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 77件中 1~20件目  /  [次ページ]  
研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
HWS, VLD
(共催) [詳細]
2020-03-06
13:00
沖縄 沖縄県青年会館
(開催中止,技報発行あり)
順序回路への故障注入に起因した不均一な頻度分布を持つ誤り出力を用いた故障利用解析
岡本拓実藤本大介奈良先端大)・崎山一男李 陽電通大)・林 優一奈良先端大VLD2019-128 HWS2019-101
暗号モジュールに対する故障利用解析は、故障注入とそれに伴い生ずる誤り出力の解析からなる。故障注入法としてクロックグリッチ... [more] VLD2019-128 HWS2019-101
pp.197-201
HWS
(第二種研究会)
2019-12-06
16:00
東京 浅草橋ヒューリックカンファレンス [ポスター講演]複数のデータ通信路を有するICから強制的に引き起こされる電磁的情報漏えいに関する検討
川上莉穂鍛治秀伍奈良先端大)・衣川昌宏仙台高専)・藤本大介林 優一奈良先端大
 [more]
EMCJ, IEE-SPC
(併催)
2019-11-15
15:50
東京 機械振興会館 6階67号室 サイドチャネル波形の計測分解能が秘密鍵の取得性に与える影響の測定
内海航平東北大)・林 優一奈良先端大)・水木敬明曽根秀昭東北大EMCJ2019-73
暗号モジュールの動作時に発生する物理的な現象を利用して秘密鍵を解析するサイドチャネル攻撃が脅威となっている. 暗号処理時... [more] EMCJ2019-73
pp.13-16
ISEC, SITE, ICSS, EMM, HWS, BioX
(共催)
IPSJ-CSEC, IPSJ-SPT
(共催)
(連催) [詳細]
2019-07-24
09:55
高知 高知工科大学 電磁的情報漏えいを強制的に誘発する照射周波数推定法に関する基礎検討
鍛治秀伍奈良先端大)・衣川昌宏仙台高専)・藤本大介林 優一奈良先端大ISEC2019-40 SITE2019-34 BioX2019-32 HWS2019-35 ICSS2019-38 EMM2019-43
正規に実装された機器の回路が、特定の周波数の電磁波を照射することによりハードウェアトロジャンと同等の動作をし、機器内部に... [more] ISEC2019-40 SITE2019-34 BioX2019-32 HWS2019-35 ICSS2019-38 EMM2019-43
pp.235-238
ISEC 2019-05-17
17:00
東京 機械振興会館 [招待講演]Five-Card AND Protocol in Committed Format Using Only Practical Shuffles (from APKC 2018)
阿部勇太東北大)・林 優一奈良先端大)・水木敬明曽根秀昭東北大ISEC2019-11
本講演では,2018年6月4日に韓国・仁川で開催されたAPKC 2018 において発表した Y. Abe, Y. Hay... [more] ISEC2019-11
p.49
HWS 2019-04-12
15:30
宮城 東北大学 無線モジュールの送信波が誘発する情報漏洩の分析
坂本純一横浜国大)・衣川昌宏仙台高専)・藤本大介林 優一奈良先端大)・松本 勉横浜国大HWS2019-5
情報機器における動作時の電磁ノイズから情報が取得される脅威が報告されている。電磁ノイズを通じた情報漏洩の量は機器固有であ... [more] HWS2019-5
pp.25-29
HWS 2019-04-12
15:55
宮城 東北大学 電磁照射による意図的な情報漏えい誘発時に生ずる自己干渉波の抑制に関する基礎検討
川上莉穂鍛治秀伍奈良先端大)・衣川昌宏仙台高専)・藤本大介林 優一奈良先端大HWS2019-6
情報機器から電磁波を介して情報漏えいをする脅威は情報機器の対象となる情報端末の漏えい電磁波の強度と背景雑音の強度の比によ... [more] HWS2019-6
pp.31-35
EMD 2019-03-01
11:15
東京 電通大附属図書館306室 締め付けトルクの減少が接触境界の高周波素子に与える影響に関する検討
成松 貴藤本大介林 優一奈良先端大EMD2018-61
相互接続された電子機器のコネクタ部に接触不良が生じた場合、イミュニティが低下し、周辺の電磁環境に影響を与える可能性がある... [more] EMD2018-61
pp.13-16
HWS, VLD
(共催)
2019-02-28
16:45
沖縄 沖縄県青年会館 製造・実装ばらつきに起因する放射スペクトルの違いを用いた電子機器の個体識別手法に関する基礎検討
鍛治秀伍奈良先端大)・衣川昌宏仙台高専)・藤本大介奈良先端大)・Laurent SauvageJean-Luc DangerTelecom ParisTech)・林 優一奈良先端大VLD2018-120 HWS2018-83
電子機器内部のICやその他の素子などの偽造や複製による模造品の流通によって、電子機器の機能や性能が維持・保証できなくなり... [more] VLD2018-120 HWS2018-83
pp.163-167
HWS
(第二種研究会)
2018-12-13
16:10
東京 東京大学 武田先端知ビル [ポスター講演]振幅確率分布を用いた真性乱数生成器の乱数性評価手法に関する基礎検討
大須賀彩希藤本大介奈良先端大)・本間尚文東北大)・Arthur BeckersJosep BalaschBenedikt GierlichsIngrid VerbauwhedeKU Leuven)・林 優一奈良先端大
(事前公開アブストラクト) 真性乱数生成器に対して、乱数性の基となるエントロピー源に物理攻撃を行うことで、乱数性を低下さ... [more]
HWS
(第二種研究会)
2018-12-13
16:10
東京 東京大学 武田先端知ビル [ポスター講演]超音波距離センサから生ずる不要電磁放射計測に基づくセンシングタイミング推定に関する基礎検討
藤本大介林 優一奈良先端大
(事前公開アブストラクト) 近年、センサに対する意図的な取得データを改ざんするなどの計測セキュリティの研究が盛んとなって... [more]
EMCJ, IEE-EMC, IEE-MAG
(連催)
2018-11-22
15:10
海外 KAIST(韓国大田市) [ポスター講演]Fundamental Study on Degradation of Randomness in TRNG Due to Intentional Electromagnetic Interference
Saki OsukaDaisuke FujimotoNAIST)・Naofumi HommaTohoku Univ.)・Arthur BeckersJosep BalaschBenedikt GierlichsIngrid VerbauwhedeKU Leuven)・Yu-ichi HayashiNAISTEMCJ2018-66
 [more] EMCJ2018-66
pp.35-36
EMCJ, IEE-EMC, IEE-MAG
(連催)
2018-11-22
15:10
海外 KAIST(韓国大田市) [ポスター講演]A Specification Method of Faulty Bytes in Cryptographic Module Using EM Information Leakage
Naoto SagaTohoku Univ.)・Yu-ichi HayashiNAIST)・Takaaki MizukiHideaki SoneTohoku Univ.EMCJ2018-68
差分故障解析などの代表的な故障利用解析手法では,暗号化処理において特定のタイミング・バイト数の計算誤りが発生する必要があ... [more] EMCJ2018-68
pp.39-40
EMCJ, IEE-EMC, IEE-MAG
(連催)
2018-11-22
15:10
海外 KAIST(韓国大田市) [ポスター講演]Study on Estimation of Sensing Timing Based on Observation of EM Radiation from Ultrasonic Range Finder
Daisuke FujimotoYu-ichi HayashiNAISTEMCJ2018-76
 [more] EMCJ2018-76
pp.55-56
EMCJ, IEE-EMC, IEE-MAG
(連催)
2018-11-22
15:10
海外 KAIST(韓国大田市) [ポスター講演]注入信号の位相を考慮した意図的電磁妨害が暗号モジュールにおける故障発生に与える影響
竹之内光樹東北大)・林 優一奈良先端大)・水木敬明曽根秀昭東北大EMCJ2018-79
連続正弦波を用いた意図的な電磁妨害による故障注入では、クロックに重畳する正弦波の位相は電磁界印加を行うタイミングによって... [more] EMCJ2018-79
pp.61-62
EMD 2018-11-09
15:55
東京 電気通信大学 Study on the Effect of Surface Condition on High-Frequency Transmission Characteristics
Kenji AiharaTohoku Univ.)・Yu-ichi HayashiNAIST)・Takaaki MizukiHideaki SoneTohoku Univ.EMD2018-46
When a connector connecting electric devices has loose conta... [more] EMD2018-46
pp.33-36
EMD 2018-11-09
16:20
東京 電気通信大学 Fundamental Study on the Effect of Torque Value at Connector on Equivalent Circuit of Contact Boundary
Daisuke FujimotoTakashi NarimatsuYu-ichi HayashiNAISTEMD2018-47
 [more] EMD2018-47
pp.37-41
EMCJ 2018-07-27
13:00
東京 機械振興会館 コネクタのトルク値が接触境界の等価回路に与える影響評価
成松 貴藤本大介林 優一奈良先端大EMCJ2018-26
トルク管理などが十分に管理されない状況下において、相互接続部であるコネクタに接触不良が生じた場合、局所的にイミュニティが... [more] EMCJ2018-26
pp.25-29
EMCJ 2018-07-27
14:55
東京 機械振興会館 ハードウェアトロイを用いた情報通信機器へのデータ注入攻撃に関する基礎検討
鍛治秀伍奈良先端大)・衣川昌宏仙台高専)・藤本大介林 優一奈良先端大EMCJ2018-30
意図的な電磁妨害 (IEMI: Intentional Electromagnetic Interference) に関... [more] EMCJ2018-30
pp.49-54
EMCJ 2018-07-27
15:45
東京 機械振興会館 接触部の荷重が信号伝達特性に与える影響の測定法に関する検討
相原健志東北大)・林 優一奈良先端大)・水木敬明曽根秀昭東北大EMCJ2018-32
電子機器を接続するコネクタ等の接触部では経年劣化や整備不良などの原因により接触不良が生じる.過去の検討により,接触が不十... [more] EMCJ2018-32
pp.61-66
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