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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2020-02-26
11:35
東京 機械振興会館 マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法
青野智己中岡典弘周 細紅王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスDC2019-89
車載システムの機能安全を保障するためには,システムの起動時に回路を検査するパワーオンセルフテスト(POST)が必要である... [more] DC2019-89
pp.19-24
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2019-11-14
16:10
愛媛 愛媛県男女共同参画センター 確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析
中岡典弘青野智己・○工藤壮司王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスVLD2019-45 DC2019-69
先進自動運転システムの機能安全を保障するために , システムの起動時に論理組込み自己テスト (LBIST)
機構を用い... [more]
VLD2019-45 DC2019-69
pp.145-150
DC 2019-02-27
14:05
東京 機械振興会館 マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFFトグル制御ポイントの選択法
青野智己Hanan T.Al-Awadhi王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスDC2018-79
車載システムの機能安全を保証するためには,システムの起動時にテストを実行するパワーオンセルフテスト(POST)が必要とな... [more] DC2018-79
pp.49-54
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2018-12-06
13:25
広島 サテライトキャンパスひろしま 論理BISTのテスト電力制御手法とTEG評価について
加藤隆明九工大)・王 森レイ愛媛大)・佐藤康夫梶原誠司九工大VLD2018-57 DC2018-43
スキャンベースの論理BISTでは,過度のテスト時消費電力が問題となる.一方,電力削減は故障検出率向上及びテスト時間削減と... [more] VLD2018-57 DC2018-43
pp.125-130
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2017-11-07
09:00
熊本 くまもと県民交流館パレア スキャンベース論理BISTにおけるマルチサイクルテストの中間観測FF選出手法について
大島繁之加藤隆明九工大)・王 森レイ愛媛大)・佐藤康夫梶原誠司九工大VLD2017-41 DC2017-47
論理BISTにおける故障検出率向上のために,マルチサイクルテストにおけるフリップフロップ(FF)値の中間観測手法が提案さ... [more] VLD2017-41 DC2017-47
pp.85-90
DC 2014-06-20
14:30
東京 機械振興会館 低電力BIST手法におけるキャプチャ電力のTEG評価
西田敏也九工大)・王 森レイ愛媛大)・佐藤康夫梶原誠司九工大DC2014-13
スキャンベーステストのキャプチャ時の瞬間的な電流による電圧降下は,テスト対象パスの遅延増加等をもたらし,テスト精度低下の... [more] DC2014-13
pp.21-26
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2012-11-28
14:55
福岡 九州大学百年講堂 マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法
王 森レイ佐藤康夫梶原誠司宮瀬紘平九工大VLD2012-102 DC2012-68
論理BISTにおけるテスト時の電力消費低減が課題である.スキャン入力時の電力やキャプチャ時の電力は様々な制御手法が提案さ... [more] VLD2012-102 DC2012-68
pp.249-254
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2011-11-30
10:05
宮崎 ニューウェルシティ宮崎 マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減
山口久登・○松薗 誠宮瀬紘平佐藤康夫梶原誠司九工大/JSTVLD2011-83 DC2011-59
組込み自己テスト(BIST)では,テスト時の消費電力が通常動作時より多いため,電圧降下による誤動作や,発熱による性能劣化... [more] VLD2011-83 DC2011-59
pp.179-183
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2010-11-29
15:25
福岡 九州大学医学部百年講堂 スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価
山口久登松薗 誠佐藤康夫梶原誠司九工大/JSTVLD2010-61 DC2010-28
フィールドでの自己テスト(BIST)ではテストパターン情報をチップ内に保持する必要があるため,テストデータ量を極力少なく... [more] VLD2010-61 DC2010-28
pp.31-36
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