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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2012-02-13
14:25
東京 機械振興会館 制御ポイント挿入による遷移故障テストパターン削減法
高橋明彦細川利典日大)・吉村正義九大DC2011-82
近年,VLSIの大規模化,複雑化にともない,回路内のゲート数が増加している.それにともない,テスト対象となる故障数が増加... [more] DC2011-82
pp.37-42
ICD, CPM
(共催)
2005-01-28
14:00
東京 機械振興会館 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について
樋上喜信愛媛大)・梶原誠司九工大)・小林真也高松雄三愛媛大
本稿では,順序回路のテスト系列に対して,縮退故障検出率を低下させることなく,ドントケアとなる外部入力値を発見する手法を提... [more] CPM2004-169 ICD2004-214
pp.41-46
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