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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2015-12-01
15:45
長崎 長崎県勤労福祉会館 [フェロー記念講演]VLSIテスト技術によるシステムディペンダビリティ向上への期待
梶原誠司九工大
VLSIの製造不良の検出を目的に行われる生産テストの技術は,テスト品質向上(故障検出能力の向上)とコスト削減を主眼に研究... [more] VLD2015-44 CPM2015-128 ICD2015-53 CPSY2015-64 DC2015-40 RECONF2015-51
pp.43-44(VLD), pp.9-10(CPM), pp.9-10(ICD), pp.19-20(CPSY), pp.43-44(DC), pp.19-20(RECONF)
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