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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SDM, ICD
(共催)
ITE-IST
(連催) [詳細]
2021-08-18
13:00
ONLINE オンライン開催 [招待講演]タスク分離型制御のASIL D向け機能安全と60.4TOPS、13.8TOPS/WのCNNアクセラレータを備える12nm自動運転プロセッサ
松原勝重Lieske Hannoルネサス エレクトロニクス)・木村 基Renesas Electronics Europe)・中村 淳小池 学寺島和昭森川 俊堀田義彦入田隆宏望月誠二浜崎博幸亀井達也ルネサス エレクトロニクスSDM2021-39 ICD2021-10
世代の運転支援システムや自動運転システムにおいて、軽量かつ低コストの車載電子制御装置を実現するには、膨大な演算を実現する... [more] SDM2021-39 ICD2021-10
pp.48-53
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2019-11-14
15:20
愛媛 愛媛県男女共同参画センター コントローラ拡大とパーシャルスキャン設計を用いた遷移故障モデルのためのテスト容易化機能的k時間展開モデル生成法
石山悠太細川利典池ヶ谷祐輝日大VLD2019-43 DC2019-67
テスト容易化設計手法において,高い故障検出効率を維持したまま,面積オーバヘッドやテスト実行時間の削減をすることが重要であ... [more] VLD2019-43 DC2019-67
pp.133-138
DC 2019-02-27
14:30
東京 機械振興会館 コントローラのテスト活性化用状態圧縮法
池ヶ谷祐輝石山悠太細川利典山崎紘史日大DC2018-80
VLSIのテストにおける課題の一つとして,テスト容易化設計回路の面積削減と故障検出効率の向上が挙げられる.その課題を解決... [more] DC2018-80
pp.55-60
ICD, SDM
(共催)
ITE-IST
(連催) [詳細]
2016-08-03
13:20
大阪 中央電気倶楽部 [招待講演]機能安全規格ISO26262 ASIL Bに対応する16nm FinFETヘテロジニアス9コアSoC
高橋睦史芝原真一福岡一樹松嶋 潤北地祐子ルネサス システムデザイン)・島崎靖久原 博隆入田隆宏ルネサス エレクトロニクスSDM2016-64 ICD2016-32
本稿では,機能安全規格ISO26262 ASIL Bに対応する次世代自動車情報機器向けヘテロジニアス9コアSoCについて... [more] SDM2016-64 ICD2016-32
pp.105-110
DC 2016-06-20
15:15
東京 機械振興会館 テスト容易化機能的時間展開モデル生成のためのテスト容易化バインディング法
佐藤 護細川利典増田哲也西間木 淳日大)・藤原秀雄阪学院大DC2016-14
データパスを対象とした効率的なテスト生成手法として,テスト容易化機能的時間展開モデルを用いたテスト生成法が提案されている... [more] DC2016-14
pp.25-30
NLP 2015-05-19
10:25
青森 道の駅浅虫温泉ゆ~さ浅虫(青森市) 蝸牛無反射伝送線路モデルのパラメータ値の一決定手法
織間健守堀尾喜彦東京電機大)・香田 徹九大NLP2015-35
蝸牛は周波数分析器として工学的な応用が期待されている.大野・香田によって提案された受動的伝送線路モデルは,回路実装への見... [more] NLP2015-35
pp.45-50
DC 2014-12-19
17:15
富山 高岡テクノドーム [招待講演]二輪車に関する国際安全規格の動向
高橋 聖日大DC2014-77
自動車のための機能安全規格であるISO 26262が2011年11月に制定された.本規格の中では,安全関連系システムを構... [more] DC2014-77
pp.55-60
DC 2013-06-21
13:45
東京 機械振興会館 データパス回路の機能的k時間展開モデル生成のためのコントローラ拡大法
兒玉雄佑西間木 淳増田哲也細川利典日大)・藤原秀雄阪学院大DC2013-10
近年,LSIの設計生産性の向上とテストコスト削減のため,動作合成においてデータパスのテスト容易化合成が提案されている.提... [more] DC2013-10
pp.1-6
RECONF 2011-05-13
13:55
北海道 北海道大学工学部B3棟 ホモジニアスな配線構造によるFPGA設計の容易化
井上万輝尼崎太樹飯田全広末吉敏則熊本大RECONF2011-19
我々は先行研究において,アイランドスタイル型FPGA のチップ試作を行った.しかし,配線構造が非常に複雑で,設計および検... [more] RECONF2011-19
pp.109-114
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