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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| CPM, ED, EID, SDM, ICD, MRIS, SCE, OME, EMD (共催) QIT (併催) [詳細] |
2018-03-08 15:15 |
静岡 | 東レ総合研修センター | 微摺動機構を用いた電気接点の劣化現象 ～ いくつかの実験条件下における最小摺動振幅に関連した入力波形の比較4 ～ ○越田圭治・和田真一（TMCシステム）・澤 孝一郎（日本工大）  EMD2017-75 MR2017-46 SCE2017-46 EID2017-48 ED2017-120 CPM2017-140 SDM2017-120 ICD2017-125 OME2017-69 |
著者らは，振動下における電気接点の劣化現象に関する検討を行ってきた．また，ピエゾ・アクチュエータと弾性ヒンジを用いた微摺... [more] | EMD2017-75 MR2017-46 SCE2017-46 EID2017-48 ED2017-120 CPM2017-140 SDM2017-120 ICD2017-125 OME2017-69 pp.15-20 |
| EMD | 2012-05-25 14:20 |
宮城 | 東北文化学園大 | ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ～ 接触抵抗とそのモデル (21) ～ ○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン・益田直樹・石黒 明・柳 国男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（日本工大） EMD2012-3 |
著者らは，電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を検討してきた．本論文... [more] | EMD2012-3 pp.13-18 |
| EMD | 2012-01-20 13:35 |
神奈川 | レンタルホール湘南平塚 | ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ～ 接触抵抗とそのモデル (20) ～ ○和田真一・越田圭治・川述真裕・サインダー ノロブリン・益田直樹・石黒 明・柳 国男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（日本工大） EMD2011-112 |
著者らは，電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検... [more] | EMD2011-112 pp.1-6 |
| EMD | 2011-12-16 13:55 |
東京 | 日本工業大学 神田キャンパス | ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ～ 接触抵抗とそのモデル (19) ～ ○和田真一・サインダー ノロブリン・越田圭治・川述真裕・益田直樹・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（日本工大） EMD2011-108 |
著者らは，電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検... [more] | EMD2011-108 pp.11-16 |
| EMD | 2011-11-18 16:15 |
秋田 | 秋田大学 手形キャンパス | Degradation Phenomenon of Electrical Contacts using a Micro-Sliding Mechanism
-- Minimal Sliding Amplitudes estimated under some conditions by the Mechanism (18) -- ○Shin-ichi Wada・Keiji Koshida・Masahiro Kawanobe・Saindaa Norovling・Naoki Masuda・Akira Ishiguro・Kunio Yanagi・Hiroaki Kubota（TMC System）・Koichiro Sawa（Nippon Inst. of Tech.） EMD2011-102 |
Authors have developed the mechanism which gives damping vib... [more] | EMD2011-102 pp.189-194 |
| NLP | 2011-03-11 16:35 |
東京 | 東京理科大学森戸記念館 | いくつかの加振機構による電気接点の劣化現象に関する研究 ～ 接触抵抗変動のモデリング ～ ○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン・川述真裕・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・池口 徹（埼玉大）・堀尾喜彦（東京電機大）・澤 孝一郎（日本工大） NLP2010-196 |
著者らは，電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検... [more] | NLP2010-196 pp.187-192 |
| EMD | 2011-01-28 15:40 |
東京 | 日本航空電子工業株式会社 | タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ～ タッピング・デバイスの試作(1) ～ ○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン・川述真裕・石塚大貴・柳 国男・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・久我宣裕（横浜国大）・澤 孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） EMD2010-141 |
著者らは，ハンマリング加振機構(HOM)，摺動接触機構(SCM)，および３次元加振機構(3DOM)によって外部微小振動が... [more] | EMD2010-141 pp.35-40 |
| SP | 2010-11-18 11:00 |
愛知 | 愛知県立大学 | 左右の梨状窩の音響的相互作用 ○竹本浩典（NICT）・足立整治（Fraunhofer institute）・Parham Mokhtari（NICT）・北村達也（甲南大） SP2010-70 |
声道伝達関数における左右の梨状窩に由来する2つの零点の周波数は，どちらの梨状窩の共鳴周波数とも一致しない．これは左右の梨... [more] | SP2010-70 pp.7-12 |
| EMD | 2010-11-12 13:15 |
海外 | 西安交通大学（中国、西安） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象の研究 ～ モデリング (10) ～ ○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（日本工大） EMD2010-111 |
[more] | EMD2010-111 pp.185-188 |
| EMD, OPE, LQE, CPM (共催) |
2010-08-26 09:20 |
北海道 | 千歳アルカディアプラザ | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 加振機構のモデリング（9） ～ ○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（日本工大） EMD2010-26 CPM2010-42 OPE2010-51 LQE2010-24 |
電気接点に実用的振動を与えうるハンマリング加振機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してき... [more] | EMD2010-26 CPM2010-42 OPE2010-51 LQE2010-24 pp.1-6 |
| EMD | 2010-05-21 14:50 |
秋田 | 秋田大学 | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 加振機構のモデリング（その8） ～ ○和田真一・越田圭治・園田健人・サインダー ノロブリン・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（日本工大） EMD2010-4 |
電気接点に実用的振動を与えうるハンマリング加振機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してき... [more] | EMD2010-4 pp.19-24 |
| EMD, R (共催) |
2010-02-19 12:35 |
大阪 | パナソニック「松心会館」 | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 加振機構のモデリング(その7) ～ ○和田真一・越田圭治・園田健人・サインダー ノロブリン・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） R2009-50 EMD2009-117 |
電気接点に実用的振動を与えうるハンマリング加振機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してき... [more] | R2009-50 EMD2009-117 pp.1-6 |
| EMD | 2010-01-22 14:20 |
神奈川 | レンタルホール湘南平塚 | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 接触抵抗（その11） ～ 和田真一・○サインダー ノロブリン・園田健人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（日本工大） EMD2009-114 |
著者らは，鉛直方向のハンマリング加振によって電気接点に実用的な振動を与える機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を... [more] | EMD2009-114 pp.11-16 |
| EMD | 2009-10-30 15:40 |
東京 | 富士通川崎工場 岡田記念ホール | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 加振機構のモデリング(その5) ～ 和田真一・○越田圭治・園田健人・サインダー ノロブリン・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（慶大） EMD2009-64 |
電気接点に実用的振動を与えうるハンマリング加振機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してき... [more] | EMD2009-64 pp.33-38 |
| OPE, EMD, CPM, LQE (共催) |
2009-08-21 17:05 |
宮城 | 東北大学 | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 接触抵抗について(その7) ～ ○和田真一・園田健人・越田圭治・サインダー ノロブリン・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（慶大） EMD2009-58 CPM2009-82 OPE2009-106 LQE2009-65 |
著者らは，鉛直方向においてハンマリング加振機構によって電気接点に対する微小振動が接触抵抗に与える影響を検討した．ハンマリ... [more] | EMD2009-58 CPM2009-82 OPE2009-106 LQE2009-65 pp.169-174 |
| EMD | 2009-07-17 13:30 |
北海道 | 千歳アルカディア・プラザ | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 加振機構のモデリング(その4) ～ ○和田真一・越田圭治・園田健人・サインダー ノロブリン・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（慶大） EMD2009-21 |
電気接点に実用的振動を与えうるハンマリング加振機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してき... [more] | EMD2009-21 pp.1-6 |
| CPM, EMD, OME (共催) |
2009-06-19 16:20 |
東京 | 機械振興会館 | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 接触抵抗について(その6) ～ 和田真一・○園田健人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（慶大） EMD2009-19 CPM2009-31 OME2009-26 |
著者らは，鉛直方向のハンマリング加振機構及び摺動接触機構によって電気接点における微小振動が接触抵抗に与える影響を検討した... [more] | EMD2009-19 CPM2009-31 OME2009-26 pp.27-32 |
| EMD, EMCJ (共催) |
2009-05-22 10:00 |
東京 | 日本工業大学 神田キャンパス | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 接触抵抗について(その5) ～ 和田真一・○園田健人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（慶大） EMCJ2009-10 EMD2009-2 |
著者らは，鉛直方向のハンマリング加振によって電気接点に実用的な振動を与える機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を... [more] | EMCJ2009-10 EMD2009-2 pp.7-13 |
| EMD, R (共催) |
2009-02-20 13:20 |
三重 | 住友電装本社 | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 接触抵抗について(その4) ～ ○和田真一・園田健人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（慶大） R2008-50 EMD2008-126 |
著者らは，電気接点に実用的振動を与えうる加振機構を開発し，総回数約4200万回の実験を行った．開始後，接触抵抗値が上昇し... [more] | R2008-50 EMD2008-126 pp.37-42 |
| EMD | 2009-01-23 15:20 |
神奈川 | ゆとりうむ日立（横浜） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 接触抵抗について(その3) ～ 和田真一・○園田健人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（慶大） EMD2008-116 |
著者らは，電気接点に実用的振動を与えうる加振機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討し，さら... [more] | EMD2008-116 pp.15-20 |
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