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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| R | 2024-02-29 17:10 |
島根 | 松江テルサ | Wiener過程とジャンプ拡散過程を考慮した深層学習に基づくOSS信頼性評価法に関する適合性比較 ○田村慶信・宮本翔一郎・周 蕾（山口大）・山田 茂（鳥取大）  R2023-63 |
多くの分野において，深層学習に基づく研究が行われている．本論文では，フォールトビッグデータを活用した深層学習に基づく信頼... [more] | R2023-63 pp.46-51 |
| R | 2023-07-28 15:30 |
北海道 | 札幌市エレクトロニクスセンター 会議室B+C （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
Wiener過程を考慮したデータの前処理に基づくOSS信頼性評価のための深層学習アプローチ ○田村慶信（山口大）・山田 茂（鳥取大） R2023-16 |
オープンソースソフトウェアにおいて，バグトラッキングシステムのようなデータベースシステムを利用した開発・管理は一般的に行... [more] | R2023-16 pp.33-38 |
| R | 2020-10-16 13:25 |
ONLINE | オンライン開催 | OSSに対するディープラーニングに基づくEVMによる進捗管理手法と適合性評価 ○多田幸二郎・田村慶信（東京都市大）・山田 茂（鳥取大） R2020-20 |
現在，多くのオープンソースソフトウェアが開発されている．その一方で，世界中の人々が様々な環境下でオープンソースプロジェク... [more] | R2020-20 pp.7-12 |
| HWS, VLD (共催) [詳細] |
2020-03-06 14:30 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 （開催中止，技報発行あり） |
パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法 ○山崎紘史・石山悠太・松田竜馬・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） VLD2019-131 HWS2019-104 |
従来，VLSIのテストでは，縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた．しかしながら，半導体微細化技術の進展に伴... [more] | VLD2019-131 HWS2019-104 pp.215-220 |
| PN | 2020-03-02 13:55 |
鹿児島 | 奄美市社会福祉センター （開催中止，技報発行あり） |
［招待講演］OPEN PHOTONICS NETWORKの実現に向けた、リアルタイム線路監視システムの改善 ○松本悠平・新谷和則・谷田部 漠・小熊健史（NEC） PN2019-55 |
光ネットワークのオープン化に伴い，ネットワークインフラの保守・障害対応が複雑化していくことが運用上の課題となる．特にマル... [more] | PN2019-55 pp.13-17 |
| CS, CAS (共催) |
2020-02-27 11:45 |
熊本 | 崇城大学 | 3D-ICにおける電源TSVの抵抗性オープン故障の検出手法 ○蜂屋孝太郎（帝京平成大）・黒川 敦（弘前大） CAS2019-104 CS2019-104 |
電源マイクロ・バンプ間の抵抗を測定することにより電源TSVの抵抗性オープン故障を検出する方法を提案する． 従来の電源T... [more] |
CAS2019-104 CS2019-104 pp.37-41 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2019-03-18 09:00 |
鹿児島 | 西之表市民会館（種子島） | 最大充足化問題を用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法 ○山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） CPSY2018-117 DC2018-99 |
従来，VLSIのテストでは，縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた．しかしながら，半導体微細化技術の進展に伴... [more] | CPSY2018-117 DC2018-99 pp.315-320 |
| PN | 2019-03-14 13:40 |
沖縄 | 宮古島 平良港ターミナルビル 大研修室 | OPEN PHOTONICS NETWORKの実現に向けた、リアルタイム線路監視システムの提案 ○松本悠平・新谷和則・谷田部 漠・小熊健史（NEC） PN2018-84 |
光ネットワークのオープン化に伴い、ネットワークインフラの保守・障害対応が複雑化していくことが運用上の課題となる。特にマル... [more] | PN2018-84 pp.9-12 |
| ICM | 2018-03-09 09:20 |
沖縄 | 沖縄青年会館 | クラウド環境に適したテレコムアプリケーションの構成に関する考察 ○肥留間祐太・田村宏直・中島佳宏・鈴木啓介・深江誠司（NTTドコモ） ICM2017-65 |
テレコム業界では，柔軟性、耐障害性などの向上やOpex/Capexの削減を目指し，移動体通信網におけるNFVの検討が進め... [more] | ICM2017-65 pp.55-59 |
| DC | 2018-02-20 09:30 |
東京 | 機械振興会館 | 2パターンテストにおける重み付き故障カバレージに関する一考察 ○新井雅之（日大）・岩崎一彦（首都大東京） DC2017-77 |
半導体製造技術の微細化・高集積化に伴い，欠陥レベルの事前見積り値と実製品に対する値との乖離が問題となっている．著者らは，... [more] | DC2017-77 pp.1-6 |
| DC | 2017-12-15 15:05 |
秋田 | 放送大学秋田学習センター | ビアオープン故障を考慮した重み付き故障カバレージに関する検討 ○小林泰生・岩崎一彦（首都大東京） DC2017-74 |
クリティカルエリアに基づく重み付き故障カバレージを用いて出荷VLSIチップの欠陥レベルを低減させる手法が提案されている．... [more] | DC2017-74 pp.31-36 |
| SS, KBSE (共催) IPSJ-SE (連催) [詳細] |
2017-07-19 16:25 |
北海道 | 函館コミュニティプラザ | Javaソースファイルの開発者数とバグ修正の起こりやすさに関する調査 ～ ソースファイル間の依存関係に着目した解析 ～ ○山内一輝・阿萬裕久・川原 稔（愛媛大） SS2017-12 KBSE2017-12 |
本稿では，ソースファイルの開発に携わっている人数がコード品質に及ぼす影響に着目し，``一人で開発・保守されているソースフ... [more] | SS2017-12 KBSE2017-12 pp.67-72 |
| NS, IN (併催) |
2017-03-03 11:40 |
沖縄 | 沖縄残波岬ロイヤルホテル | 仮想化ネットワーク適用に向けたホワイトボックススイッチ制御用ソフトウェアの実装 ○熊川成正・入野仁志・高橋 賢・岩井隆典・吉岡弘高（NTT） NS2016-195 |
キャリヤネットワークにおいてより柔軟な転送基盤を提供するため，任意のソフトウェアで制御可能なホ ワイトボックススイッチ... [more] |
NS2016-195 pp.217-222 |
| VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-30 09:00 |
大阪 | 立命館大学大阪いばらきキャンパス | 重み付き故障カバレージに基づくテストパターン並替えの高速化手法 ○犬山慎吾・岩崎一彦（首都大東京）・新井雅之（日大） VLD2016-61 DC2016-55 |
半導体製造技術の微細化，高集積化に伴い，欠陥レベルの事前見積り値と実製品に対する値の乖離が問題となっている．著者らは，ク... [more] | VLD2016-61 DC2016-55 pp.99-104 |
| R | 2016-07-29 13:55 |
北海道 | 小樽経済センター（4階Aホール） | オープンソースソフトウェアに対するフォールトデータ分析ツールの開発 ○田村慶信・芦田 哲（山口大）・松本光穂・山田 茂（鳥取大） R2016-14 |
現在，様々なオープンソースソフトウェアが世界中で開発されており，その多くがバグトラッキングシステムにより管理されている．... [more] | R2016-14 pp.7-12 |
| DC | 2016-02-17 10:50 |
東京 | 機械振興会館 | 論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減 ○藤谷和依・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大） DC2015-88 |
半導体プロセスの微細化に伴って，配線およびビアの断線故障が増加している．断線故障は故障線論理値を隣接線間容量によって制御... [more] | DC2015-88 pp.13-18 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2015-12-01 14:40 |
長崎 | 長崎県勤労福祉会館 | 隣接線の信号遷移による遅延変動を用いる半断線故障の判別法について ○伊勢幸太郎・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大） VLD2015-42 DC2015-38 |
IC 内で発生する半断線故障は抵抗成分を持ち,故障の影響は微小遅延として顕在化する.また,トランジスタのばらつきの影響に... [more] | VLD2015-42 DC2015-38 pp.31-36 |
| SDM, EID (共催) |
2014-12-12 11:15 |
京都 | 京都大学 | エレクトロルミネッセンス（EL）発光強度を用いたシリコン太陽電池モジュールの機能解析 ○富本剛史・都築翔太・谷 あゆみ（奈良先端大） EID2014-18 SDM2014-113 |
太陽光発電モジュールの評価において、電圧を印加し発光強度の濃淡を撮像することで欠陥を発見できるエレクトロルミネッセンスイ... [more] | EID2014-18 SDM2014-113 pp.25-29 |
| SS | 2014-10-23 15:15 |
高知 | 高知市文化プラザかるぽーと | リポジトリシステムとソフトウェア信頼性モデルを用いた欠陥数予測 ○本田 澄・鷲崎弘宜・深澤良彰（早大） SS2014-27 |
ソフトウェアの欠陥はリポジトリシステムによって管理されることが多くなっており，開発からテストとい ったソフトウェア開発... [more] |
SS2014-27 pp.13-16 |
| NS, CS, IN (併催) |
2013-09-13 09:45 |
宮城 | 東北大学 電気通信研究所 2号館 | OpenFlowを利用したIPレイヤのマルチパスによる通信の高信頼化 ○栗原公紀・鈴本 悟・蔭山佳輝（東芝） CS2013-36 |
クラウド環境の普及に伴い，従来は独自仕様のネットワークや狭い範囲でのIPネットワークで閉じていた社会インフラ事業などにお... [more] | CS2013-36 pp.37-42 |
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