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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC, SS
(共催)
2019-10-24
16:00
熊本 熊本大学 n回状態遷移被覆に基づく非スキャンオンラインテスト法
池ヶ谷祐輝石山悠太細川利典日大)・吉村正義京都産大SS2019-19 DC2019-47
VLSIの経年劣化による障害を回避する手段の一つとして,通常動作時に回路の出力や内部信号線の値を監視するオンラインテスト... [more] SS2019-19 DC2019-47
pp.37-42
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