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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2022-10-12 14:00 |
新潟 | 湯沢東映ホテル （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
並列テストのためのコントローラの制御信号のドントケア割当てアルゴリズム ○徐 浩豊・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）  CPSY2022-24 DC2022-24 |
近年，VLSIのテストコスト増大に伴い，テストパターン数の削減が重要になっている．そのため，テスト並列化を考慮したテスト... [more] | CPSY2022-24 DC2022-24 pp.37-42 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2022-07-27 09:45 |
山口 | 海峡メッセ下関 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
擬似ブール最適化を用いたFFR出力信号線遷移とWSAの相関に基づく低消費電力指向ドントケア割当て法 ○徐 雁レイ・三浦 怜・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） CPSY2022-1 DC2022-1 |
近年，VLSIの低消費電力化に伴い，低消費電力テストを実行するために，低消費電力指向ドントケア判定手法とドントケア割当て... [more] | CPSY2022-1 DC2022-1 pp.1-6 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2022-03-10 10:30 |
ONLINE | オンライン開催 | 論理故障テスト並列化のための制御信号のドントケア割当て法 ○徐 浩豊・細川利典・山崎紘史・新井雅之（日大）・吉村正義（京都産大） CPSY2021-56 DC2021-90 |
近年，VLSIのテストコスト増大に伴い，テストパターン数の削減が重要になっている．テストパターン数を削減するために，テス... [more] | CPSY2021-56 DC2021-90 pp.67-72 |
| VLD | 2017-03-03 13:00 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | エラートレラントアプリケーションのための論理回路の許容関数を用いた簡単化手法について ○岩崎真弥・市原英行・岩垣 剛・井上智生（広島市大） VLD2016-128 |
エラートレラントアプリケーションとは，画像処理や機械学習のように出力の多少の誤差が許容されているアプリケーションである．... [more] | VLD2016-128 pp.145-150 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-26 16:40 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | エラートレラントアプリケーションのための論理合成におけるドントケア拡大について ○稲岡智哉・市原英行・岩垣 剛・井上智生（広島市大） VLD2014-89 DC2014-43 |
LSI システムが多少の誤り出力や性能低下を引き起こしても，システムの用途がこれらを許容できるとき， このような用途を... [more] |
VLD2014-89 DC2014-43 pp.123-128 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-28 10:05 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | キャプチャ消費電力削減のためのテストポイント挿入法 ○高橋慶安・山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） VLD2014-99 DC2014-53 |
ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている．キャプチャ時の高... [more] | VLD2014-99 DC2014-53 pp.185-190 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-28 16:00 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究 ○宮瀬紘平・梶原誠司・温 暁青（九工大） VLD2012-104 DC2012-70 |
テストパターンの故障検出能力に加えて，テストデータ量削減，低消費電力，テスト品質向上などの新しい特性を与える場合，テスト... [more] | VLD2012-104 DC2012-70 pp.261-266 |
| DC | 2012-06-22 13:00 |
東京 | 機械振興会館 | 故障活性化率向上指向ドントケア割当て法の評価 ○若杉諒介・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2012-9 |
従来，VLSIのテスト生成には単一縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられていている．しかしながら，近年VLSIの大... [more] | DC2012-9 pp.1-6 |
| DC | 2012-02-13 14:25 |
東京 | 機械振興会館 | 制御ポイント挿入による遷移故障テストパターン削減法 ○高橋明彦・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2011-82 |
近年，VLSIの大規模化，複雑化にともない，回路内のゲート数が増加している．それにともない，テスト対象となる故障数が増加... [more] | DC2011-82 pp.37-42 |
| VLD | 2011-03-02 15:55 |
沖縄 | 沖縄県男女共同参画センター | 準相補MOSを用いたデジタル回路の低消費電力化設計 ○曽和修一・金子峰雄（北陸先端大） VLD2010-122 |
モバイル機器の発達や，電子機器の高性能化などによる回路規模の増大により，LSI設計において，消費電力を考慮に入れた設計は... [more] | VLD2010-122 pp.37-42 |
| RECONF, VLD, CPSY (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2011-01-17 13:50 |
神奈川 | 慶應義塾大学日吉キャンパス | 最大の可観測性ドントケア集合の抽出におけるCODCを用いた近似手法 ○髙田大河・松永裕介（九大） VLD2010-91 CPSY2010-46 RECONF2010-60 |
多段論理回路の論理最適化やソフトエラーに起因するパルスの伝搬解析において，可観測性ドントケア(ODC:Observabi... [more] | VLD2010-91 CPSY2010-46 RECONF2010-60 pp.43-48 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2009-12-04 13:25 |
高知 | 高知市文化プラザ | テスト圧縮指向ドントケア抽出法 ○若園大洋・細川利典（日大）・吉村正義（九大） VLD2009-62 DC2009-49 |
近年VLSIの大規模化，複雑化に伴い，テストパターン数の増大、故障モデルの多様化が問題となっている．それらの問題を解決す... [more] | VLD2009-62 DC2009-49 pp.149-154 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-01-28 14:00 |
東京 | 機械振興会館 | 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について ○樋上喜信（愛媛大）・梶原誠司（九工大）・小林真也・高松雄三（愛媛大） |
本稿では，順序回路のテスト系列に対して，縮退故障検出率を低下させることなく，ドントケアとなる外部入力値を発見する手法を提... [more] | CPM2004-169 ICD2004-214 pp.41-46 |
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