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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2013-11-28
11:05
鹿児島 鹿児島県文化センター [招待講演]VLSIの信頼性を向上させる再構成可能アーキテクチャ
尾上孝雄橋本昌宜阪大)・密山幸男高知工科大)・Dawood Alnajjar郡浦宏明阪大VLD2013-87 CPM2013-122 ICD2013-99 CPSY2013-63 DC2013-53 RECONF2013-51
近年,VLSIの正常動作を保証する信頼性確保が,医療,金融,航空宇宙などの,いわゆるミッション・クリティカルな応用分野で... [more] VLD2013-87 CPM2013-122 ICD2013-99 CPSY2013-63 DC2013-53 RECONF2013-51
p.183(VLD), p.81(CPM), p.81(ICD), p.27(CPSY), p.183(DC), p.69(RECONF)
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2012-11-28
14:30
福岡 九州大学百年講堂 動的部分再構成による故障回避に関する一考察
郡浦宏明阪大)・今川隆司京大)・密山幸男高知工科大)・橋本昌宜尾上孝雄阪大RECONF2012-59
再構成可能デバイスの劣化故障に起因する恒久的エラーを回避する手法として,動的再構成機能を利用した部分配置配線による故障回... [more] RECONF2012-59
pp.71-76
RECONF 2012-05-29
16:00
沖縄 沖縄県男女共同参画センター FPGA配線部のハードエラー検出および再構成による回避手法
西谷祐樹井上万輝尼崎太樹久我守弘飯田全広末吉敏則熊本大RECONF2012-13
FPGA は物理故障(ハードエラー)が発生しても他の領域に回路を再構成することで継続使用が可能である.しかし,故障のない... [more] RECONF2012-13
pp.71-76
RECONF 2011-05-12
13:55
北海道 北海道大学工学部B3棟 動的再構成可能アーキテクチャによる故障回避機構の定量的信頼性評価
郡浦宏明阪大)・密山幸男高知工科大)・橋本昌宜尾上孝雄阪大RECONF2011-6
磨耗故障対策として,動的再構成可能アーキテクチャを用いた故障回避機構がいくつか提案されている.これらの機構を用いて達成さ... [more] RECONF2011-6
pp.31-36
OPE, EMT, LQE, PN
(共催)
IEE-EMT
(連催) [詳細]
2011-01-27
17:00
大阪 大阪大学 4ポート三接続状態を有するシリコン光スイッチ
庄司雄哉金高健二須田悟史河島 整挾間壽文石川 浩産総研PN2010-39 OPE2010-152 LQE2010-137
トラフィックの増大に伴うIPルータでの電力消費量が大きな問題になっている.我々は,光クロスコネクト(OXC)を用いた光パ... [more] PN2010-39 OPE2010-152 LQE2010-137
pp.69-72
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