| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 研究会 開催スケジュール |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
すべての研究会開催スケジュール (検索条件: すべての年度)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| SDM | 2022-11-11 15:15 |
ONLINE | オンライン開催 | ［招待講演］SiCパワーモジュールの高信頼性設計 ～ 劣化予測へ向けた実験的特性評価 ～ ○福永崇平（阪大）・カスティラッズィ アルベルト（京都先端科学大）・舟木 剛（阪大）  SDM2022-76 |
本研究では, 高電圧電力変換回路に適用する, SiC MOSFETを用いたマルチチップパワーモジュールの高信頼設計に取り... [more] | SDM2022-76 pp.55-60 |
| EMD, R (共催) |
2021-02-12 15:00 |
ONLINE | オンライン開催 | ［招待講演］電子デバイスに対する信頼性物理の諸課題 ～ 物理的に解明が必要な故障メカニズム ～ ○門田 靖（リコー） R2020-37 EMD2020-28 |
半導体デバイスをはじめ電子デバイスの多くは，市場の様々な分野・用途で使われている．現在市場で発生している電子デバイスの故... [more] | R2020-37 EMD2020-28 pp.19-24 |
| R | 2014-11-20 13:45 |
大阪 | 大阪中央電気倶楽部 | マルコフ連鎖モデルによる半導体素子劣化・寿命予測 ○桃田 快・遠藤幸一・御堂義博・三浦克介・中前幸治（阪大） R2014-61 |
個別の半導体デバイスの使用経過時間中の特性がモニターできる仮定の下で，得られた特性からデバイスの劣化・寿命を予測する手法... [more] | R2014-61 pp.1-5 |
| COMP | 2014-10-08 13:30 |
東京 | 中央大学 | ［招待講演］混合正規分布に対する統計的最大最小演算とその応用 ○築山修治（中大） COMP2014-28 |
最先端集積回路においては，微細化に伴う製造ばらつきにより，素子性能がチップ間だけでなく，チ ップ内でも大きくばらつくよう... [more] | COMP2014-28 pp.17-18 |
| VLD | 2014-03-03 14:55 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | 直列接続された組電池の統計的寿命解析手法について ○佐々木大介・築山修治・松永真理子（中大）・高橋真吾（NEC） VLD2013-138 |
持続可能社会を形成する上で不可欠な蓄電池はセルを直並列接続して構成される電池システムであり，用途毎に最適な接続構造をとる... [more] | VLD2013-138 pp.25-30 |
| R | 2012-10-19 15:25 |
福岡 | 九州工業大学 | 拡張蓄積疲労モデルにおけるシミュレーション ○作村建紀・廣瀬英雄（九工大） R2012-58 |
機器にストレスを一定時間与え，その時間耐えたら段階的にストレスレベルを上げ，これを機器が破壊するまで繰り返す段階的上昇法... [more] | R2012-58 pp.23-28 |
| R | 2011-10-21 15:55 |
福岡 | 九州大学箱崎キャンパス（福岡市） | 拡張蓄積疲労モデルについて ○廣瀬英雄・作村建紀（九工大） R2011-32 |
機器にストレスを一定時間与え，その時間耐えたら段階的にストレスレベルを上げ，これを機器が破壊するまで繰り返す「段階的上昇... [more] | R2011-32 pp.29-34 |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]