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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
ICD, SDM
(共催)
2005-08-18
13:50
北海道 函館国際ホテル LDD構造CMOSFETにおける(高ドープ/低ドープ)・ドレイン解析用テスト構造
大曽根隆志岡山県立大)・松田敏弘富山県立大)・岡田和彦森下賢幸小椋清孝岡山県立大)・岩田栄之富山県立大
LDD構造CMOSFETの(高ドープ/低ドープ)・ドレインの電気的特性を分離して解析するために,種々のゲート間隔Sを有す... [more] SDM2005-137 ICD2005-76
pp.55-60
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