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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2016-02-17 10:25 |
東京 | 機械振興会館 | 論理パスとクロックパスを考慮した実速度スキャンテスト生成手法について ○李 富強・温 暁青・ホルスト シュテファン・宮瀬紘平・梶原誠司（九工大）  DC2015-87 |
スキャンキャプチャ時に発生するIR-Dropは論理パスのみならず、クロックパスにも影響を与える。本稿では、論理パスとクロ... [more] | DC2015-87 pp.7-12 |
| DC | 2014-06-20 14:05 |
東京 | 機械振興会館 | 低キャプチャ電力スキャンテスト生成のためのX埋め込み手法 ○李 富強・温 暁青・宮瀬紘平・ホルスト シュテファン・梶原誠司（九工大） DC2014-12 |
低キャプチャ電力のスキャンテストパターンを生成するため，セルの実効電圧降下 （IR-Drop）との関わりの強いローカル... [more] |
DC2014-12 pp.15-20 |
| DC | 2009-06-19 14:45 |
東京 | 機械振興会館 | 事前見積りを利用した電力・ノイズ考慮テスト ○埜田健治・伊藤秀昭・畠山一実・相京 隆（半導体理工学研究センター） DC2009-15 |
低電力設計の進展とともに，テスト時の電力消費とIRドロップの問題は重大化している．過剰な電力消費やIRドロップによるテス... [more] | DC2009-15 pp.29-30 |
| CAS, SIP, VLD (共催) |
2007-06-22 10:50 |
北海道 | 北海道東海大学 札幌キャンパス マルチメディアホール | 製造ばらつきを考慮した電源電圧低下による回路タイミングエラー危険度解析と電源配線最適化 ○寺尾 誠・草野健次・川上善之・福井正博（立命館大）・築山修治（中大） CAS2007-23 VLD2007-39 SIP2007-53 |
VLSIの微細化技術の進展により，製造ばらつき、および、回路性能ばらつきが大きな課題となってきている．その中で，LSIを... [more] | CAS2007-23 VLD2007-39 SIP2007-53 pp.25-30 |
| ICD, SIP, IE, IPSJ-SLDM (共催) |
2006-10-27 10:00 |
宮城 | 宮城県・作並温泉・一の坊 | 電源配線における多次元最適化問題の一手法 ○草野健次・寺尾 誠・石嶋宏亘・川上善之・福井正博（立命館大） |
VLSIの微細化技術の発展により，悪影響となる物理現象が顕著になっており，システムの安定動作が重要になっている．電源配線... [more] | SIP2006-104 ICD2006-130 IE2006-82 pp.19-24 |
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