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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM
(連催)
(併催) [詳細]
2020-11-17
10:30
ONLINE オンライン開催 LSIの領域毎の信号値遷移確率に基づく電力評価に関する研究
大庭 涼星野 竜宮瀬紘平温 暁青梶原誠司九工大VLD2020-13 ICD2020-33 DC2020-33 RECONF2020-32
LSIテストでは通常動作時に比べて信号値遷移が多く発生するため,消費電力が増加する.消費電力が増加すると過度なIR-dr... [more] VLD2020-13 ICD2020-33 DC2020-33 RECONF2020-32
pp.12-17
DC 2020-02-26
14:35
東京 機械振興会館 メモリ搭載LSIに対するロジック部の消費電力解析に関する研究
児玉優也宮瀬紘平高藤大輝温 暁青梶原誠司九工大DC2019-93
LSIのテスト時は,通常動作時と比べて消費電力が大きくなる.過度なIRドロップは,過度な遅延値を引き起こし,特に実速度テ... [more] DC2019-93
pp.43-48
DC 2020-02-26
15:00
東京 機械振興会館 LSIの高消費電力エリアに対する信号値遷移制御率向上に関する研究
史 傑宮瀬紘平温 暁青梶原誠司九工大DC2019-94
LSI テスト時は,通常動作より多くの信号値遷移が起こることで過度なIRドロップが発生し,LSI回路内部の信号伝搬遅延時... [more] DC2019-94
pp.49-54
DC 2019-02-27
10:15
東京 機械振興会館 LSIのホットスポット分布の解析に関する研究
河野雄大宮瀬紘平九工大)・呂 學坤台湾科技大)・温 暁青梶原誠司九工大DC2018-74
LSIの通常動作時におけるIR-drop増加に起因する性能低下などの問題は,電源供給ネットワークを強化するなどの手段で設... [more] DC2018-74
pp.19-24
DC 2018-02-20
11:00
東京 機械振興会館 正当化操作を用いたレイアウト上のホットスポット特定に関する研究
河野雄大宮瀬紘平梶原誠司温 暁青九工大DC2017-80
LSIのテスト時は,通常動作より多くの信号値遷移を伴うため消費電力が増大する.特に実速度スキャンテストにおける過度な消費... [more] DC2017-80
pp.19-24
DC 2015-06-16
15:00
東京 機械振興会館 地下3階2号室 レイアウトデータを用いたテスト時の高消費電力エリア特定手法に関する研究
宮瀬紘平九工大)・ザウアー マティアスベッカー ベルンドフライブルク大)・温 暁青梶原誠司九工大DC2015-18
実速度スキャンテストにおける消費電力増大に関する問題は年々深刻化している.特に,瞬間的な過度の消費電力の増加は,過度なI... [more] DC2015-18
pp.13-18
DC 2011-06-24
16:20
東京 機械振興会館 テストベクトル変換手法を用いた低消費電力LOS 実速度テスト
宮瀬紘平内之段裕太榎元和成九工大)・大和勇太奈良先端大)・温 暁青梶原誠司九工大)・Fangmei WuLuigi DililloAlberto BosioPatrick GirardArnaud VerazelLirmmDC2011-13
LSIの実速度テスト方式の一つであるLOS方式に対する低消費電力テスト手法を提案する.本稿では,X判定技術とX割当技術を... [more] DC2011-13
pp.29-34
DC 2011-02-14
10:25
東京 機械振興会館 実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定
坂井僚太宮瀬紘平温 暁青九工大)・麻生正雄古川 寛ルネサス マイクロシステム)・大和勇太福岡県産業・科学技術振興財団)・梶原誠司九工大DC2010-60
実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の過度な消費電力は,LSIテスト時にタイミングのエラーを引き起こし,歩留り低下の... [more] DC2010-60
pp.7-12
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