グラニュラ型磁気テープの開発
立花淳一小林弘幸齋 輝夫相澤隆嗣ソニーストレージメディアソリューションズ)・斉藤 伸東北大MRIS2023-4
スパッタテープのノイズ低減を目的として,ロール・トゥ・ロール式スパッタリング装置によるグラニュラ記録層の成膜において,C... [more] MRIS2023-4
pp.21-26
CPM, ED, LQE
(共催)
2022-11-24
15:45
愛知 ウインクあいち(愛知県産業労働センター)(名古屋)
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
リセス構造形成後表面処理を施したAlGaN/GaN MIS-HEMTの電気特性評価
戸田圭太郎久保俊晴江川孝志名工大ED2022-37 CPM2022-62 LQE2022-70
ALD-SiO2/Al2O3 2層絶縁膜を用いたゲートリセス構造を有するノーマリオフ型AlGaN/GaN MIS-HEM... [more] ED2022-37 CPM2022-62 LQE2022-70
pp.61-64
SDM 2022-02-04
10:40
ONLINE オンライン開催 [招待講演]低温焼結塗布型シリカを用いた印刷エレクトロニクス
三成剛生物質・材料研究機構)・孫 晴晴鄭州大)・李 玲穎物質・材料研究機構)・李 万里江南大)・劉 旭影鄭州大SDM2021-76
金属インクを塗布・印刷することで配線や電子素子を形成するプリンテッドエレクトロニクスは,フレキシブル基板上に低温・低コス... [more] SDM2021-76
pp.9-12
SDM 2021-11-12
09:30
ONLINE オンライン開催 [招待講演]炭素欠陥制御に基づくSiC/SiO2界面の高品質化
小林拓真京大/東工大)・奥田貴史立木馨大伊藤滉二京大)・松下雄一郎東工大)・木本恒暢京大SDM2021-60
SiC MOSFETは電力変換用のパワーデバイスとして有望である。しかしSiC/SiO$_2$界面の高密度欠陥に起因した... [more] SDM2021-60
pp.38-42
SCE 2021-01-19
13:30
ONLINE オンライン開催 超伝導転移端型ガンマ線マイクロカロリメータの多画素化に適した三層メンブレンの熱コンダクタンスの評価
菊地貴大神代 暁早川亮大藤井 剛平山文紀浮辺雅宏産総研)・ライアン スミス大野雅史東大SCE2020-18
我々はガンマ線を高いエネルギー分解能で検出することのできる超伝導転移端型マイクロカロリメータ( Transition E... [more] SCE2020-18
pp.7-12
LQE, CPM, ED
(共催)
2020-11-26
13:50
ONLINE オンライン開催 ALDにより成膜したSiO2/Al2O3 2層絶縁膜を用いたAlGaN/GaN MIS-HEMTの電気特性評価
横井駿一久保俊晴江川孝志名工大ED2020-8 CPM2020-29 LQE2020-59
SiO2はバンドギャップが約9eVと大きいため、原子層堆積(ALD)によってAl2O3とSiO2との2層絶縁膜を形成する... [more] ED2020-8 CPM2020-29 LQE2020-59
pp.29-32
EID, ITE-IDY, IEE-EDD
(連催)
IEIJ-SSL, SID-JC
(共催)
(連催) [詳細]
2020-01-23
14:00
鳥取 鳥取大鳥取キャンパス [ポスター講演]NH3雰囲気で合成したLaSiO2N:Eu赤色蛍光体の励起・発光特性
木下 顕川島美沙早馬拓哉石垣 雅鳥取大)・國本 崇徳島文理大)・大観光徳鳥取大EID2019-9
赤色蛍光体LaSiO2N:EuをNH3雰囲気で合成した. 合成試料からEu3+特有の赤色発光と近紫外領域にブロードなCT... [more] EID2019-9
pp.45-48
CPM, LQE, ED
(共催)
2019-11-21
13:55
静岡 静岡大学(浜松) ALDにより成膜したSiO2/Al2O3 2層絶縁膜を用いたAlGaN/GaN MIS-HEMTのデバイス特性評価
横井駿一古岡啓太久保俊晴江川孝志名工大ED2019-41 CPM2019-60 LQE2019-84
SiO2はバンドギャップが約9 eVと大きいため、原子層堆積(ALD)によってAl2O3とSiO2との2層絶縁膜を形成す... [more] ED2019-41 CPM2019-60 LQE2019-84
pp.37-40
SDM 2019-01-29
13:45
東京 機械振興会館 [招待講演]HfO2/SiO2 MOS積層構造中の界面ダイポール変調動作
宮田典幸産総研)・奈良 純山崎隆浩物質・材料研究機構)・住田杏子産総研)・佐野良介野平博司東京都市大SDM2018-87
1分子層程度のTiO2を含むHfO2/SiO2界面から界面ダイポール変調 (IDM, interface dipole ... [more] SDM2018-87
pp.27-30
PN, EMT, OPE, EST, MWP, LQE
(共催)
IEE-EMT
(連催) [詳細]
2019-01-17
16:20
大阪 大阪大学中之島センター 光導波路のパッシベーションのためのゾルゲルSiO2層表面の改善検討
小川 慧アマッド シャハリン イドリス韓 瑜姜 海松浜本貴一九大PN2018-53 EMT2018-87 OPE2018-162 LQE2018-172 EST2018-100 MWP2018-71
ゾルゲル法で成膜するSiO2膜の光導波路のパッシベーションを検討している。イオン注入や電極取り付けに必要なウェットエッチ... [more] PN2018-53 EMT2018-87 OPE2018-162 LQE2018-172 EST2018-100 MWP2018-71
pp.127-130
ED, LQE, CPM
(共催)
2018-11-29
14:15
愛知 名古屋工業大学 GaN-MOSFETにおけるGaN表面処理とゲート絶縁膜アニールによるチャネル移動度の改善
梶原瑛祐新留 彩彦坂年輝蔵口雅彦東芝)・吉岡 啓東芝デバイス&ストレージ)・布上真也東芝ED2018-35 CPM2018-69 LQE2018-89
リセス構造型のノーマリオフGaN-MOSFETのチャネル移動度を改善したので報告する.これは,リセスエッチングで生じたG... [more] ED2018-35 CPM2018-69 LQE2018-89
pp.13-16
SDM 2018-06-25
11:40
愛知 名古屋大学 VBL3F 高性能GaN MOSFET実現に向けたSiO2/GaN界面制御
細井卓治山田高寛野崎幹人阪大)・高橋言諸山田 永清水三聡産総研)・吉越章隆原子力機構)・志村考功渡部平司阪大SDM2018-18
GaN MOSFETは高耐圧・低損失スイッチング素子として期待されているが、その実現には良質な絶縁膜および絶縁膜/GaN... [more] SDM2018-18
pp.11-14
SDM 2018-06-25
15:15
愛知 名古屋大学 VBL3F リモートプラズマ支援CVDにより形成したSiO2/GaN界面の化学結合状態および熱的安定性評価
松田亮平大田晃生名大)・田岡紀之産総研)・池田弥央牧原克典名大)・清水三聡産総研)・宮崎誠一名大SDM2018-22
n型GaN(0001)基板上に、リモートプラズマ支援CVDにより厚さ~6.2nmのSiO2を堆積し、X線光電子分光法(X... [more] SDM2018-22
pp.29-32
LQE, CPM, ED
(共催)
2017-12-01
12:30
愛知 名古屋工業大学 リモートO2プラズマ支援CVD SiO2/GaN(0001)の化学結合状態及び電気特性評価
グェンスァン チュン名大)・田岡紀之産総研)・大田晃生名大)・山田 永高橋言緒産総研)・池田弥央牧原克典名大)・清水三聡産総研)・宮崎誠一名大ED2017-61 CPM2017-104 LQE2017-74
SiH4とリモート酸素プラズマ用いたCVD(ROPE-CVD)によって形成したSiO2/GaN構造に対して、600から8... [more] ED2017-61 CPM2017-104 LQE2017-74
pp.61-64
CPM, LQE, ED
(共催)
2016-12-13
14:15
京都 京大桂キャンパス 室温原子層堆積法を用いた人工ゼオライト作製と色素増感太陽電池への応用
今井貴大三浦正範鹿又健作有馬 ボシール アハンマド久保田 繁廣瀬文彦山形大ED2016-77 CPM2016-110 LQE2016-93
ゼオライトはイオン吸着剤として工業的に広く利用されている。我々は室温原子層堆積法を用いてAl2O3とSiO2を人工的に複... [more] ED2016-77 CPM2016-110 LQE2016-93
pp.97-101
SDM 2016-06-29
14:10
東京 キャンパス・イノベーションセンター東京 XPSによるSiO2/半導体界面の電位変化およびダイポールの定量
藤村信幸大田晃生渡辺浩成牧原克典宮崎誠一名大SDM2016-40
X線光電子分光法において、価電子帯信号と二次光電子信号を組み合わせることで、SiO2、4H-SiC、およびSiの真空準位... [more] SDM2016-40
pp.43-47
SDM 2016-06-29
14:45
東京 キャンパス・イノベーションセンター東京 リモート酸素プラズマ支援CVDによる低温SiO2薄膜形成
グェンスァン チュン藤村信幸竹内大智大田晃生牧原克典池田弥央宮崎誠一名大SDM2016-41
SiH4と励起したAr希釈O2を用いたリモート酸素プラズマ支援CVD(O2-RPCVD)により水素終端したSi表面上にS... [more] SDM2016-41
pp.49-52
SDM 2015-06-19
11:10
愛知 名古屋大学 ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー [依頼講演]SiC/SiO2界面における窒素化学状態の結晶面方位依存性
森 大輔井上 慧寺西秀明広瀬隆之瀧川亜樹富士電機SDM2015-42
SiC(000-1)面(C面)、SiC(0001)面(Si面)それぞれのSiC/SiO2界面の原子構造を明らかにするため... [more] SDM2015-42
pp.21-26
SDM 2015-06-19
11:30
愛知 名古屋大学 ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー [依頼講演]SiO2/SiC MOS界面の欠陥特性に酸窒化処理が与える影響
竹内和歌奈名大)・山本建策デンソー)・坂下満男名大)・金村髙司デンソー)・中塚 理財満鎭明名大SDM2015-43
SiO2/4H-SiC界面特性に対するNOガス雰囲気熱処理の効果を調べた。NOガス雰囲気熱処理MOSキャパシタ試料の電気... [more] SDM2015-43
pp.27-30
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