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すべての研究会開催スケジュール (検索条件: すべての年度)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2023-02-28 16:15 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
A Novel High Performance Scan-Test-Aware Hardened Latch with Improved Soft Error Tolerability ○Ruijun Ma（AUST）・Stefan Holst・Xiaoqing Wen（KIT）・Hui Xu（AUST）・Aibin Yan（AU）  DC2022-91 |
[more] | DC2022-91 pp.51-55 |
| AP (第二種研究会) |
2022-12-08 14:05 |
沖縄 | 沖縄県名護市21世紀の森公園（名護市中央公民館） （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
球面走査法を用いたアンテナ一体型移動通信用基地局無線装置の利得測定方法に関する実験検討 ○井上祐樹・山本将司（NTTドコモ） |
第5世代移動通信システム(5G)の新たな無線規格NR (New Radio)では新たにアンテナと基地局無線装置(RU: ... [more] | |
| CS | 2022-07-14 13:10 |
鹿児島 | 屋久島環境文化村センター 第1～第3レクチャー室 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
ドローンのネットワークにおけるハンドオーバー時のチャネルスキャン方式の提案 ○平田 翔・設樂 勇（日本工大）・宇治川 智（鹿島建設）・平栗健史（日本工大） CS2022-20 |
ドローン等の移動通信局を使用して画像などのデータを収集するシステムや通信サービスの提供エリアを拡張するシステムなど，フレ... [more] | CS2022-20 pp.36-39 |
| DC | 2021-02-05 11:35 |
ONLINE | オンライン開催 | A Novel High Performance Scan-Test-Aware Hardened Latch Design ○Ruijun Ma・Stefan Holst・Xiaoqing Wen（KIT）・Aibin Yan（AHU）・Hui Xu（AUST） DC2020-71 |
[more] | DC2020-71 pp.12-17 |
| CPM | 2019-11-08 10:50 |
福井 | 福井大学 文京キャンパス | ［招待講演］界面顕微光応答法による金属／半導体、半導体／半導体界面の2次元評価 ○塩島謙次（福井大） CPM2019-51 |
埋もれた金属／半導体界面を非破壊で2次評価できる界面顕微光応答法を開発し、ワイドバンドギャップ半導体のショットキー接触、... [more] | CPM2019-51 pp.35-38 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2018-12-06 13:25 |
広島 | サテライトキャンパスひろしま | 論理BISTのテスト電力制御手法とTEG評価について ○加藤隆明（九工大）・王 森レイ（愛媛大）・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） VLD2018-57 DC2018-43 |
スキャンベースの論理BISTでは，過度のテスト時消費電力が問題となる．一方，電力削減は故障検出率向上及びテスト時間削減と... [more] | VLD2018-57 DC2018-43 pp.125-130 |
| ED, CPM, SDM (共催) |
2018-05-24 14:45 |
愛知 | 豊橋技科大VBL | Growth of high quality InSb channel layer with InxGa1-xSb heteroepitaxial films on Si(111) ○A. A. Mohammad Monzur-Ul-Akhir・Masayuki Mori・Koichi Maezawa（University of Toyama） ED2018-17 CPM2018-4 SDM2018-12 |
InSb has met the requirements of high-performance channel ma... [more] | ED2018-17 CPM2018-4 SDM2018-12 pp.15-18 |
| LQE, CPM, ED (共催) |
2017-11-30 16:15 |
愛知 | 名古屋工業大学 | 界面顕微光応答法によるn-GaN自立基板表面の波形モフォロジーの2次元評価 ○塩島謙次・橋爪孝典（福井大）・堀切文正・田中丈士（サイオクス）・三島友義（法政大） ED2017-55 CPM2017-98 LQE2017-68 |
GaN表面のモフォロジーがドリフト層の電気的特性に与える影響を界面顕微光応答法により評価した。MOCVD法により厚さ12... [more] | ED2017-55 CPM2017-98 LQE2017-68 pp.27-32 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2017-11-07 09:25 |
熊本 | くまもと県民交流館パレア | On Avoiding Test Data Corruption by Optimal Scan Chain Grouping ○Yucong Zhang・Stefan Holst・Xiaoqing Wen・Kohei Miyase・Seiji Kajihara（KIT）・Jun Qian（AMD） VLD2017-42 DC2017-48 |
[more] | VLD2017-42 DC2017-48 pp.91-94 |
| PEM (第二種研究会) |
2017-02-16 - 2017-02-17 |
兵庫 | 瑞宝園 | ボディスキャナの最新技術動向 ～ ボディスキャナの技術情報から、具体的な運用事例まで ～ ○関野敏正（ローデ・シュワルツ・ジャパン?） |
テロの脅威に備えて国土交通省を中心に普及が進むボディスキャナ。ボディスキャナとは空港や、原子力発電所等の入出ゲートで、全... [more] | |
| CPM, LQE, ED (共催) |
2016-12-12 13:25 |
京都 | 京大桂キャンパス | 界面顕微光応答法によるAu/Ni/n-GaNショットキー接触の電圧印加劣化の2次元評価 ○塩島謙次・村瀬真悟・前田昌嵩（福井大）・三島友義（法政大） ED2016-58 CPM2016-91 LQE2016-74 |
GaN自立基板上に形成した、Ni/n-GaNショットキー接触に電流値を制限した逆方向電圧ストレスを繰り返して印加し、劣化... [more] | ED2016-58 CPM2016-91 LQE2016-74 pp.5-8 |
| CQ | 2016-05-24 14:40 |
福岡 | 九州大学 | IEEE802.11無線LANにおける省電力機能のTCPスループットへの影響に関する実験的考察 ○小林健人・橋本善季・野元祐孝・山本 嶺・大坐畠 智・加藤聰彦（電通大） CQ2016-19 |
IEEE802.11無線LANおいては，定期的なアクセスポイントのスキャニング時に省電力機能が動作し, 通信の性能に影響... [more] | CQ2016-19 pp.39-44 |
| EMD, R (共催) |
2016-02-19 13:20 |
静岡 | あざれあ(静岡市) | ナノマニピュレーターを用いたコネクタ接点における接触構造と接触抵抗変化の挙動解析 ○豊泉 隼・大沼雅則・近藤貴哉（矢崎部品）・森 喜久男（矢崎総業）・清水哲夫・川端澄子・渡 邉 騎通（産総研） R2015-65 EMD2015-93 |
コネクタの小型化を実現するために、スズめっきの低接触荷重での接触現象を理解することがより重要になってきている。スズめっき... [more] | R2015-65 EMD2015-93 pp.1-6 |
| DC | 2016-02-17 10:25 |
東京 | 機械振興会館 | 論理パスとクロックパスを考慮した実速度スキャンテスト生成手法について ○李 富強・温 暁青・ホルスト シュテファン・宮瀬紘平・梶原誠司（九工大） DC2015-87 |
スキャンキャプチャ時に発生するIR-Dropは論理パスのみならず、クロックパスにも影響を与える。本稿では、論理パスとクロ... [more] | DC2015-87 pp.7-12 |
| NS, RCS (併催) |
2015-12-18 10:35 |
愛媛 | 松山市総合コミュニティセンター | 不要なアクセスポイント探索動作の削減によるスマートフォンの省電力化技術 ○原 靖（富士通研）・清水勇人・杉山敏彦・志田 勇（富士通） RCS2015-256 |
スマートフォンのユーザは、Wi-Fiを常にON状態で使用するとバッテリが消費されると考え、ユーザ自身でWi-FiのON/... [more] | RCS2015-256 pp.75-80 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2015-12-01 12:45 |
長崎 | 長崎県勤労福祉会館 | Scan Segmentation Approach to Magnify Detection Sensitivity for Tiny Hardware Trojan ○Fakir Sharif Hossain・Tomokazu Yoneda・Michiko Inoue（NAIST） VLD2015-38 DC2015-34 |
[more] | VLD2015-38 DC2015-34 pp.1-6 |
| LQE, ED, CPM (共催) |
2014-11-28 13:40 |
大阪 | 大阪大学 吹田キャンパス 理工学図書館 | 界面顕微光応答法によるAu/Ni/n-GaNショットキー接触の熱劣化過程の2次元評価 ○塩島謙次・山本晋吾・木原雄平（福井大） ED2014-91 CPM2014-148 LQE2014-119 |
金属/半導体界面の電気的特性を二次元評価できる界面顕微光応答法を開発し、Au /Ni / n-GaNショットキー接触の熱... [more] | ED2014-91 CPM2014-148 LQE2014-119 pp.85-90 |
| MRIS, ITE-MMS (連催) |
2014-11-25 15:45 |
東京 | 早稲田大学 | 非線形誘電率顕微法を用いた超高密度PZT薄膜材料記録に関する研究 ○陳 一桐・平永良臣・長 康雄（東北大） MR2014-26 |
[more] | MR2014-26 pp.17-22 |
| AP, RCS (併催) |
2014-11-13 15:05 |
山形 | 山形大 米沢キャンパス | ワッフル導波路による光漏れ波アンテナ 新井宏之・○森元陽大（横浜国大） AP2014-144 |
本稿では，ビーム走査型光通信用アンテナとしてワッフル導波路による光漏れ波アンテナを検討する．シリコン導波路にワッフル状に... [more] | AP2014-144 pp.87-92 |
| DC | 2014-06-20 14:05 |
東京 | 機械振興会館 | 低キャプチャ電力スキャンテスト生成のためのX埋め込み手法 ○李 富強・温 暁青・宮瀬紘平・ホルスト シュテファン・梶原誠司（九工大） DC2014-12 |
低キャプチャ電力のスキャンテストパターンを生成するため，セルの実効電圧降下 （IR-Drop）との関わりの強いローカル... [more] |
DC2014-12 pp.15-20 |
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