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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
ICTSSL, CAS
(共催)
2024-01-25
15:50
神奈川 東海大学(湘南キャンパス)
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
遮断周波数を基準にしたチップ素子及び導体パターンのばらつきに強い高周波ダイプレクサの設計に関する一検討
中田祥太郎和田光司電通大CAS2023-95 ICTSSL2023-48
本検討では,LPF(Low Pass Filter) 及び HPF(High Pass Filter) がチップ素子及び... [more] CAS2023-95 ICTSSL2023-48
pp.60-65
R 2015-06-19
14:50
東京 機械振興会館 アルミ電解コンデンサの短期評価手法の検討
角本雄一村上和也安達健二東芝R2015-13
品質工学を用いた評価手法を検討し、従来の長期間の信頼性試験よりも短時間でアルミ電解コンデンサを評価する技術を開発した。静... [more] R2015-13
pp.19-24
PRMU, BioX
(共催)
2015-03-20
14:30
神奈川 慶応大学矢上キャンパス 指尖加速度脈波による平均血圧の推定
小黒 諒越水重臣産技大BioX2014-70 PRMU2014-190
本研究では,安静座位時の平均血圧を指尖加速度脈波から抽出された特徴項目から推定することを目的としている.品質工学のT法を... [more] BioX2014-70 PRMU2014-190
pp.189-192
R 2012-11-15
14:50
大阪 中央電気倶楽部 プリント基板絶縁劣化のスクリーニング技術
黒川博志菱電化成)・松岡敏成八木 超三菱電機R2012-62
プリント基板では高温高湿試験等での絶縁劣化に対する信頼性試験が実施される。この信頼性試験には長時間を要するという課題があ... [more] R2012-62
pp.11-16
IMQ 2011-09-02
14:25
静岡 静岡大学 (浜松) 画質評価値推定式を用いた異なる環境光に対する画質要因のロバストネス
毛利彰吾大橋剛介下平美文静岡大IMQ2011-10
近年,ディスプレイ機器は,様々な環境光下で広く利用されているが,環境光の違いによりディスプレイ機器の見えは異なる.そこで... [more] IMQ2011-10
pp.15-18
R 2011-06-17
14:25
東京 機械振興会館 動的粘弾性によるグリースの劣化診断技術
田村珠美藤堂洋子東芝R2011-17
電路用開閉器や機構構造物を構成する操作機構の摺動部及び通電部には、グリース等の潤滑剤が塗布されているが、経年使用で固くな... [more] R2011-17
pp.13-16
IMQ
(第二種研究会)
2011-03-18
10:00
静岡 静岡大学 浜松キャンパス 異なる環境光における画質要因のロバストネス
毛利彰吾大橋剛介下平美文静岡大
近年,ディスプレイ機器は,高画質化に伴い,様々な環境光下で広く利用されているが,環境光の違いによりディスプレイ機器の見え... [more]
EMD 2006-10-20
14:25
神奈川 プラザとつか 外部応力による錫ウィスカの研究
町原大介佐藤一臣日本航空電子
電子部品の鉛フリー化の促進に伴い、錫めっきのウィスカ問題が重要視されている。特にコネクタ接点部に代表される、めっき後に応... [more] EMD2006-50
pp.5-8
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