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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2023-12-08 13:50 |
長崎 | アルカスSASEBO （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
組込み自己テストにおける両立可能故障集合を用いた複数ランダムパターンレジスタント故障のシード生成法 ○曽根隆暢・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）  DC2023-88 |
近年，超大規模集積回路の大規模化により，多量化したテストパターンをテスタに保存することは非現実的になっている．組込み自己... [more] | DC2023-88 pp.7-12 |
| DC | 2023-02-28 15:15 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
組込み自己テストのための複数ランダムパータンレジスタント遷移故障のシード生成法 徐 雁レイ・三浦 怜・○細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） DC2022-89 |
近年超大規模集積回路の微細化，高速化，電源電圧の低電圧化により，タイミング遅延を伴う欠陥が増加している．それゆえ， 遷移... [more] | DC2022-89 pp.39-44 |
| R | 2021-05-28 13:00 |
ONLINE | オンライン開催 | ［招待講演］車載システム向けのテスト容易化設計法 ○高橋 寛（愛媛大） |
先進自動運転のための車載コンピュータにおいては機能安全規格に基づくテストが必要である．新しいテスト環境であるフィールドに... [more] | |
| DC, SS (共催) |
2019-10-24 16:00 |
熊本 | 熊本大学 | n回状態遷移被覆に基づく非スキャンオンラインテスト法 ○池ヶ谷祐輝・石山悠太・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） SS2019-19 DC2019-47 |
VLSIの経年劣化による障害を回避する手段の一つとして，通常動作時に回路の出力や内部信号線の値を監視するオンラインテスト... [more] | SS2019-19 DC2019-47 pp.37-42 |
| DC | 2019-02-27 10:55 |
東京 | 機械振興会館 | 製造検査時における組込み自己テスト回路を利用した効率的なPUF回路のチャレンジレスポンス対の生成と評価 ○三野智貴・新谷道広・井上美智子（奈良先端大） DC2018-75 |
近年，半導体部品市場における偽造IC チップの流通が問題になっている．その対策として，物理複製困難（Physically... [more] | DC2018-75 pp.25-30 |
| DC | 2014-02-10 12:25 |
東京 | 機械振興会館 | メルセンヌ・ツイスタアルゴリズムにもとづいた効果的なテストパターン生成器の提案 ○里中沙矢香・岩田大志・山口賢一（奈良高専） DC2013-86 |
高い信頼性かつ低コストな出荷テストを行うために，BISTではテストパターン生成器としてLFSRが広く用いられている．しか... [more] | DC2013-86 pp.43-48 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-26 13:00 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | ［招待講演］組込み自己テストによるフィールド高信頼化について ○梶原誠司（九工大） VLD2012-65 DC2012-31 |
出荷後のシステムにおいて，パワーオン時間等の空き時間を利用したオンラインテストにより回路の遅延を測定することで，回路の遅... [more] | VLD2012-65 DC2012-31 pp.37-42 |
| DC | 2012-06-22 13:50 |
東京 | 機械振興会館 | 高信頼組込み自己テストのための耐故障テスト生成器に関する考察 ○深澤祐樹・岩垣 剛・市原英行・井上智生（広島市大） DC2012-11 |
BIST回路（テスト生成器や応答圧縮器など）の故障は， 被テスト回路に対するテスト実行結果の判定を誤らせる可能性があり... [more] |
DC2012-11 pp.15-20 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2011-11-30 11:20 |
宮崎 | ニューウェルシティ宮崎 | 組込み自己テストにおける温度均一化制御 ○村田絵理（奈良先端大）・大竹哲史（大分大/JST）・中島康彦（奈良先端大） VLD2011-86 DC2011-62 |
LSI の微細化及び高速化に伴い，製造不良や出荷後の劣化による微小遅延欠陥がチップの信頼性に関わる重要な問題となっている... [more] | VLD2011-86 DC2011-62 pp.197-202 |
| DC | 2011-06-24 13:30 |
東京 | 機械振興会館 | テスト可能な応答圧縮器におけるマルチサイクルシグネチャの効果について ○深澤祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） DC2011-9 |
組込み自己テスト(BIST)手法において，筆者らは文献[8]にて被テスト回路と同時にテスト可能な符号化応答圧縮器を提案し... [more] | DC2011-9 pp.5-10 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 16:25 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | 画像伸張回路を用いた組込みテスト生成に関する実験的考察 ○岩本由香・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） VLD2010-63 DC2010-30 |
近年，LSIテスト手法の１つとして組込み自己テストが利用されている．組込み自己テストでは，LSI内部にテストベクトル系列... [more] | VLD2010-63 DC2010-30 pp.43-48 |
| DC, CPSY (共催) |
2009-04-21 15:45 |
東京 | 首都大秋葉原サテライトキャンパス | 組込み自己テストにおけるテスト可能な応答圧縮器の設計について ○深澤祐樹・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） CPSY2009-7 DC2009-7 |
組込み自己テスト(BIST)手法において，テスト生成器や応答圧縮器などのBIST回路が故障すると被テスト回路のテストを適... [more] | CPSY2009-7 DC2009-7 pp.37-42 |
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