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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2024-02-28 10:55 |
東京 | 機械振興会館 | DICEを基にしたエッジトリガ型耐ソフトエラーD-FFを用いたシステム設計 ○難波一輝（千葉大）  DC2023-95 |
近年の VLSI の微細化は，放射線起因のソフトエラーの影響を深刻化している． そしてそのため，多くの耐ソフトエラーフ... [more] |
DC2023-95 pp.7-10 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2023-08-03 11:45 |
北海道 | 函館アリーナ （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
ソフトエラー耐性を持つ不揮発性フリップフロップの設計 ○高橋尚悟・難波一輝（千葉大） CPSY2023-13 DC2023-13 |
近年，VLSIは微細化，高集積化，電源電圧の低下に伴ってソフトエラーの発生率が増加している．フトエラーとはα粒子や中性子... [more] | CPSY2023-13 DC2023-13 pp.31-36 |
| ICD | 2023-04-10 11:25 |
神奈川 | 川崎市産業振興会館10階第４会議室 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
12-nm FinFETおよび28-nm プレナー型SRAMのミューオン起因ソフトエラー断面積の評価 ○五味唯美・高見一総（京大）・水野るり惠（東大）・新倉 潤（理研）・Yifan DENG・川瀬頒一郎・渡辺幸信（九大）・安部晋一郎（原子力機構）・廖 望（東大）・反保元伸・梅垣いづみ・竹下聡史・下村浩一郎・三宅康博（高エネルギー加速器研究機構/J-PARCセンター）・橋本昌宜（京大） ICD2023-3 |
半導体プロセス微細化に伴い，ミューオン起因ソフトエラーの影響増加が示唆されている．しかし，MOSFETの構造変化によるソ... [more] | ICD2023-3 p.8 |
| RECONF, VLD (連催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2023-01-24 10:30 |
神奈川 | 慶応義塾大学 日吉キャンパス 来往舎2階大会議室 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
LPDDR4 SDRAMとGDDR5 SDRAMのソフトエラー耐性の実測評価 ○上林幹宜・小林和淑（京都工繊大）・橋本昌宜（京大） VLD2022-65 RECONF2022-88 |
近年，コンピュータシステムに搭載されるメモリの大容量化に伴い，信頼性の低下が問題になっている．信頼性低下の一因としてソフ... [more] | VLD2022-65 RECONF2022-88 pp.34-39 |
| VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM (連催) (併催) [詳細] |
2021-12-01 09:20 |
ONLINE | オンライン開催 | TCADを用いた回路とレイアウト構造によるフリップフロップのソフトエラー耐性の評価 ○小谷萌香・中島隆一（京都工繊大）・井置一哉（ローム）・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） VLD2021-17 ICD2021-27 DC2021-23 RECONF2021-25 |
本稿では130 nmプロセスのフリップフロップ（FF）とトランジスタと配線を追加した面積，遅延，電力オーバーヘッドの小さ... [more] | VLD2021-17 ICD2021-27 DC2021-23 RECONF2021-25 pp.1-6 |
| DC, CPSY (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2021-10-11 16:00 |
ONLINE | オンライン開催 | DICEの相補性に基づくエッジトリガ型D-FF ○松浦徳己・難波一輝（千葉大） CPSY2021-15 DC2021-15 |
近年のVLSI(Very Large Scale IC)は微細化，高集積化，動作電圧の低下に伴いソフトエラーの発生確率が... [more] | CPSY2021-15 DC2021-15 pp.19-24 |
| DC, CPSY (連催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2020-10-12 14:10 |
ONLINE | オンライン開催 | C-elementを用いた耐ソフトエラー性を有するSRラッチ ○中田惟吹・難波一輝（千葉大） CPSY2020-19 DC2020-19 |
近年のVLSIは微細化，高集積化が進んでいる．それに伴い消費電力，臨海電荷量が低下している．そのため，ソフトエラーの発生... [more] | CPSY2020-19 DC2020-19 pp.12-15 |
| SAT, RCS (併催) |
2020-08-21 10:55 |
ONLINE | オンライン開催 | ［奨励講演］Software Defined Satelliteの実現に向けた要素技術 ○谷 重紀・山下靖貴・早馬道也・半谷政毅・有賀 博（三菱電機） SAT2020-20 |
衛星搭載通信ミッション機器のデジタル化によって実現されるSoftware Defined Satellite (SDS)... [more] | SAT2020-20 pp.53-57 |
| RECONF | 2020-05-28 14:20 |
ONLINE | オンライン開催 | FPGAを用いた自動運転システムにおけるソフトエラー評価の検討 ○田中知成・廖 望・密山幸男（高知工科大） RECONF2020-6 |
本論文では，SRAMベースのFPGAを用いた自動運転システムにおけるソフトエラーの影響をシステムレベルで評価することを目... [more] | RECONF2020-6 pp.31-35 |
| NS, IN (併催) |
2020-03-06 15:10 |
沖縄 | Royal Hotel 沖縄残波岬 （開催中止，技報発行あり） |
誤り訂正・検出機能を備えた通信機器のソフトエラー試験結果報告 ○舘野瑞樹・渡邊宏介（NTT） NS2019-251 |
通信機器の小型化・高性能化により、半導体デバイスの高集積化・微細化が進み、宇宙線由来の中性子が引き起こすソフトエラーへの... [more] | NS2019-251 pp.419-423 |
| DC | 2020-02-26 16:35 |
東京 | 機械振興会館 | 耐電源ノイズ用ラッチのソフトエラー耐性 ○木下湧矢・三浦幸也（首都大東京） DC2019-97 |
近年，VLSI回路の微細化や電源電圧の低下に伴い，ソフトエラーによる信頼性の低下が問題となっている．ソフトエラーの影響は... [more] | DC2019-97 pp.67-72 |
| SAT, SANE (併催) |
2020-02-20 13:50 |
沖縄 | 大濱信泉記念館(石垣市) | CNN DAEによるデジタルペイロードのソフトエラー耐性向上 ○谷 重紀・山下靖貴・内田 繁・有賀 博（三菱電機） SAT2019-81 |
通信衛星や観測衛星の運用柔軟性を向上するため，軌道上でデジタル信号処理によって通信諸元を変更するデジタルペイロード型の衛... [more] | SAT2019-81 pp.69-74 |
| DC | 2019-02-27 15:10 |
東京 | 機械振興会館 | 耐過渡故障を指向した線形有限状態機械のストカスティック数による状態符号化 ○前田有希・市原英行・岩垣 剛・井上智生（広島市大） DC2018-81 |
確率を用いた計算手法であるストカスティックコンピューティング(SC) は，低面積，低消費電力，耐過渡故障性などの利点から... [more] | DC2018-81 pp.61-66 |
| SDM, ICD (共催) ITE-IST (連催) [詳細] |
2018-08-07 11:30 |
北海道 | 北海道大学大学院情報科学研究科 M棟M151 | FDSOIプロセスにおけるスタック構造を用いたNMOSおよびPMOSトランジスタのソフトエラー耐性の実測による比較 ○山田晃大・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） SDM2018-28 ICD2018-15 |
集積回路素子の微細化に伴いソフトエラーによる集積回路の信頼性低下が問題となっている．本研究では，65nm FDSOI (... [more] | SDM2018-28 ICD2018-15 pp.15-20 |
| VLD, HWS (併催) |
2018-02-28 16:55 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | コンポーネント間近接制約に基づいた混合誤り訂正機構の信頼性評価 ○呉 政訓・金子峰雄（北陸先端大） VLD2017-102 |
LSIの微細化に伴った様々な問題の中，ソフトエラーは信頼性低下の主な要因の一つとされている．配線や部品の間隔が狭くなるに... [more] | VLD2017-102 pp.79-84 |
| VLD, HWS (併催) |
2018-02-28 17:20 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | FDSOIに適したスタック構造におけるソフトエラー対策手法の提案・評価と微細化による影響の評価 ○丸岡晴喜・山田晃大・榎原光則・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） VLD2017-103 |
トランジスタサイズの微細化に伴い、ソフトエラーにより集積回路の信頼性が低下している。本稿では65 nm FDSOI プロ... [more] | VLD2017-103 pp.85-90 |
| VLD, HWS (併催) |
2018-02-28 17:45 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | 65 nm FDSOIプロセスのトランジスタモデルの違いによるフリップフロップのソフトエラー耐性の実測と評価 ○榎原光則・丸岡晴喜・山田晃大・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） VLD2017-104 |
ムーアの法則に従い, 集積回路 (LSI)が微細化することで, PCやスマートフォン といった高性能な製品を作れるよう... [more] |
VLD2017-104 pp.91-96 |
| VLD | 2017-03-03 13:25 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | コンポーネント間近接制約に基づいた混合誤り訂正機構と回路面積評価 ○呉 政訓・金子峰雄（北陸先端大） VLD2016-129 |
VLSI の微細化に伴ったソフトエラーによる信頼性低下がより深刻化している．これまで，システムレベルの対策として，比較・... [more] | VLD2016-129 pp.151-156 |
| VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-28 14:15 |
大阪 | 立命館大学大阪いばらきキャンパス | TCADシミュレーションを用いたFDSOIプロセスの耐ソフトエラー回路構造の検討 ○山田晃大・丸岡晴喜・梅原成宏・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） VLD2016-49 DC2016-43 |
集積回路はムーアの法則に従って微細化してきたが，それに伴いソフトエラーに よる信頼性の低下が問題となっている．既にソ... [more] |
VLD2016-49 DC2016-43 pp.31-36 |
| VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-28 14:40 |
大阪 | 立命館大学大阪いばらきキャンパス | PHITS-TCADシミュレーションによるFinFETとFDSOIのソフトエラー耐性の評価 ○梅原成宏・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） VLD2016-50 DC2016-44 |
集積回路の微細化に伴い，ソフトエラーによる信頼性の低下が問題となっている．近年，SOIやFinFETのような従来と異なる... [more] | VLD2016-50 DC2016-44 pp.37-41 |
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