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すべての研究会開催スケジュール (検索条件: すべての年度)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2024-02-28 14:40 |
東京 | 機械振興会館 | CapsNetによるウェハマップ欠陥パターン分類精度の改善 ○山中祐輝・永村美一（都立大）・新井雅之（日大）・福本 聡（都立大）  DC2023-100 |
[more] | DC2023-100 pp.35-40 |
| DC | 2023-12-08 13:30 |
長崎 | アルカスSASEBO （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
ブートストラップ法を用いたウェハマップ欠陥パターン分類におけるラベリングの評価 ○黒川 潤・永村美一（都立大）・新井雅之（日大）・福本 聡（都立大） DC2023-87 |
LSI 製造時に発生したシステマチック欠陥はウェハマップ上で特徴的な欠陥パターンを描くことが知られており，それらのパター... [more] | DC2023-87 pp.1-6 |
| DC, CPSY (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2023-03-23 16:25 |
鹿児島 | 天城町防災センター（徳之島） （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
CapsNetを用いた高解像度ウェハマップの欠陥パターン分類法におけるScratch再構成に関する考察 ○山中祐輝・永村美一（都立大）・新井雅之（日大）・福本 聡（都立大） CPSY2022-41 DC2022-100 |
[more] | CPSY2022-41 DC2022-100 pp.43-48 |
| DC | 2023-02-28 11:00 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
レイアウト起因LSI欠陥検出のためのFSGANを用いたデータ拡張に関する検討 ○杉岡拓海・永村美一（都立大）・新井雅之（日大）・福本 聡（都立大） DC2022-82 |
[more] | DC2022-82 pp.1-5 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2022-10-12 10:00 |
新潟 | 湯沢東映ホテル （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
CapsNetを用いた高解像度ウェハマップの欠陥パターン分類法に関する考察 ○山中祐輝・永村美一（都立大）・新井雅之（日大）・福本 聡（都立大） CPSY2022-22 DC2022-22 |
[more] | CPSY2022-22 DC2022-22 pp.26-30 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2022-03-10 10:10 |
ONLINE | オンライン開催 | AIによるLSI レイアウト上の欠陥検出のための新しい欠陥モデルの検討 ○川口大樹・藤田 樹・永村美一（都立大）・新井雅之（日大）・福本 聡（都立大） CPSY2021-55 DC2021-89 |
現在，半導体集積回路は様々な製品やシステムの構成に必要不可欠な存在であり，その信頼性を確保することは重要である．本研究で... [more] | CPSY2021-55 DC2021-89 pp.61-66 |
| DC | 2022-03-01 16:35 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
CapsNetを用いた多重欠陥ウェハマップ不良パターンの分類に関する一考察 藤田 樹（都立大）・○新井雅之・松田忠勝（日大）・永村美一・福本 聡（都立大） DC2021-78 |
[more] | DC2021-78 pp.81-86 |
| DC, CPSY (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2021-10-12 11:00 |
ONLINE | オンライン開催 | LSIレイアウト画像の分類におけるLight-Weight GANを用いたデータ拡張手法の検討 ○川口大樹・永村美一（都立大）・新井雅之（日大）・福本 聡（都立大） CPSY2021-16 DC2021-16 |
現在，半導体集積回路は様々な製品やシステムの構成に必要不可欠な存在であり，その信頼性を確保することは重要である．本研究で... [more] | CPSY2021-16 DC2021-16 pp.25-30 |
| DC | 2021-02-05 12:25 |
ONLINE | オンライン開催 | CNNによるLSIレイアウト画像分類におけるデータ拡張手法の検討 村川 魁・永村美一（都立大）・○新井雅之（日大）・福本 聡（都立大） DC2020-73 |
[more] | DC2020-73 pp.24-29 |
| DC, CPSY (連催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2020-10-12 15:20 |
ONLINE | オンライン開催 | CNNに基づくLSIレイアウト上の欠陥位置推定法に関する一考察 永村美一（都立大）・○新井雅之（日大）・福本 聡（都立大） CPSY2020-20 DC2020-20 |
[more] | CPSY2020-20 DC2020-20 pp.16-21 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2020-02-27 14:50 |
鹿児島 | 与論町中央公民館 | CNNを用いたLSIレイアウト画像の分類手法の検討 ○村川 魁・藤田 樹・永村美一・福本 聡（首都大東京） CPSY2019-99 DC2019-105 |
現在，半導体集積回路 (以下，LSI) は種々の工業製品や社会インフラの構成に不可欠であり，その信頼性 を確保することは... [more] | CPSY2019-99 DC2019-105 pp.69-74 |
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