| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 研究会 開催スケジュール |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
すべての研究会開催スケジュール (検索条件: すべての年度)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| VLD, HWS, ICD (共催) |
2024-02-29 14:25 |
沖縄 | 沖縄県男女共同参画センター【てぃるる】会議室１・２・３ （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
電子機器固有の電磁的特性を利用した個体識別に関する基礎検討 ○小林 剛・赤堀美桜・堀口嵩浩（三菱電機）  VLD2023-114 HWS2023-74 ICD2023-103 |
電子機器の偽造が問題となっており半導体素子の製造ばらつきを利用した機器認証(PUF)や電子機器の放射ノイズを利用した機器... [more] | VLD2023-114 HWS2023-74 ICD2023-103 pp.89-93 |
| VLD, DC, RECONF, ICD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2023-11-16 09:55 |
熊本 | くまもと市民会館シアーズホーム夢ホール （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
入力デコーダを使用したMTJ-PUFの提案と機械学習耐性の評価 ○菊地 拓・宇佐美公良（芝浦工大） VLD2023-44 ICD2023-52 DC2023-51 RECONF2023-47 |
LSIの個体認証技術の1つであるPUF(Physically Unclonable Function)は、機械学習(ML... [more] | VLD2023-44 ICD2023-52 DC2023-51 RECONF2023-47 pp.82-87 |
| HWS, VLD (共催) |
2023-03-01 13:50 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
リーク電流の製造ばらつきを利用したLRPUFの超低電圧に向けた回路の最適化とシミュレーション評価 ○畑 俊吉・宇佐美公良（芝浦工大） VLD2022-77 HWS2022-48 |
LSI の個体識別技術であるPUF(Physically Unclonable Function)を、センサノードなどの... [more] | VLD2022-77 HWS2022-48 pp.25-30 |
| HWS | 2022-04-26 13:30 |
東京 | 産業技術総合研究所 臨海副都心センター（別館） （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
静電容量センサの出力分布に着目したID生成手法に関する基礎検討 ○鍛治秀伍・太刀掛彩希・藤本大介・林 優一（奈良先端大） HWS2022-4 |
IC内部の定電流源とA/Dコンバータにより構成された静電容量センサを用いて個体を識別することにより、外部の計測機器を用い... [more] | HWS2022-4 pp.19-23 |
| VLD, HWS (共催) [詳細] |
2022-03-08 10:20 |
ONLINE | オンライン開催 | リーク電流の製造ばらつきを利用したLR-PUFの機械学習攻撃に対する耐性評価 ○笈川智秋・宇佐美公良（芝浦工大） VLD2021-93 HWS2021-70 |
LSIの個体識別技術の一つに、半導体の物理的特徴を利用したPUF（Physically Unclonable Funct... [more] | VLD2021-93 HWS2021-70 pp.93-98 |
| HWS, ICD (共催) [詳細] |
2021-10-19 15:25 |
ONLINE | オンライン開催 | 静電容量センサを用いたプリント基板の個体差の検出に関する基礎検討 ○太刀掛彩希・鍛治秀伍・藤本大介・林 優一（奈良先端大） HWS2021-50 ICD2021-24 |
Physical Unclonable Function (PUF) を用いた個体識別技術は、半導体デバイスやプリント基... [more] | HWS2021-50 ICD2021-24 pp.49-52 |
| SIP, CAS, VLD, MSS (共催) |
2021-07-06 10:00 |
ONLINE | オンライン開催 | リーク電流を利用したPUFの回路構造の提案とシミュレーション評価 ○笈川智秋・宇佐美公良（芝浦工大） CAS2021-9 VLD2021-9 SIP2021-19 MSS2021-9 |
LSIの個体識別技術の一つに、半導体の物理的特徴を利用したPUF(Physically Unclonable Funct... [more] | CAS2021-9 VLD2021-9 SIP2021-19 MSS2021-9 pp.42-47 |
| DC | 2021-02-05 10:30 |
ONLINE | オンライン開催 | FPGAの配線遅延の影響を考慮した製造ばらつき測定方法の検討 ○堤 信吾・三浦幸也（都立大） DC2020-69 |
FPGAとはユーザが任意の論理機能を実装できるLSIである．FPGAにおいても製造ばらつきが問題になってきており，これを... [more] | DC2020-69 pp.1-6 |
| DC | 2021-02-05 10:55 |
ONLINE | オンライン開催 | ランダムばらつきを考慮した電力サイドチャネルの学習によるハードウェアトロイ回路の検出手法 ○井上美智子・Riaz-Ul-Haque Mian（奈良先端大） DC2020-70 |
サプライチェーンのグローバル化，複雑化により半導体集積回路へのハードウェアトロイ回路の混入が懸念されてる． 本稿では，... [more] |
DC2020-70 pp.7-11 |
| HWS, VLD (共催) |
2019-02-28 16:45 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | 製造・実装ばらつきに起因する放射スペクトルの違いを用いた電子機器の個体識別手法に関する基礎検討 ○鍛治秀伍（奈良先端大）・衣川昌宏（仙台高専）・藤本大介（奈良先端大）・Laurent Sauvage・Jean-Luc Danger（Telecom ParisTech）・林 優一（奈良先端大） VLD2018-120 HWS2018-83 |
電子機器内部のICやその他の素子などの偽造や複製による模造品の流通によって、電子機器の機能や性能が維持・保証できなくなり... [more] | VLD2018-120 HWS2018-83 pp.163-167 |
| OPE | 2016-12-08 14:15 |
沖縄 | 石垣市商工会館（沖縄） | シリコン導波路デバイス特性に及ぼす製造ばらつきの影響 ○堀川 剛（光電子融合基盤技研/産総研）・志村大輔・牛田 淳・蘇武洋平・椎名明美・徳島正敏・鄭 錫煥・木下啓藏・最上 徹（光電子融合基盤技研） |
シリコンフォトニクス技術を用いた光集積回路は，長/短距離の情報伝送の広帯域化を可能にするキーデバイスとして注目されている... [more] | |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2015-12-02 14:35 |
長崎 | 長崎県勤労福祉会館 | 補間型TDCを用いたSingle Slope ADCの製造ばらつき耐性に関する考察 ○堀田海平・大畠賢一（鹿児島大） CPM2015-131 ICD2015-56 |
高速かつ低電力なADCの実現に向けて、我々は補間型TDCを用いたSingle Slope ADCを提案し、500 MS/... [more] | CPM2015-131 ICD2015-56 pp.23-27 |
| VLD | 2015-03-03 14:35 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | ［記念講演］Area Efficient Device-Parameter Estimation using Sensitivity-Configurable Ring Oscillator ○Shoichi Iizuka・Yuma Higuchi・Masanori Hashimoto・Takao Onoye（Osaka Univ.） VLD2014-169 |
本稿では感度可変リングオシレータを用いた省面積なデバイスパラメータ推定手法を提案する。感度可変リングオシレータの多数の感... [more] | VLD2014-169 p.95 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-26 15:10 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | HDRアーキテクチャを対象とした製造ばらつき耐性と低レイテンシを両立可能なマルチシナリオ高位合成手法 ○井川昂輝・阿部晋矢・柳澤政生・戸川 望（早大） VLD2014-86 DC2014-40 |
半導体プロセスの継続的な微細化により，製造ばらつきや配線遅延がLSI設計に与える影響が増加している．これらに対し，製造ば... [more] | VLD2014-86 DC2014-40 pp.105-110 |
| ICD | 2014-01-28 10:00 |
京都 | 京都大学時計台記念館 | ［招待講演］オンチップばらつきモニタリングによる適応的性能補償 ○橋本昌宜（阪大） ICD2013-100 |
本稿では、2 種類のオンチップばらつきセンサを用いた適応的性能補償について議論する。第一のセンサ はデバイスパラメータ... [more] |
ICD2013-100 pp.1-6 |
| VLD | 2013-03-04 14:40 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | オンチップセンサを用いたばらつき自己補償手法の検討 ○樋口裕磨・橋本昌宜・尾上孝雄（阪大） VLD2012-138 |
半導体の製造プロセスの微細化に伴い，回路性能や歩留まりへの製造ばらつきの影響が深刻化している．製造後に回路性能を調整する... [more] | VLD2012-138 pp.13-17 |
| CAS | 2012-01-19 16:15 |
福岡 | 九州大学 | ［招待講演］低消費電力LSIのための電源電圧制御技術 ○川崎健一・岡野 廣・藤澤久典・井上淳樹（富士通研） CAS2011-99 |
LSI を低消費電力化するためには、状況に応じてLSI に印加する電源電圧を遮断するか、あるいは電源電圧を下げるように制... [more] | CAS2011-99 pp.77-81 |
| ICD | 2011-12-15 13:00 |
大阪 | 大阪大学会館 | ［招待講演］耐タンパLSI設計技術 ～ 模倣品防止のための物理複製不可能なデバイス ～ ○藤野 毅・古橋康太・汐崎 充（立命館大） ICD2011-102 |
耐タンパLSI設計技術として，半導体製造バラツキからデバイス固有情報を生成するPhysical Unclonable F... [more] | ICD2011-102 pp.13-18 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2011-11-30 09:00 |
宮崎 | ニューウェルシティ宮崎 | ［招待講演］超低電圧サブスレショルド回路設計 ○橋本昌宜（阪大） VLD2011-82 DC2011-58 |
極低電力アプリケーションの実装において、注目を集めているサブスレッショルド回路の特徴を、消費電力と消費エネルギーの観点か... [more] | VLD2011-82 DC2011-58 pp.173-178 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2011-11-30 10:55 |
宮崎 | ニューウェルシティ宮崎 | VLSIの製造バラつきと経年劣化を考慮したアダプティブフィールドテストにおけるパス選択法に関する考察 ○柏崎智史・細川利典（日大）・吉村正義（九大） VLD2011-85 DC2011-61 |
近年，製造テストで正常VLSIと判定されるが，出荷後の使用環境で経年劣化の結果，出荷時の遅延時間に対して微小な遅延が発生... [more] | VLD2011-85 DC2011-61 pp.191-195 |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]