| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 研究会 開催スケジュール |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
すべての研究会開催スケジュール (検索条件: すべての年度)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| RECONF, VLD (共催) |
2024-01-29 10:30 |
神奈川 | 新川崎 創造のもり AIRBIC 会議室1～4 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
LFSRを内蔵したRocketコアによる乱数生成 ○鹿野貴義・市川周一（豊橋技科大）  VLD2023-80 RECONF2023-83 |
正岡らは，実質的に予測困難な乱数の生成手法（URNG）を，CPU内部にLFSRを追加する手法で実装した．鴨狩と市川は正岡... [more] | VLD2023-80 RECONF2023-83 pp.1-6 |
| DC | 2022-03-01 14:45 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
SATを用いた遅延故障BIST向けLFSRシード生成法 ○岩本岬汰郎・大竹哲史（大分大） DC2021-74 |
LFSRを用いたLSIのBISTにおいて，ランダムパターン耐性故障を検出するシードを求めるニーズがある．これまでに，AT... [more] | DC2021-74 pp.57-62 |
| ICD, CPSY, CAS (共催) |
2017-12-14 15:10 |
沖縄 | アートホテル石垣島 | 並列線形帰還シフトレジスタPRBS発生回路の高速化に関する検討 ○井山景喬・石井雅樹・佐々木昌浩（芝浦工大） CAS2017-85 ICD2017-73 CPSY2017-82 |
LSIチップの正常動作をテストする「オンチップ・テストパターン発生回路」の動作速度は，線形帰還シフトレジスタによるPRB... [more] | CAS2017-85 ICD2017-73 CPSY2017-82 p.99 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2017-11-06 14:30 |
熊本 | くまもと県民交流館パレア | 遅延故障BIST高品質化のためのLFSRシード生成法 ○渡邊恭之介・大竹哲史（大分大） VLD2017-35 DC2017-41 |
大規模集積回路の微細化や高速化に伴い，遅延テストの重要性が高まっている． 遅延故障モデルとして，論理ゲートの遅延が増加... [more] |
VLD2017-35 DC2017-41 pp.49-54 |
| DC | 2016-02-17 14:25 |
東京 | 機械振興会館 | 重み付きランダムパターンとリシードを組み合わせた組込み自己テスト手法 ○里中沙矢香・米田友和・大和勇太・井上美智子（奈良先端大） DC2015-92 |
テストコスト削減の一手法として組込み自己テスト(Built-In Self Test, BIST) が幅広く用いられてい... [more] | DC2015-92 pp.37-42 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2015-12-03 14:10 |
長崎 | 長崎県勤労福祉会館 | 遅延故障BIST向けLFSR/MISRシード生成 ○嶋津大地・大竹哲史（大分大） VLD2015-70 DC2015-66 |
本稿では，遅延故障に対するスキャンBIST向けのLFSR及びMISRシード生成法を提案する． 従来より使用されているシ... [more] |
VLD2015-70 DC2015-66 pp.213-218 |
| RECONF | 2015-06-20 11:10 |
京都 | 京都大学 | PUFデバイスの高速検証環境の開発 ○片下敏宏・恩田泰則・堀 洋平（産総研） RECONF2015-18 |
PUF (Physically Unclonable Function)は半導体デバイスの真贋判定や偽造防止，デバイス固... [more] | RECONF2015-18 pp.97-102 |
| ICSS | 2015-03-04 09:50 |
沖縄 | 名桜大学（沖縄県名護市） | RFIDにおける擬似乱数生成器の安全性に関する考察 ○佐藤洋之（北陸先端大）・宮地充子（北陸先端大/JST）・蘇 春華（北陸先端大） ICSS2014-75 |
ある擬似乱数生成器 (PRNG) がセキュリティ要件を満たしているかどうかを検証する方法の一つに，統計的乱数検定がある．... [more] | ICSS2014-75 pp.73-78 |
| DC | 2015-02-13 15:20 |
東京 | 機械振興会館 | 階層BIST向けLFSRシード生成法 ○佐脇光亮・大竹哲史（大分大） DC2014-85 |
組込み自己テスト(BIST)で用いるテストパターン生成器の一つに線形フィードバックレジスタ(LFSR)がある． LFS... [more] |
DC2014-85 pp.43-48 |
| SIP, CAS, MSS, VLD (共催) |
2013-07-12 14:10 |
熊本 | 熊本大学 | カオス理論に基づいた後処理による2値乱数の自己相関特性 ○森川晃大・常田明夫（熊本大） CAS2013-29 VLD2013-39 SIP2013-59 MSS2013-29 |
確率的現象を乱数で模倣するモンテカルロシミュレーションにおいては, 無相関な乱数のみでなく, 特定の自己相関特性を有する... [more] | CAS2013-29 VLD2013-39 SIP2013-59 MSS2013-29 pp.159-163 |
| DC | 2013-06-21 14:15 |
東京 | 機械振興会館 | 制約付きテスト生成を用いたスキャンBISTのLFSRシード生成法 ○森保孝憲・大竹哲史（大分大） DC2013-11 |
本稿では，LFSRを用いたスキャンBISTのリシード向けの新しいLFSRシード生成法を提案する．従来のシード生成法は，テ... [more] | DC2013-11 pp.7-12 |
| RECONF | 2013-05-21 14:45 |
高知 | 高知県民文化ホール | Kintex-7 FPGA上のPhysical Unclonable Functionの特性評価 ○堀 洋平・片下敏宏・古原和邦（産総研） RECONF2013-17 |
28-nm プロセスFPGA 上におけるPhysical Unclonable Function (PUF) の入出力特... [more] | RECONF2013-17 pp.91-96 |
| CAS | 2013-01-28 09:25 |
大分 | 別府国際コンベンションセンター | M系列とカオス理論に基づいた負相関スペクトル拡散符号の性能評価 ○徳永昌平・常田明夫（熊本大） CAS2012-66 |
非同期DS-CDMA通信において，適切な負の相関を持つスペクトル拡散符号を用いると従来の線形フィードバックシフトレジスタ... [more] | CAS2012-66 pp.5-10 |
| CAS | 2012-01-19 14:45 |
福岡 | 九州大学 | M系列とカオス理論に基いた負相関スペクトル拡散符号の生成と評価 ○徳永昌平・常田明夫（熊本大） CAS2011-95 |
直接拡散符号分割多元接続(DS-CDMA)通信では,線形フィードバックシフトレジスタにより生成されるM系列やGold系列... [more] | CAS2011-95 pp.59-62 |
| CAS, NLP (共催) |
2009-01-23 10:00 |
宮崎 | ホテルマリックス（宮崎） | カオス理論とLFSR系列に基づいた負相関スペクトル拡散符号のビット誤り率特性 ○常田明夫・宮崎靖規（熊本大） CAS2008-87 NLP2008-117 |
非同期CDMA（符号分割多元接続）方式では，適切な負の自己相関をもった系列を スペクトル拡散符号として使用することで，... [more] |
CAS2008-87 NLP2008-117 pp.131-136 |
| NLP | 2007-11-22 16:00 |
福岡 | 九州大学 | カオス理論とLFSR系列に基づいた負相関系列の設計と評価 ○宮崎靖規・常田明夫・井上高宏（熊本大） NLP2007-104 |
非同期CDMA(符号分割多元接続) 方式では適切な負の自己相関を持った系列を拡散符号として使用することで, 従来符号より... [more] | NLP2007-104 pp.51-55 |
| NLP | 2007-11-22 16:25 |
福岡 | 九州大学 | フィードバック接続切替NFSRにより生成される最大周期系列について ○エボク ラファエル・常田明夫・井上高宏（熊本大） NLP2007-105 |
非線形フィードバックシフトレジスタ(NFSR)は、一般にk段のシフトレジスタと フィードバック回路から構成されており... [more] |
NLP2007-105 pp.57-60 |
| NLP | 2006-05-11 12:30 |
熊本 | 熊本大学工学部 | カオス系列を利用したLSI検査用テストパターン生成に関する一検討 ○泉倉淳志・土田隆輔・工藤邦彦・吉岡大三郎・常田明夫・井上高宏（熊本大） |
LSIの自己組み込みテスト(BIST)はテスト設備のコストダウンに加えて，実動作速度によるテストの品質向上が期待できるた... [more] | NLP2006-1 pp.1-4 |
| IT | 2005-09-27 14:45 |
福島 | 会津大学 | Reed-Solomon符号の最尤復号に関する検討 ○正津宗幸（信州大）・栗原正純（電通大）・杉村立夫（信州大） |
本稿では，Reed-Solomon(R-S)符号に対するある種の効率的な最尤復号の方法について提案する。受信語を最も尤度... [more] | IT2005-54 pp.19-24 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-01-28 15:00 |
東京 | 機械振興会館 | スキャンBISTに対する初期値とフェーズシフタの選択手法 ○新井雅之・黒川晴申・市野憲一・福本 聡・岩崎一彦（都立大） |
本稿では，複数のスキャンチェーンが存在するスキャンBISTに対する，LFSRの初期値とフェーズシフタの選択法について議論... [more] | CPM2004-171 ICD2004-216 pp.53-58 |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]