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 135件中 1~20件目  /  [次ページ]  
研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
WPT 2024-03-15
15:00
京都 京都大学(宇治キャンパス)
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
シングルシャント及びシリーズ型整流回路の設計と比較
河合勝己篠原真毅三谷友彦京大WPT2023-56
マイクロ波電力伝送システムの要素回路に整流回路がある.単一ダイオードを用いる整流回路としてシン グルシャント型及びシング... [more] WPT2023-56
pp.103-106
VLD, HWS, ICD
(共催)
2024-03-01
14:50
沖縄 沖縄県男女共同参画センター【てぃるる】会議室1・2・3
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
電源TSVのテストにおけるサンプリングによる欠陥カバレッジ推定
蜂屋孝太郎川上雄大帝平大VLD2023-129 HWS2023-89 ICD2023-118
3D-ICの電源TSV(Through Silicon Via)のテストとして、TSV直下に電源パッドを配置して電源パッ... [more] VLD2023-129 HWS2023-89 ICD2023-118
pp.157-160
SDM 2023-10-13
13:00
宮城 東北大学未来情報産業研究館5F [招待講演]UVナノインプリントリソグラフィーの欠陥低減
伊藤俊樹キヤノンSDM2023-54
半導体デバイス製造への適用を目指して、インクジェット吐出型UVナノインプリント技術を開発中である。従来はレジストドロップ... [more] SDM2023-54
pp.1-6
CPM 2023-08-01
10:40
北海道 北見工業大学
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
金属/GaNショットキー電極評価の変遷
塩島謙次福井大CPM2023-21
本講演では著者が黎明期から携わってきた金属/GaNショットキー接触に関する実験結果を紹介し、結晶品質、プロセス技術、およ... [more] CPM2023-21
pp.36-39
MW 2023-05-18
15:10
京都 ⽴命館⼤学 朱雀キャンパス
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
SIDGSで構成した小型マルチプレクサの設計方法に関する一検討
周 威宇和田光司電通大)・太田謙一ビフレステックMW2023-10
本論文は、SIDGS(substrate integrated defect ground structure)に基づく... [more] MW2023-10
pp.6-11
SS 2023-03-15
11:00
沖縄 名護市産業支援センター
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
不具合予測適用に向けた構成管理ツールを用いた開発履歴に対する調査
頭川剛幸京都工繊大)・近藤将成九大)・崔 恩瀞水野 修京都工繊大SS2022-64
ソフトウェアの普及に伴い,システム運用における属人化の排除や効率化のためInfrastructure as Code(以... [more] SS2022-64
pp.103-108
ET 2023-03-15
14:00
徳島 徳島大学
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
スライドデータと聴衆の無意識反応の分析に基づいたプレゼンテーション中の問題箇所推定
齋藤 皓福島大)・中山祐貴山形大)・大沼 亮津田塾大)・神長裕明福島大)・宮寺庸造学芸大)・中村勝一福島大ET2022-88
研究活動などの成果や進捗状況を伝える手段としてプレゼンテーションは重要な存在である.特に,スライドを用いたプレゼンテーシ... [more] ET2022-88
pp.178-183
PRMU, IBISML
(共催)
IPSJ-CVIM
(連催) [詳細]
2023-03-03
17:00
北海道 はこだて未来大学
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
半導体ウエハ不良パターン分類のためのExplainable Deep Clustering
岡崎佑樹高橋裕樹電通大PRMU2022-115 IBISML2022-122
半導体ウエハ製造時に発生する特定の不良パターンを分類,解析することは,不良発生工程や原因の特定に繋がる.近年,クラスタリ... [more] PRMU2022-115 IBISML2022-122
pp.299-304
DC 2023-02-28
16:15
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
A Novel High Performance Scan-Test-Aware Hardened Latch with Improved Soft Error Tolerability
Ruijun MaAUST)・Stefan HolstXiaoqing WenKIT)・Hui XuAUST)・Aibin YanAUDC2022-91
 [more] DC2022-91
pp.51-55
ICTSSL, CAS
(共催)
2023-01-27
16:00
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
欠陥接地構造と抵抗装荷による広帯域な吸収型マイクロストリップ線路コモンモードフィルタに関する検討
成島章太和田光司肖 鳳超電通大CAS2022-92 ICTSSL2022-56
本検討では,ディファレンシャルモード(DM)への影響を抑えた欠陥接地構造(DGS)を用いることで広帯域な特性を有する双方... [more] CAS2022-92 ICTSSL2022-56
pp.145-150
OME, IEE-DEI
(連催)
2023-01-18
14:45
愛知 愛知・日間賀島 ホテル浦島 [招待講演]錫系ペロブスカイト太陽電池の研究動向 ~ 鉛フリーペロブスカイト太陽電池から全ペロブスカイトタンデム太陽電池まで ~
早瀬修二電通大OME2022-64
鉛イオンを構成成分とするハロゲン化鉛ペロブスカイト太陽電池(Pb-PVK PV)の効率は小面積ながら25.7%に達してお... [more] OME2022-64
pp.4-7
DC 2022-12-16
13:10
山口 旧大阪商船「海峡ロマンホール」
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
LSI微小遅延故障診断の高精度化について
藤田慎ノ介ステファン ホルスト温 暁青九工大DC2022-72
今日のタイトなタイミングマージン、製造ばらつきの増加、ナノメータ技術の発達に伴い、タイミング関連の欠陥がLSI技術の発展... [more] DC2022-72
pp.1-6
WPT
(第二種研究会)
2022-12-05
- 2022-12-06
京都 京都大学(宇治キャンパス)
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
Design of Low Efficiency Variation 5G Rectifier without External Matching Circuits
Babita GyawaliKyushu Univ.)・Mohamed AboualalaaElectronics Research Institute)・Adel BarakatRamesh K. PokharelKyushu Univ.
A self-impedance matching which reduces the circuit size and... [more]
EMCJ, MW, EST
(共催)
IEE-EMC
(連催) [詳細]
2022-10-14
10:50
秋田 秋田大学
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
平面金属フォトニック結晶共振器に関する一検討
范 佳興陳 春平蔣 梁超王 明平岡隆晴穴田哲夫神奈川大EMCJ2022-55 MW2022-101 EST2022-65
近年、平面金属フォトニック結晶(PhC)構造のミリ波・サブミリ波帯での利用は注目を集めている。金属PhCは無限周期配列構... [more] EMCJ2022-55 MW2022-101 EST2022-65
pp.102-107
EMD, R, LQE, OPE, CPM
(共催)
2022-08-25
13:35
千葉 千葉工業大学津田沼キャンパス + オンライン開催
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
[招待講演]高信頼性SiCパワー半導体デバイスの実現に向けたウェハ品質評価解析技術開発
先﨑純寿産総研R2022-17 EMD2022-5 CPM2022-22 OPE2022-48 LQE2022-11
省エネルギー化やパワエレ製品の小型軽量化を実現するSiCパワー半導体デバイスを搭載した様々な電源やインバータ等の実用化が... [more] R2022-17 EMD2022-5 CPM2022-22 OPE2022-48 LQE2022-11
pp.7-12
SS, KBSE
(共催)
IPSJ-SE
(連催) [詳細]
2022-07-28
13:30
北海道 北海道自治労会館(札幌)
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
GAベースの自動プログラム修正における出力プログラムの調査
原田和音丸山勝久立命館大SS2022-1 KBSE2022-11
ソフトウェア開発において,デバッグ作業は大きな負担であるため,自動プログラム修正技術の研究が盛んに行われている.しかしな... [more] SS2022-1 KBSE2022-11
pp.1-6
SS 2022-03-07
16:45
ONLINE オンライン開催 トレースログを用いたバグ予測の性能評価
森田一成柏 祐太郎中村 司山本大貴近藤将成亀井靖高鵜林尚靖九大SS2021-53
ソフトウェア開発において早い段階でバグを検出するために,ソフトウェアに加えた変更にバグが含まれるか否かを予測する技術が広... [more] SS2021-53
pp.66-71
ICTSSL, CAS
(共催)
2022-01-20
09:50
ONLINE オンライン開催 塗装不良における深層学習を用いた二段階分類法の検討
安達和音名取隆廣相川直幸東京理科大CAS2021-51 ICTSSL2021-28
近年,深層学習を用いた不良の検出や分類の検査手法が提案されている.本稿では,様々な塗装不良を分類するために,深層学習を用... [more] CAS2021-51 ICTSSL2021-28
pp.1-5
SDM 2021-11-11
15:15
ONLINE オンライン開催 [招待講演]プラズマからのイオン衝撃により形成される欠陥構造の解析技術
江利口浩二京大SDM2021-57
電子デバイス製造においてプラズマプロセスは重要な役割を担っている.プラズマエッチングでは,イオン照射と表面反応最適化によ... [more] SDM2021-57
pp.23-28
KBSE, SWIM
(共催)
2021-05-22
10:30
ONLINE オンライン開催 特徴量選択によるソフトウェアの欠陥予測モデルの過適合回避
永井悠太高橋竜一茨城大KBSE2021-7 SWIM2021-7
機械学習を用いたソフトウェア欠陥予測はソフトウェア開発において重要であり,ソースコードからニューラルネットワークによって... [more] KBSE2021-7 SWIM2021-7
pp.37-43
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