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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM
(連催)
(併催) [詳細]
2021-12-02
11:10
ONLINE オンライン開催 FPGA向け乱数生成器の高位合成IP化設計と比較検討
淺海悠人泉 知論立命館大VLD2021-40 ICD2021-50 DC2021-46 RECONF2021-48
自律移動システムのRRT経路計画など, 確率論的アルゴリズムがしばしば用いられる. 本稿ではFPGA上に確率論的アルゴリ... [more] VLD2021-40 ICD2021-50 DC2021-46 RECONF2021-48
pp.133-138
DC, SS
(共催)
2019-10-24
16:00
熊本 熊本大学 n回状態遷移被覆に基づく非スキャンオンラインテスト法
池ヶ谷祐輝石山悠太細川利典日大)・吉村正義京都産大SS2019-19 DC2019-47
VLSIの経年劣化による障害を回避する手段の一つとして,通常動作時に回路の出力や内部信号線の値を監視するオンラインテスト... [more] SS2019-19 DC2019-47
pp.37-42
DC 2014-02-10
12:25
東京 機械振興会館 メルセンヌ・ツイスタアルゴリズムにもとづいた効果的なテストパターン生成器の提案
里中沙矢香岩田大志山口賢一奈良高専DC2013-86
高い信頼性かつ低コストな出荷テストを行うために,BISTではテストパターン生成器としてLFSRが広く用いられている.しか... [more] DC2013-86
pp.43-48
DE, DC
(共催)
2007-10-16
11:30
東京 機械振興会館 Evaluation Model of Pseudo Random Pattern Quality for Logic BIST
Satoshi FukumotoHarunobu KurokawaMasayuki AraiKazuhiko IwasakiTokyo Metropolitan Univ.DE2007-124 DC2007-21
本稿では,ランダムパターンテストにおける故障検出率分布の確率統計的な解析について議論する.ランダムパターンテストにおいて... [more] DE2007-124 DC2007-21
pp.51-56
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