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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2011-02-14
10:25
東京 機械振興会館 実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定
坂井僚太宮瀬紘平温 暁青九工大)・麻生正雄古川 寛ルネサス マイクロシステム)・大和勇太福岡県産業・科学技術振興財団)・梶原誠司九工大DC2010-60
実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の過度な消費電力は,LSIテスト時にタイミングのエラーを引き起こし,歩留り低下の... [more] DC2010-60
pp.7-12
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