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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
NC, NLP
(併催)
2021-01-21
16:25
ONLINE オンライン開催 内在的機構と膵β細胞によるパラクリン作用による膵α細胞の電気活動の調節
西出悠人土居伸二京大NLP2020-47
膵島に存在する膵$alpha$細胞は,低血糖に反応してグルカゴンを分泌する.
長年の研究にもかかわらず,膵$alpha... [more]
NLP2020-47
pp.36-41
DC 2019-12-20
14:45
和歌山 南紀くろしお商工会 鉄道信号システムの安全性評価手法の検討 ~ FMEA、FTA、STPAの併用 ~
杉本裕紀子小林大軌上月良太森島直大京三製作所)・水間 毅ウプビンダー シンマヘシュニ シバ クリシュナ東大DC2019-81
鉄道信号システムの安全性評価手法の検討をし、FMEA、FTA、STPAを併用することが解析漏れ対策として、有効と判断した... [more] DC2019-81
pp.17-20
IPSJ-SLDM, IPSJ-ARC
(共催)
RECONF, VLD, CPSY
(共催)
(連催) [詳細]
2019-01-30
11:20
神奈川 慶応義塾大学 日吉キャンパス 来往舎 多重縮退故障用インクリメンタルテストパターン自動生手法
王 培坤ガラバギ アミル マサウド藤田昌宏東大VLD2018-74 CPSY2018-84 RECONF2018-48
 [more] VLD2018-74 CPSY2018-84 RECONF2018-48
pp.13-18
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2018-12-06
13:50
広島 サテライトキャンパスひろしま 自動生成パターンの微小遅延故障検査用回路への適用性検討
谷口公貴四柳浩之橋爪正樹徳島大VLD2018-58 DC2018-44
集積回路の高集積化に伴い,回路内において微小遅延故障が顕在化している.微小遅延故障の検査手法として,TDC(Time-t... [more] VLD2018-58 DC2018-44
pp.131-136
R 2017-07-28
13:35
北海道 稚内サンホテル 列車保安制御へのGNSS利用と信頼性
浅野 晃京三製作所)・望月 寛・○中村英夫日大R2017-16
GPSをはじめとするGNSSを利用した衛星測位技術の利用が進展している.鉄道分野へのGNSS利用名多くの事例があるものの... [more] R2017-16
pp.13-18
VLD, CAS, MSS, SIP
(共催)
2016-06-16
10:10
青森 弘前市立観光館 単一故障用テストパターンでは不十分な場合を考慮した多重縮退故障用テストパターン自動生成手法
ムーア コンラッド ジンヨンガラバギ アミル マスード藤田昌宏東大CAS2016-3 VLD2016-9 SIP2016-37 MSS2016-3
年々製造される回路が大きく高密度になっているので、産業界で用いられている単一故障発見のためのATPG手法だけでは多重故障... [more] CAS2016-3 VLD2016-9 SIP2016-37 MSS2016-3
pp.13-18
SSS 2016-05-19
15:50
東京 日大駿河台キャンパス 統合型列車制御システムの構成と安全性
齋藤嘉久浅野 晃京三製作所)・○中村英夫高橋 聖望月 寛日大SSS2016-5
既存列車制御システムは堅固に構築された連動装置、閉そく装置、ATC、踏切制御装置等のサブシステムが連携して高い安全性を実... [more] SSS2016-5
pp.19-22
DC 2016-02-17
10:50
東京 機械振興会館 論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減
藤谷和依四柳浩之橋爪正樹徳島大)・樋上喜信高橋 寛愛媛大DC2015-88
半導体プロセスの微細化に伴って,配線およびビアの断線故障が増加している.断線故障は故障線論理値を隣接線間容量によって制御... [more] DC2015-88
pp.13-18
MBE, NC
(併催)
2014-12-13
14:20
愛知 名古屋大学 輸液ポンプ表面の微生物汚染状況と清拭消毒の効果について
斉藤 徳北海道科学大)・真下 泰北海道科学大/札幌北辰病院)・菅原俊継黒田 聡有澤準二木村主幸北海道科学大MBE2014-86
輸液ポンプは,抗癌剤や精密な輸液の投与に必要な医療機器である.一方,輸液ポンプなどの医療機器表面は,手指を介して体液や血... [more] MBE2014-86
pp.69-73
NS, IN
(併催)
2013-03-07
11:10
沖縄 残波岬ロイヤルホテル すれ違い通信によるメッセージ伝達特性
岸 俊介坂本直志東京電機大NS2012-180
近年、Bluetooth などのPAN 対応端末の普及などにより、すれ違い通信が活用されるようになってきた。これは端末間... [more] NS2012-180
pp.89-94
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2012-11-27
13:00
福岡 九州大学百年講堂 解の再利用を用いたSATに基づくテスト生成におけるインスタンス順序と変数割当順序の決定法
上田健司岩垣 剛市原英行井上智生広島市大VLD2012-83 DC2012-49
本稿では充足可能性問題(SAT)に基づくテスト生成問題を取り上げ,
解を再利用しながら複数のインスタンスを解く状況下で... [more]
VLD2012-83 DC2012-49
pp.141-146
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2012-11-28
16:00
福岡 九州大学百年講堂 ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究
宮瀬紘平梶原誠司温 暁青九工大VLD2012-104 DC2012-70
テストパターンの故障検出能力に加えて,テストデータ量削減,低消費電力,テスト品質向上などの新しい特性を与える場合,テスト... [more] VLD2012-104 DC2012-70
pp.261-266
MBE 2012-01-27
15:55
福岡 九州大学 ATP測定法を利用した医療機器表面の変化と細菌保持特性との関連に関する検討
永井 翔菅原俊継黒田 聡有澤準二北海道工大)・橋本佳苗帯広厚生病院)・木村主幸北海道工大MBE2011-89
医療関連感染の要因の一つに医療機器を介した微生物の伝搬がある。これを回避することを主眼として医療機器には清拭消毒が日常的... [more] MBE2011-89
pp.53-58
DC 2011-12-16
14:30
兵庫 豊岡市社会福祉協議会/城崎地区センター A Safety Estimation of the ATPB System using UML and Formal Method
Guo XieHiroshi MochizukiSei TakahashiHideo NakamuraNihon Univ.DC2011-70
在来線の経営改善と活性化を目指し、新たな列車制御システム「ATP閉そく」が提案された。本論文では、システムの仕様の正当性... [more] DC2011-70
pp.13-16
NC, MBE
(併催)
2011-03-07
17:25
東京 玉川大学 虚血時における心筋細胞のATP放出制御とそのシグナル伝達機構に関する研究
功刀聡彦岩淵禎弘松山大輔河原剛一北大MBE2010-112
細胞外へのATP放出経路としては、様々な経路が報告されているが、心筋細胞においては、maxi-anion channel... [more] MBE2010-112
pp.53-56
DC 2011-02-14
10:25
東京 機械振興会館 実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定
坂井僚太宮瀬紘平温 暁青九工大)・麻生正雄古川 寛ルネサス マイクロシステム)・大和勇太福岡県産業・科学技術振興財団)・梶原誠司九工大DC2010-60
実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の過度な消費電力は,LSIテスト時にタイミングのエラーを引き起こし,歩留り低下の... [more] DC2010-60
pp.7-12
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2009-12-03
14:05
高知 高知市文化プラザ 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究
別府 厳九工大)・宮瀬紘平九工大/JST)・大和勇太九工大)・温 暁青梶原誠司九工大/JSTVLD2009-55 DC2009-42
LSIのテストにおけるスキャンシフト動作,キャプチャ動作時の消費電力やIR-dropの増加は,解決すべき重要な課題である... [more] VLD2009-55 DC2009-42
pp.95-100
MBE 2009-06-26
13:30
北海道 北海道大学 心筋細胞の虚血時における細胞外ATP放出制御と虚血・再灌流細胞傷害
功刀聡彦松山大輔岩淵禎弘河原剛一北大MBE2009-13
細胞内から細胞外への主要なATP放出経路としては、connexinあるいは pannexin hemichannelとm... [more] MBE2009-13
pp.1-4
DC 2009-06-19
11:35
東京 機械振興会館 縮退故障用ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法
樋上喜信・○黒瀬洋介大野智志山岡弘典高橋 寛愛媛大)・清水良浩相京 隆半導体理工学研究センター)・高松雄三愛媛大DC2009-13
半導体デバイスの微細化・高速化に伴い,タイミング不良である遅延故障に対する故障診断の要求が高まってきている.故障診断結果... [more] DC2009-13
pp.19-24
DC 2009-02-16
10:50
東京 機械振興会館 SATを用いたATPG困難故障に対する冗長故障判定の高速化
秋山祐介細川利典日大)・吉村正義九大)・山崎浩二明大DC2008-70
近年,VLSIのテストではより100%の故障検出効率が求められている.しかしながら,VLSIの大規模化や複雑化に伴い,検... [more] DC2008-70
pp.13-18
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