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すべての研究会開催スケジュール (検索条件: すべての年度)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| RECONF | 2018-09-18 13:45 |
福岡 | LINE Fukuokaカフェスペース | FPGAの配置配線結果を使用したMPLDの配置配線ツールの検討 ○山下裕司・窪田昌史・谷川一哉・弘中哲夫（広島市大）  RECONF2018-30 |
[more] | RECONF2018-30 pp.61-66 |
| ICD | 2017-04-20 16:10 |
東京 | 機械振興会館 | ［招待講演］A 512Gb 3b/Cell Flash Memory on 64-Word-Line-Layer BiCS Technology ○Ryuji Yamashita・Sagar Magia（WDC）・Tsutomu Higuchi・Kazuhide Yoneya・Toshio Yamamura（Toshiba）・Hiroyuki Mizukoshi・Shingo Zaitsu・Minoru Yamashita・Shunichi Toyama・Norihiro Kamae・Juan Lee・Shuo Chen・Jiawei Tao・William Mak・Xiaohua Zhang（WDC） ICD2017-9 |
64ワードライン層BiCS技術による512Gb 3b/cellフラッシュメモリーを開発した。Four-block-EOC... [more] | ICD2017-9 pp.45-50 |
| ICD | 2015-04-16 16:05 |
長野 | 信州大学 | ［依頼講演］A Low-Power 64Gb MLC NAND-Flash Memory in 15nm CMOS Technology ○Mario Sako・Takao Nakajima・Junpei Sato・Kazuyoshi Muraoka・Masaki Fujiu・Fumihiro Kono・Michio Nakagawa・Masami Masuda・Koji Kato・Yuri Terada・Yuki Shimizu・Mitsuaki Honma・Yoshinao Suzuki・Yoshihisa Watanabe（Toshiba）・Ryuji Yamashita（SanDisk） ICD2015-6 |
A 75mm2 low power 64Gb MLC NAND flash memory capable of 30MB... [more] | ICD2015-6 pp.27-30 |
| EMD | 2008-03-07 14:05 |
東京 | 都立産業技術高専（荒川キャンパス） | すずめっき接点を用いた繰り返し開閉時の接触荷重―接触抵抗特性 ○山下祐司・中村真也・齋藤 寧・玉井輝雄・飯田和生（三重大） EMD2007-128 |
車載用のコネクタ端子においては基本的な特性である接触荷重－接触抵抗特性が重要である。車載用コネクタと同じすずめっきを用い... [more] | EMD2007-128 pp.17-20 |
| EMD, R (共催) |
2008-02-15 13:50 |
京都 | オムロン京都センタービル啓真館 | Snめっき接点の繰り返し開閉時の接触抵抗挙動と表面観察 ○中村真也・山下祐司・齋藤 寧・玉井輝雄・飯田和生（三重大）・服部康弘（オートネットワーク技研） R2007-63 EMD2007-118 |
近年、自動車の機能は従来の走行機能以外にも安全、快適性などが求められ多様化し、その制御の大半がエレクトロニクスに依存して... [more] | R2007-63 EMD2007-118 pp.25-30 |
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