| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 研究会 開催スケジュール |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
すべての研究会開催スケジュール (検索条件: すべての年度)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM (連催) (併催) [詳細] |
2021-12-01 14:20 |
ONLINE | オンライン開催 | デュアルモードSAR ADCを用いた電源ノイズ解析攻撃の検知手法の考案 ○弘原海拓也・三木拓司・永田 真（神戸大）  VLD2021-30 ICD2021-40 DC2021-36 RECONF2021-38 |
IoT機器が悪意のある攻撃者の標的として脅威に晒されている。そこで、電源ラインに対する意図的な機器挿入に起因するインピー... [more] | VLD2021-30 ICD2021-40 DC2021-36 RECONF2021-38 pp.78-82 |
| VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM (連催) (併催) [詳細] |
2021-12-01 14:45 |
ONLINE | オンライン開催 | オンチップモニタを用いたダイナミック電圧ドロップ診断 ○門田和樹（神戸大）・レオニダス カタセラス（アリストトゥル大）・フェレンク フォーダー（IMEC）・アルキス ハッツォプーロス（アリストトゥル大）・永田 真（神戸大）・エリック ヤン マリニッセン（IMEC） VLD2021-31 ICD2021-41 DC2021-37 RECONF2021-39 |
オンチップモニタ回路(OCM)を用いる事により、電源レギュレータモジュール(µVRM)により区切られた電源ドメイン内のダ... [more] | VLD2021-31 ICD2021-41 DC2021-37 RECONF2021-39 pp.83-86 |
| HWS, ICD (共催) [詳細] |
2021-10-19 14:20 |
ONLINE | オンライン開催 | オンチップセンサを用いた線路上のハードウェアトロージャン検知に関する基礎検討 ○西鳥羽 陽・鍛治秀伍（奈良先端大）・衣川昌宏（福知山公立大）・藤本大介・林 優一（奈良先端大） HWS2021-48 ICD2021-22 |
機器周辺の接続線路にハードウェアトロージャン(Hardware Trojan, HT)を挿入し、情報漏えいを引き起こす脅... [more] | HWS2021-48 ICD2021-22 pp.38-42 |
| SDM, ICD (共催) ITE-IST (連催) [詳細] |
2019-08-09 12:00 |
北海道 | 北海道大学 情報科学院 3F A31 | 磁性体を利用したディジタルICチップノイズ対策手法の評価 ○地家幸佑・渡邊 航・田中 聡・三浦典之・永田 真（神戸大）・高橋昭博・宮澤安範・山口正洋（東北大） SDM2019-49 ICD2019-14 |
ディジタル集積回路(IC)チップが発生させる放射ノイズ対策手法として、磁性体の利用が提案されている。磁性体の性質には周波... [more] | SDM2019-49 ICD2019-14 pp.79-83 |
| EST | 2019-05-17 14:40 |
愛知 | 名古屋工業大学 | シリコン基板へのH/Heイオン照射による損失低減と比誘電率の変化 ○平野拓一（東京都市大）・水野麻弥（NICT）・李 寧（上智大）・井上 剛・曽我部正嗣（住重アテックス）・岡田健一（東工大） EST2019-5 |
高周波電磁界のCMOSシリコン(Si)基板での損失を低減するために水素(H)またはヘリウム(He)のイオンを照射する技術... [more] | EST2019-5 pp.19-23 |
| SDM, ICD (共催) ITE-IST (連催) [詳細] |
2018-08-07 16:45 |
北海道 | 北海道大学大学院情報科学研究科 M棟M151 | FPGA搭載プロセッサのダイ温度からの消費電力推定 ○金子博昭・金杉昭徳（東京電機大） SDM2018-35 ICD2018-22 |
組込みシステム応用向けで1Wを下回る消費電力のプロセッサについて熱管理を支える温度感知の重要性が増している．本稿ではFP... [more] | SDM2018-35 ICD2018-22 pp.53-58 |
| VLD, HWS (併催) |
2018-03-02 11:20 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | 選択的活性化によるスタンダードセルメモリの低消費エネルギー化 ○塩見 準・石原 亨・小野寺秀俊（京大） VLD2017-124 |
オンチップメモリは集積回路のエネルギー効率に大きな影響を与える．本稿では，スタンダードセルメモリ(Standard-Ce... [more] | VLD2017-124 pp.211-216 |
| VLD | 2017-03-02 09:25 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | FiCC:高集積向け耐クロストークノイズメタルフリンジキャパシタ ○宮川尚之・木村知也・越智裕之（立命館大） VLD2016-109 |
本稿では，メタルフリンジキャパシタの一種であるFishbone-in-Cage Capacitor (FiCC) を提案... [more] | VLD2016-109 pp.43-47 |
| CPSY, RECONF, VLD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2014-01-29 15:40 |
神奈川 | 慶応義塾大学 日吉キャンパス | オンチップリークモニタ回路を用いたNBTI測定手法の提案と有効性 ○佐藤貴晃・宇佐美公良（芝浦工大） VLD2013-131 CPSY2013-102 RECONF2013-85 |
近年の微細化によって、トランジスタの経年劣化現象がLSIの正常動作を妨げる要因として顕著になってきている。そのため、この... [more] | VLD2013-131 CPSY2013-102 RECONF2013-85 pp.173-178 |
| ICD, SDM (共催) |
2012-08-02 14:40 |
北海道 | 札幌市男女共同参画センター | 三次元積層LSIチップにおける基板ノイズの層間評価 ○高木康将・荒賀佑樹・永田 真（神戸大）・Geert Van der Plas・Jaemin Kim・Nikolaos Minas・Pol Marchal・Michael Libois・Antonio La Manna・Wenqi Zhang・Julien Ryckaert・Eric Beyne（IMEC） SDM2012-72 ICD2012-40 |
TSV を用いた三次元積層LSI チップを試作し、チップ内部のノイズ伝播を評価した。この試作チップは上層・下層の２層から... [more] | SDM2012-72 ICD2012-40 pp.49-54 |
| DC | 2012-06-22 13:25 |
東京 | 機械振興会館 | 組み込み遅延測定回路を用いた時分割オンチップパス遅延測定のための入力系列データ量削減の1手法 ○加藤健太郎（鶴岡高専） DC2012-10 |
時分割遅延測定法は，オンチップ遅延測定の測定時間短縮に有効である．しかしながらこの手法はスキャン入力系列以外に測定パスを... [more] | DC2012-10 pp.7-13 |
| EMCJ | 2012-04-20 14:45 |
石川 | 金沢大学角間キャンパス | LSIチップ上に集積化した磁性薄膜電磁ノイズ抑制体のイントラデカップリング効果 ○室賀 翔・小舘 航・遠藤 恭・山口正洋（東北大） EMCJ2012-6 |
本研究では，薄膜電磁ノイズ抑制体の誘導性結合を評価するため，IEC規格で定められたノイズ抑制シートの評価方法に基づいた測... [more] | EMCJ2012-6 pp.31-36 |
| ICD | 2011-12-16 15:25 |
大阪 | 大阪大学会館 | ［招待講演］VLSIチップの電源ノイズ ～ シリコン基板から電磁環境まで ～ ○永田 真（神戸大） ICD2011-131 |
VLSIチップの電源ノイズに関して、チップ・パッケージ・ボードの協調統合解析法およびオンチップ・モニタによる観測手段につ... [more] | ICD2011-131 pp.143-148 |
| ICD, ITE-IST (連催) |
2011-07-22 09:25 |
広島 | 広島工業大学 | リング型バッファチェインとリングオシレータの共有構造を用いた完全デジタル型PMOS/NMOSプロセスばらつきモニタ回路 ○飯塚哲也・浅田邦博（東大） ICD2011-26 |
本論文ではリング型バッファチェインとリングオシレータを共有した構造を持つオンチッププロセスばらつきモニタ回路を提案する。... [more] | ICD2011-26 pp.63-68 |
| ICD | 2010-12-16 13:00 |
東京 | 東京大学 先端科学技術研究センター | ［招待講演］信号線・電源線ノイズのオンチップ測定と測定結果に基づいた特性の解析 ～ 学位取得までの道のりを振り返って ～ ○小笠原泰弘（ルネサス エレクトロニクス） ICD2010-98 |
本稿では信号線のノイズの問題として誘導性クロストークノイズの問題について述べる．90nm プロセスにおける誘導性クロスト... [more] | ICD2010-98 pp.19-24 |
| ICD | 2010-12-16 15:10 |
東京 | 東京大学 先端科学技術研究センター | ［ポスター講演］電源ノイズに注目した電源遮断法の実機評価 ○高井康充・橋本昌宜・尾上孝雄（阪大） ICD2010-109 |
本稿では，電源遮断構造の電源ノイズへの影響について，65nmプロセスで試作したテストチップの測定とシミュレーションより評... [more] | ICD2010-109 pp.75-80 |
| ICD, ITE-IST (共催) |
2009-10-01 10:00 |
東京 | キャンパス・イノベーションセンター東京（田町） | マイクロプロセッサにおける基板ノイズの評価と解析 ○坂東要志（神戸大）・小坂大輔（エイアールテック）・横溝剛一・坪井邦彦（半導体理工学研究センター）・Ying Shiun Li・Shen Lin（Apache）・永田 真（神戸大/エイアールテック） ICD2009-35 |
SoC をターゲットとした電源・基板雑音の統合解析手法について、90nm CMOS 技術によるマイクロプロセッサ・チップ... [more] | ICD2009-35 pp.11-14 |
| CPM, ICD (共催) |
2008-01-17 14:30 |
東京 | 機械振興会館 | ［特別招待講演］1mV電圧分解能・5ns時間分解能のオンチップ電源電圧変動モニタリング技術の提案 ○菅野雄介・近藤雄樹（日立）・入田隆宏・廣瀬健志・森 涼・安 義彦（ルネサステクノロジ）・小松成亘・水野弘之（日立） CPM2007-136 ICD2007-147 |
SoCが動作中の電源ノイズ分布を測定するためのオンチップ電源電圧変動モニタ技術を開発した。本方式は、チップ内のローカルな... [more] | CPM2007-136 ICD2007-147 pp.47-52 |
| ICD, CPM (共催) |
2007-01-18 10:55 |
東京 | 機械振興会館 | ダイナミック電源雑音波形を考慮したデジタル信号遅延変動解析 ○深澤光弥・永田 真（神戸大） |
本稿では，180-nm CMOSデジタル回路に100-ps/100-$mu$Vの分解能を持つ高精度オンチップ波形検出回路... [more] | CPM2006-133 ICD2006-175 pp.25-29 |
| ICD, ITE-IST (共催) |
2006-07-27 12:00 |
静岡 | 静岡大学(浜松キャンパス内) | オンチップマルチチャネル信号モニタを用いたチップ内部信号測定システムの構築 ○橋田拓志・野口宏一朗・永田 真（神戸大） |
本研究では、オンチップマルチチャネルモニタシステムを利用したミックストシ グナルLSIテスト環境の構築を目指し、汎用F... [more] |
ICD2006-64 pp.23-28 |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]