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VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2019-11-14
15:20
愛媛 愛媛県男女共同参画センター コントローラ拡大とパーシャルスキャン設計を用いた遷移故障モデルのためのテスト容易化機能的k時間展開モデル生成法
石山悠太細川利典池ヶ谷祐輝日大VLD2019-43 DC2019-67
テスト容易化設計手法において,高い故障検出効率を維持したまま,面積オーバヘッドやテスト実行時間の削減をすることが重要であ... [more] VLD2019-43 DC2019-67
pp.133-138
DC 2019-02-27
14:30
東京 機械振興会館 コントローラのテスト活性化用状態圧縮法
池ヶ谷祐輝石山悠太細川利典山崎紘史日大DC2018-80
VLSIのテストにおける課題の一つとして,テスト容易化設計回路の面積削減と故障検出効率の向上が挙げられる.その課題を解決... [more] DC2018-80
pp.55-60
DC 2013-06-21
13:45
東京 機械振興会館 データパス回路の機能的k時間展開モデル生成のためのコントローラ拡大法
兒玉雄佑西間木 淳増田哲也細川利典日大)・藤原秀雄阪学院大DC2013-10
近年,LSIの設計生産性の向上とテストコスト削減のため,動作合成においてデータパスのテスト容易化合成が提案されている.提... [more] DC2013-10
pp.1-6
RECONF 2011-05-13
13:55
北海道 北海道大学工学部B3棟 ホモジニアスな配線構造によるFPGA設計の容易化
井上万輝尼崎太樹飯田全広末吉敏則熊本大RECONF2011-19
我々は先行研究において,アイランドスタイル型FPGA のチップ試作を行った.しかし,配線構造が非常に複雑で,設計および検... [more] RECONF2011-19
pp.109-114
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