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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
CPSY, RECONF, VLD
(共催)
IPSJ-SLDM
(連催) [詳細]
2014-01-29
14:50
神奈川 慶応義塾大学 日吉キャンパス FPGAにおける特性ばらつきとBTI劣化の測定結果に基づく性能予測
籔内美智太郎小林和淑京都工繊大
65nmプロセスFPGAにおけるBTIによる経年劣化現象の回路への影響を測定データ
を元にモデル化し,長期的な劣化の予... [more]
VLD2013-129 CPSY2013-100 RECONF2013-83
pp.161-166
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