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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2019-02-27
09:50
東京 機械振興会館 キャプチャセーフテストベクトルの故障伝搬経路を模倣した低消費電力志向ドントケア判定法
三澤健一郎細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大DC2018-73
初期テスト集合中のキャプチャアンセーフテストベクトル数とアンセーフ故障数を削減するために,低消費電力を志向したドントケ判... [more] DC2018-73
pp.13-18
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2014-11-28
10:05
大分 ビーコンプラザ(別府国際コンベンションセンター) キャプチャ消費電力削減のためのテストポイント挿入法
高橋慶安山崎紘史細川利典日大)・吉村正義京都産大VLD2014-99 DC2014-53
ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて,キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている.キャプチャ時の高... [more] VLD2014-99 DC2014-53
pp.185-190
VLD, ICD, DC, IPSJ-SLDM
(共催)
2005-12-02
09:30
福岡 北九州国際会議場 スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について
鈴木達也温 暁青梶原誠司九工大)・宮瀬紘平皆本義弘JST
スキャンテストのキャプチャ時においてフリップフロップでの論理値の遷移が多く起こると過度のIRドロップを引き起こす可能性が... [more] VLD2005-76 ICD2005-171 DC2005-53
pp.1-6
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