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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2010-02-15 10:25 |
東京 | 機械振興会館 | 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について ○高橋 寛・樋上喜信・首藤祐太・高棟佑司・高松雄三（愛媛大）・堤 利幸・山崎浩二（明大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）  DC2009-68 |
シグナルインティグリティに関する課題を解決するために，本稿では，抵抗性オープン故障検出のための拡張遅延故障モデルを提案す... [more] | DC2009-68 pp.19-24 |
| DC | 2010-02-15 16:05 |
東京 | 機械振興会館 | TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討 堤 利幸・○刈谷泰由紀・山崎浩二（明大）・橋爪正樹・四柳浩之（徳島大）・高橋 寛・樋上喜信・高松雄三（愛媛大） DC2009-77 |
LSIの微細化に伴い，LSIテストにおけるオープン故障への対策の重要性が増してきている．しかし，オープン故障の実用的なモ... [more] | DC2009-77 pp.75-80 |
| DC | 2009-06-19 11:35 |
東京 | 機械振興会館 | 縮退故障用ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法 樋上喜信・○黒瀬洋介・大野智志・山岡弘典・高橋 寛（愛媛大）・清水良浩・相京 隆（半導体理工学研究センター）・高松雄三（愛媛大） DC2009-13 |
半導体デバイスの微細化・高速化に伴い，タイミング不良である遅延故障に対する故障診断の要求が高まってきている．故障診断結果... [more] | DC2009-13 pp.19-24 |
| DC | 2009-02-16 13:50 |
東京 | 機械振興会館 | 組合せ回路に対する欠陥考慮テストパターンの一生成法 ○高橋 寛・樋上喜信・和泉太佑・相京 隆・高松雄三（愛媛大） DC2008-73 |
微細化加工技術の進展に伴って，配線の欠陥によって生じる不良モードの多様化が問題となっている． そのため，品質保証のため... [more] |
DC2008-73 pp.31-36 |
| DC | 2009-02-16 14:15 |
東京 | 機械振興会館 | 隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて ○渡部哲也・高橋 寛・樋上喜信（愛媛大）・堤 利幸・山崎浩二（明大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）・高松雄三（愛媛大） DC2008-74 |
配線の微細化,長距離化に伴って,配線およびビアの断線（オープン）の欠陥によって生じる故障が顕在化している. オープン故... [more] |
DC2008-74 pp.37-42 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2008-11-17 14:15 |
福岡 | 北九州学術研究都市 | TEGチップを用いたオープン故障の解析 堤 利幸・○刈谷泰由紀・山崎浩二（明大）・橋爪正樹・四柳浩之（徳島大）・高橋 寛・樋上喜信・高松雄三（愛媛大） VLD2008-63 DC2008-31 |
半導体技術の高集積化が進みLSIの故障検出や故障診断が難しくなってきている．特に，オープン故障への対策はLSIの微細化に... [more] | VLD2008-63 DC2008-31 pp.19-24 |
| DC | 2008-06-20 15:50 |
東京 | 機械振興会館 | オープン故障診断の性能向上について ○山崎浩二・堤 利幸（明大）・高橋 寛・樋上喜信・相京 隆（愛媛大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）・高松雄三（愛媛大） DC2008-16 |
回路の微細化や銅配線の導入により，配線やビアの断線の発生頻度が高まっている．そのため，オープン故障診断法の開発の重要性が... [more] | DC2008-16 pp.29-34 |
| DC | 2008-02-08 09:25 |
東京 | 機械振興会館 | 隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法 高橋 寛・樋上喜信・相京 隆・門山周平・○渡部哲也・高松雄三（愛媛大）・堤 利幸・山崎浩二（明大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） DC2007-68 |
配線の微細化，長距離化に伴って，配線およびビアの断線（オープン）の欠陥によって生じる故障が顕在化している． 本稿では，... [more] |
DC2007-68 pp.7-12 |
| DC | 2008-02-08 09:50 |
東京 | 機械振興会館 | 遷移故障に対する診断用テスト生成法 相京 隆（愛媛大/半導体理工学研究センター）・樋上喜信・高橋 寛・○吉川 達・高松雄三（愛媛大） DC2007-69 |
半導体デバイスの微細化・高速化に伴い， 動作タイミングに影響を与える遅延故障に対する故障診断の要求が高まってきている．... [more] |
DC2007-69 pp.13-18 |
| SS, KBSE (共催) |
2007-04-19 14:20 |
福島 | 会津大学 | 直交表を用いた単体テストに関する考察 ～ JUnit 支援ツールの試作 ～ 山田 輝（NECシステムテクノロジー）・○阿萬裕久・高松雄三（愛媛大） SS2007-1 KBSE2007-1 |
近年，直交表を用いたソフトウェアテストの効率化が注目されている． 直交表には実験対象因子の組合わせを効率的に生成できる... [more] |
SS2007-1 KBSE2007-1 pp.1-6 |
| SITE | 2005-10-07 13:30 |
愛媛 | 松山大学 | ［招待講演］地域における大学の役割の捉え直しに伴う地域IXの構想について ○木村映善・川原 稔・村田健史・高松雄三（愛媛大） |
[more] | SITE2005-42 pp.7-10 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-09-08 11:20 |
東京 | 機械振興会館 | 組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法 ○樋上喜信（愛媛大）・Kewal K Saluja（Univ. of Wisconsin-madision）・高橋 寛・小林真也・高松雄三（愛媛大） |
近年，論理回路のテストや故障診断におけるコスト削減が重要になってきている． テストや故障診断のコストは，印加されるテス... [more] |
CPM2005-89 ICD2005-99 pp.25-30 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-01-28 14:00 |
東京 | 機械振興会館 | 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について ○樋上喜信（愛媛大）・梶原誠司（九工大）・小林真也・高松雄三（愛媛大） |
本稿では，順序回路のテスト系列に対して，縮退故障検出率を低下させることなく，ドントケアとなる外部入力値を発見する手法を提... [more] | CPM2004-169 ICD2004-214 pp.41-46 |
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