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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| SDM | 2020-10-22 15:50 |
ONLINE | オンライン開催 | 統計的計測によるドレイン-ソース間電圧がランダムテレグラフノイズに与える影響の解析 ○秋元 瞭・黒田理人（東北大）・寺本章伸（広島大）・間脇武蔵・市野真也・諏訪智之・須川成利（東北大）  SDM2020-21 |
本研究では, 長方形と台形のゲートを有する, 各11520個のトランジスタのランダムノイズ特性を測定し, 振幅や時定数と... [more] | SDM2020-21 pp.34-39 |
| SDM | 2018-10-18 14:00 |
宮城 | 東北大学未来情報産業研究館５Ｆ | ソースとドレインが非対称のMOSFETを用いた電気的特性ばらつきの統計的解析 ○市野真也・寺本章伸・黒田理人・間脇武蔵・諏訪智之・須川成利（東北大） SDM2018-62 |
高精度アナログデバイス回路の実現に支障をきたす，しきい値電圧ばらつきやランダムテレグラフノイズ（RTN）といったMOSト... [more] | SDM2018-62 pp.51-56 |
| SDM | 2017-10-26 14:00 |
宮城 | 東北大学未来研 | 高精度アレイテスト回路計測技術を用いたソースフォロアトランジスタの動作条件変化によるランダムテレグラフノイズの挙動解析 ○市野真也・間脇武蔵・寺本章伸・黒田理人・若嶋駿一・須川成利（東北大） SDM2017-60 |
CMOSイメージセンサ（CIS）の画素内ソースフォロアトランジスタ（SF）で発生するランダムテレグラフノイズ（RTN）に... [more] | SDM2017-60 pp.57-62 |
| SDM, ICD (共催) |
2015-08-25 09:30 |
熊本 | 熊本市 | ［招待講演］低電力混載ReRAM技術 ○植木 誠・田辺 昭・砂村 潤・成廣 充・上嶋和也・増﨑幸治・古武直也・満生 彰・武田晃一・長谷 卓・林 喜宏（ルネサス エレクトロニクス） SDM2015-65 ICD2015-34 |
低電力MCU向けの不揮発メモリーとしてスケーラブルなReRAM素子（活性領域は0.009um2）から成る 2MbのReR... [more] | SDM2015-65 ICD2015-34 pp.41-46 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-26 15:35 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | RTNを考慮したSRAM不良確率の高速計算 ○粟野皓光・廣本正之・佐藤高史（京大） VLD2014-74 DC2014-28 |
本研究ではRandom Telegraph Noise（RTN）がStatic Random Access Memory... [more] | VLD2014-74 DC2014-28 pp.15-20 |
| SDM | 2014-10-17 13:00 |
宮城 | 東北大学未来研 | ［招待講演］電子捕獲履歴現象を利用したナノスケールMOSFETにおける多値ランダムテレグラフノイズの解析 ○土屋敏章（島根大） SDM2014-92 |
ランダムテレグラフノイズ（RTN）に関与している酸化膜トラップにおける電子捕獲履歴現象を利用し，RTNを解析する新たな手... [more] | SDM2014-92 pp.47-54 |
| SDM | 2014-10-17 13:50 |
宮城 | 東北大学未来研 | MOSFETにおけるランダムテレグラフノイズを引き起こすトラップ密度の解析に関する研究 ○小原俊樹・寺本章伸・黒田理人・米澤彰浩・後藤哲也・諏訪智之・須川成利・大見忠弘（東北大） SDM2014-93 |
アレイテスト回路を使用することで多数のサンプルにおいて,2準位以上のRandom Telegraph Noise(RTN... [more] | SDM2014-93 pp.55-59 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2011-11-28 16:30 |
宮崎 | ニューウェルシティ宮崎 | ランダムテレグラフノイズモデル化のためのパラメータ推定法の検討 ○粟野皓光・清水裕史・筒井 弘・越智裕之・佐藤高史（京大） VLD2011-66 DC2011-42 |
ランダムテレグラフノイズ (Random Telegraph Noise: RTN) は微細デバイスの信頼性や回路特性に... [more] | VLD2011-66 DC2011-42 pp.85-90 |
| SDM | 2011-10-20 13:30 |
宮城 | 東北大学未来研 | ［招待講演］完全空乏型SOI MOSFETにおける特性ばらつきとランダムテレグラフノイズ ○平本俊郎（東大） SDM2011-97 |
イントリンジックチャネル完全空乏型(FD) SOI MOSFETの統計的性質を実測し，従来のバルクMOSトランジスタと比... [more] | SDM2011-97 pp.1-4 |
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