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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| ITE-ME, IPSJ-AVM, ITE-CE (共催) IE (連催) [詳細] |
2016-08-09 10:00 |
福岡 | 九州工業大学 戸畑キャンパス | 3Dプリンター造形物への情報埋め込みと近赤外線透視像による読み出し技術 ○鈴木雅洋・中村耕介・高沢渓吾（神奈川工科大）・高嶋洋一（NTT）・鳥井秀幸・上平員丈（神奈川工科大）  IE2016-55 |
筆者らが提案した3Dプリンター用デジタルデータの著作権保護技術について，3Dプリンター造形物内部に埋め込まれた著作権情報... [more] | IE2016-55 pp.57-61 |
| AI | 2015-12-04 15:55 |
福岡 | 九州工業大学サテライト福岡天神 | 動作音からみた半導体製造装置の故障予知技術 ○中田大貴・久代紀之（九工大） AI2015-23 |
半導体製造工場では, 生産効率を向上させるため, 長期間, 装置を稼動させている. 装置の連続的な稼動は, 装置内部の部... [more] | AI2015-23 pp.61-66 |
| DC | 2014-02-10 12:25 |
東京 | 機械振興会館 | メルセンヌ・ツイスタアルゴリズムにもとづいた効果的なテストパターン生成器の提案 ○里中沙矢香・岩田大志・山口賢一（奈良高専） DC2013-86 |
高い信頼性かつ低コストな出荷テストを行うために，BISTではテストパターン生成器としてLFSRが広く用いられている．しか... [more] | DC2013-86 pp.43-48 |
| ICD | 2014-01-28 10:00 |
京都 | 京都大学時計台記念館 | ［招待講演］オンチップばらつきモニタリングによる適応的性能補償 ○橋本昌宜（阪大） ICD2013-100 |
本稿では、2 種類のオンチップばらつきセンサを用いた適応的性能補償について議論する。第一のセンサ はデバイスパラメータ... [more] |
ICD2013-100 pp.1-6 |
| VLD | 2013-03-04 14:40 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | オンチップセンサを用いたばらつき自己補償手法の検討 ○樋口裕磨・橋本昌宜・尾上孝雄（阪大） VLD2012-138 |
半導体の製造プロセスの微細化に伴い，回路性能や歩留まりへの製造ばらつきの影響が深刻化している．製造後に回路性能を調整する... [more] | VLD2012-138 pp.13-17 |
| VLD | 2010-03-10 15:50 |
沖縄 | 沖縄県男女共同参画センター | MOSトランジスタの耐ばらつきチャネル分割に関する考察 ○劉 博・越智 敦・中武繁寿（北九州市大） VLD2009-104 |
本研究では、規則バルク構造に基づくMOSアナログレイアウト自動設計方式の確立を目標として、短チャネル長／幅のトランジスタ... [more] | VLD2009-104 pp.31-36 |
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