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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2019-02-27
14:05
東京 機械振興会館 マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFFトグル制御ポイントの選択法
青野智己Hanan T.Al-Awadhi王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクス
車載システムの機能安全を保証するためには,システムの起動時にテストを実行するパワーオンセルフテスト(POST)が必要とな... [more] DC2018-79
pp.49-54
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2018-12-06
13:25
広島 サテライトキャンパスひろしま 論理BISTのテスト電力制御手法とTEG評価について
加藤隆明九工大)・王 森レイ愛媛大)・佐藤康夫梶原誠司九工大
スキャンベースの論理BISTでは,過度のテスト時消費電力が問題となる.一方,電力削減は故障検出率向上及びテスト時間削減と... [more] VLD2018-57 DC2018-43
pp.125-130
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2017-11-07
09:00
熊本 くまもと県民交流館パレア スキャンベース論理BISTにおけるマルチサイクルテストの中間観測FF選出手法について
大島繁之加藤隆明九工大)・王 森レイ愛媛大)・佐藤康夫梶原誠司九工大
論理BISTにおける故障検出率向上のために,マルチサイクルテストにおけるフリップフロップ(FF)値の中間観測手法が提案さ... [more] VLD2017-41 DC2017-47
pp.85-90
DC 2015-02-13
16:00
東京 機械振興会館 マルチサイクルキャプチャテスト集合を用いた単一論理故障の故障診断法の評価
高野秀之山崎紘史細川利典日大)・山崎浩二明大
スキャンテストのテスト品質を向上させる手法としてマルチサイクルキャプチャテストが提案されている.しかしながら,マルチサイ... [more] DC2014-86
pp.49-54
DC 2014-06-20
14:30
東京 機械振興会館 低電力BIST手法におけるキャプチャ電力のTEG評価
西田敏也九工大)・王 森レイ愛媛大)・佐藤康夫梶原誠司九工大
スキャンベーステストのキャプチャ時の瞬間的な電流による電圧降下は,テスト対象パスの遅延増加等をもたらし,テスト精度低下の... [more] DC2014-13
pp.21-26
DC 2014-02-10
16:00
東京 機械振興会館 マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法
山崎紘史川連裕斗西間木 淳平井淳士細川利典日大)・吉村正義九大)・山崎浩二明大
ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて,キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている.キャプチャ時の高... [more] DC2013-89
pp.61-66
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2012-11-28
14:55
福岡 九州大学百年講堂 マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法
王 森レイ佐藤康夫梶原誠司宮瀬紘平九工大
論理BISTにおけるテスト時の電力消費低減が課題である.スキャン入力時の電力やキャプチャ時の電力は様々な制御手法が提案さ... [more] VLD2012-102 DC2012-68
pp.249-254
DC 2011-06-24
13:30
東京 機械振興会館 テスト可能な応答圧縮器におけるマルチサイクルシグネチャの効果について
深澤祐樹市原英行井上智生広島市大
組込み自己テスト(BIST)手法において,筆者らは文献[8]にて被テスト回路と同時にテスト可能な符号化応答圧縮器を提案し... [more] DC2011-9
pp.5-10
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2010-11-29
15:25
福岡 九州大学医学部百年講堂 スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価
山口久登松薗 誠佐藤康夫梶原誠司九工大/JST
フィールドでの自己テスト(BIST)ではテストパターン情報をチップ内に保持する必要があるため,テストデータ量を極力少なく... [more] VLD2010-61 DC2010-28
pp.31-36
DC 2010-02-15
10:00
東京 機械振興会館 マルチサイクルキャプチャ遷移故障テスト生成を用いたテスト不可能故障の原因解析
小河宏志細川利典日大)・吉村正義九大)・山崎浩二明大
過剰テストは,歩留まり低下の原因の一つとなる.テスト不可能故障は,回路の機能動作に影響を与えない故障である.しかしながら... [more] DC2009-67
pp.13-18
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