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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| ICD | 2017-04-21 10:00 |
東京 | 機械振興会館 | ［依頼講演］A 55nm Ultra Low Leakage Deeply Depleted Channel Technology Optimized for Energy Minimization in Subthreshold SRAM and Logic ○Harsh N. Patel・Abhishek Roy・Farah B. Yahya・Ningxi Liu・Benton Calhoun（UVA）・Akihiko Harada（FEA）・Kazuyuki Kumeno・Makoto Yasuda・Taiji Ema（MIFS）  ICD2017-11 |
本稿では55nm超低リークDDC技術によるULL(Ultra-Low Leakage)トランジスタを用いた回路特性の評価... [more] | ICD2017-11 pp.57-61 |
| ICD | 2013-04-12 15:30 |
茨城 | 産業技術総合研究所 つくばセンター | ［依頼講演］デジタル電流比較器制御によるSRAM待機電力の削減 ○前田徳章・小松成亘・森本薫夫・田中浩二・塚本康正・新居浩二・島崎靖久（ルネサス エレクトロニクス） ICD2013-21 |
モバイルアプリケーション用途の高性能・低待機電力SRAMを提案する。デジタル電流比較器を利用し、温度によって最適なスタン... [more] | ICD2013-21 pp.109-114 |
| ICD, SDM (共催) |
2008-07-17 15:05 |
東京 | 機械振興会館 | ロジックプロセス互換型SESOメモリセルによる低ソフトエラー(0.1FIT/Mb)、高速動作(100MHz)、長リテンション(100ms)の実現 ○亀代典史・渡部隆夫・石井智之・峰 利之（日立）・佐野聡明（ルネサス北日本セミコンダクタ）・伊部英史・秋山 悟（日立）・柳沢一正・一法師隆志・岩松俊明・高橋保彦（ルネサステクノロジ） SDM2008-136 ICD2008-46 |
SESO (Single Electron Shut-off)トランジスタのプロセスを見直し、ロジックプロセス互換性を実... [more] | SDM2008-136 ICD2008-46 pp.47-52 |
| CPM, ED, LQE (共催) |
2007-10-12 09:50 |
福井 | 福井大学 | ITOショットキ電極を用いたAlGaN/GaN HEMTのリーク電流低減 ○松田慶太・川崎 健・中田 健・五十嵐武司・八重樫誠司（ユーディナデバイス） ED2007-167 CPM2007-93 LQE2007-68 |
AlGaN/GaN HEMTはキャリア密度・移動度が大きく絶縁破壊耐圧が高いという優れた特徴をもつため、低オン抵抗・高耐... [more] | ED2007-167 CPM2007-93 LQE2007-68 pp.57-61 |
| ICD, IPSJ-ARC (共催) |
2007-05-31 11:00 |
神奈川 | 株式会社富士通研究所 岡田記念ホール | Drowsyキャッシュにおける活性期間の制御手法に関する検討 小林良太郎・○谷口英樹・島田俊夫（名大） |
近年プロセス技術の進歩により、リーク電流によって消費される静的電力が問題となってきている。これに対し、チップ上のトランジ... [more] | ICD2007-18 pp.7-12 |
| ICD | 2006-04-14 13:00 |
大分 | 大分大学 | ［特別招待講演］バッテリ機器向け低電力・低電圧SRAM回路技術 ○山岡雅直（日立） |
携帯機器向けのプロセッサでは、混載SRAMの電力がプロセッサ全体の電力に与える影響が大きく、低電力混載SRAM回路技術が... [more] | ICD2006-17 pp.91-96 |
| ICD | 2005-12-15 15:15 |
高知 | 高知工科大 | 常活性ラインに基づく高性能/低リーク・キャッシュの消費エネルギー評価 ○小宮礼子（福岡大/九州システム情報技研）・井上弘士（JST/九大）・村上和彰（九大/九州システム情報技研） |
我々はこれまでに，高性能かつ低リークなキャッシュを提案した．この手法は性能低下を引き起こすラインを常に活性状態として動作... [more] | ICD2005-189 pp.37-42 |
| ICD | 2005-04-14 09:30 |
福岡 | 福岡システムLSI 総合開発センター | 書き込みマージンを増加させた低電力SoC向け混載SRAM ○山岡雅直（日立）・前田徳章（ルネサステクノロジ）・篠崎義弘（日立超LSIシステムズ）・島崎靖久・新居浩二・島田 茂・柳沢一正（ルネサステクノロジ）・河原尊之（日立） |
低電力SoCの消費電力はモバイル機器の電池寿命に大きく影響する。現在のSoCは多くのSRAMモジュールを混載しており、S... [more] | ICD2005-2 pp.7-12 |
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