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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2010-02-15
09:25
東京 機械振興会館 テスト実行時の温度均一化のためのテストパターン並び替え法
中尾 良米田友和井上美智子藤原秀雄奈良先端大DC2009-66
VLSIのテスト実行時は,消費電力が空間や時間でばらつき,それに伴い回路温度が変動する.一方,回路の動作遅延は温度に依存... [more] DC2009-66
pp.7-12
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