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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
NLP 2006-05-11
12:30
熊本 熊本大学工学部 カオス系列を利用したLSI検査用テストパターン生成に関する一検討
泉倉淳志土田隆輔工藤邦彦吉岡大三郎常田明夫井上高宏熊本大
LSIの自己組み込みテスト(BIST)はテスト設備のコストダウンに加えて,実動作速度によるテストの品質向上が期待できるた... [more] NLP2006-1
pp.1-4
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