電子情報通信学会 研究会発表申込システム
研究会 開催スケジュール
技報閲覧サービス
技報オンライン
‥‥ (ESS/通ソ/エレソ/ISS)
技報アーカイブ
‥‥ (エレソ/通ソ)
    [Japanese] / [English] 
研究会名/開催地/テーマ  )→
 
講演検索  検索語:  /  範囲:題目 著者 所属 抄録 キーワード )→

すべての研究会開催スケジュール  (すべての年度)

講演検索結果
 登録講演(開催プログラムが公開されているもの)  (日付・降順)
 24件中 1~20件目  /  [次ページ]  
研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2019-02-27
10:15
東京 機械振興会館 LSIのホットスポット分布の解析に関する研究
河野雄大宮瀬紘平九工大)・呂 學坤台湾科技大)・温 暁青梶原誠司九工大DC2018-74
LSIの通常動作時におけるIR-drop増加に起因する性能低下などの問題は,電源供給ネットワークを強化するなどの手段で設... [more] DC2018-74
pp.19-24
DC 2018-02-20
11:00
東京 機械振興会館 正当化操作を用いたレイアウト上のホットスポット特定に関する研究
河野雄大宮瀬紘平梶原誠司温 暁青九工大DC2017-80
LSIのテスト時は,通常動作より多くの信号値遷移を伴うため消費電力が増大する.特に実速度スキャンテストにおける過度な消費... [more] DC2017-80
pp.19-24
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2017-11-07
09:25
熊本 くまもと県民交流館パレア On Avoiding Test Data Corruption by Optimal Scan Chain Grouping
Yucong ZhangStefan HolstXiaoqing WenKohei MiyaseSeiji KajiharaKIT)・Jun QianAMDVLD2017-42 DC2017-48
 [more] VLD2017-42 DC2017-48
pp.91-94
DC 2017-02-21
10:55
東京 機械振興会館 電源ネットワークに対するIR-Dropの影響範囲特定に関する研究
宮瀬紘平濱崎機一九工大)・ザウアー マティアスフライブルク大)・ポリアン イリアパッサウ大)・ベッカー ベルンドフライブルク大)・温 暁青梶原誠司九工大DC2016-75
LSIの微細化や低消費電力化はLSIテストを非常に困難にしている.今後のさらなる微細化は配線幅の縮小を可能にし,低消費電... [more] DC2016-75
pp.7-10
DC 2016-02-17
10:25
東京 機械振興会館 論理パスとクロックパスを考慮した実速度スキャンテスト生成手法について
李 富強温 暁青ホルスト シュテファン宮瀬紘平梶原誠司九工大DC2015-87
スキャンキャプチャ時に発生するIR-Dropは論理パスのみならず、クロックパスにも影響を与える。本稿では、論理パスとクロ... [more] DC2015-87
pp.7-12
DC 2015-06-16
15:00
東京 機械振興会館 地下3階2号室 レイアウトデータを用いたテスト時の高消費電力エリア特定手法に関する研究
宮瀬紘平九工大)・ザウアー マティアスベッカー ベルンドフライブルク大)・温 暁青梶原誠司九工大DC2015-18
実速度スキャンテストにおける消費電力増大に関する問題は年々深刻化している.特に,瞬間的な過度の消費電力の増加は,過度なI... [more] DC2015-18
pp.13-18
DC 2014-06-20
14:05
東京 機械振興会館 低キャプチャ電力スキャンテスト生成のためのX埋め込み手法
李 富強温 暁青宮瀬紘平ホルスト シュテファン梶原誠司九工大DC2014-12
低キャプチャ電力のスキャンテストパターンを生成するため,セルの実効電圧降下
(IR-Drop)との関わりの強いローカル... [more]
DC2014-12
pp.15-20
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2012-11-28
16:00
福岡 九州大学百年講堂 ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究
宮瀬紘平梶原誠司温 暁青九工大VLD2012-104 DC2012-70
テストパターンの故障検出能力に加えて,テストデータ量削減,低消費電力,テスト品質向上などの新しい特性を与える場合,テスト... [more] VLD2012-104 DC2012-70
pp.261-266
DC 2012-02-13
11:05
東京 機械振興会館 パターンマージングによる遷移遅延故障用テストのパス遅延故障検出能力向上手法
田中広彬宮瀬紘平榎元和成温 暁青梶原誠司九工大DC2011-78
LSIの信号値伝搬が遅延する欠陥を検出するために,遅延テストが広く用いられている.本稿では,遷移遅延故障テストにおけるパ... [more] DC2011-78
pp.13-18
DC 2011-06-24
16:20
東京 機械振興会館 テストベクトル変換手法を用いた低消費電力LOS 実速度テスト
宮瀬紘平内之段裕太榎元和成九工大)・大和勇太奈良先端大)・温 暁青梶原誠司九工大)・Fangmei WuLuigi DililloAlberto BosioPatrick GirardArnaud VerazelLirmmDC2011-13
LSIの実速度テスト方式の一つであるLOS方式に対する低消費電力テスト手法を提案する.本稿では,X判定技術とX割当技術を... [more] DC2011-13
pp.29-34
DC 2011-02-14
10:25
東京 機械振興会館 実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定
坂井僚太宮瀬紘平温 暁青九工大)・麻生正雄古川 寛ルネサス マイクロシステム)・大和勇太福岡県産業・科学技術振興財団)・梶原誠司九工大DC2010-60
実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の過度な消費電力は,LSIテスト時にタイミングのエラーを引き起こし,歩留り低下の... [more] DC2010-60
pp.7-12
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2010-11-29
16:05
福岡 九州大学医学部百年講堂 Rotating Test and Pattern Partitioning for Field Test
Senling WangSeiji KajiharaYasuo SatoKohei MiyaseXiaoqing WenKyushu Insti. Tech.
 [more]
DC 2010-02-15
14:10
東京 機械振興会館 3値テストパターンに対する遅延テスト品質計算とX割当について
奥 慎治・○梶原誠司佐藤康夫宮瀬紘平温 暁青九工大/JTSDC2009-73
本研究では,テストキューブに対する3値の遅延故障シミュレーションにおいて,故障遅延の遅延値の算出手法を提案する.テストキ... [more] DC2009-73
pp.51-56
DC 2010-02-15
15:40
東京 機械振興会館 部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化
宮瀬紘平九工大)・中村優介パナソニックCCソフト)・大和勇太温 暁青梶原誠司九工大DC2009-76
LSIの微細化,高速化は欠陥の振る舞いを複雑・多様にし,故障箇所,故障の原因の特定を困難なものとしている.X故障モデルは... [more] DC2009-76
pp.69-74
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2009-12-03
14:05
高知 高知市文化プラザ 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究
別府 厳九工大)・宮瀬紘平九工大/JST)・大和勇太九工大)・温 暁青梶原誠司九工大/JSTVLD2009-55 DC2009-42
LSIのテストにおけるスキャンシフト動作,キャプチャ動作時の消費電力やIR-dropの増加は,解決すべき重要な課題である... [more] VLD2009-55 DC2009-42
pp.95-100
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2009-12-04
14:25
高知 高知市文化プラザ 劣化検知テストにおけるパス選択について
野田光政九工大)・梶原誠司佐藤康夫宮瀬紘平温 暁青九工大/JST)・三浦幸也首都大東京/JSTVLD2009-65 DC2009-52
VLSIの微細化に伴い,経時劣化による故障への対応が重要になってくる.劣化の進行度合いは,同じ回路であっても回路内の箇所... [more] VLD2009-65 DC2009-52
pp.167-172
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(共催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2008-11-17
13:50
福岡 北九州学術研究都市 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について
高嶋敦之大和勇太古川 寛宮瀬紘平温 暁青梶原誠司九工大VLD2008-62 DC2008-30
スキャンテストのキャプチャモードにおいて,回路内部での過度のラウンチ信号変化が原因となってタイミングエラーを引き起こす可... [more] VLD2008-62 DC2008-30
pp.13-18
DC 2008-06-20
16:15
東京 機械振興会館 論理回路の動作環境とトランジスタの劣化特性について
原口雅史九工大)・三浦幸也首都大東京)・梶原誠司佐藤康夫宮瀬紘平温 暁青九工大DC2008-17
集積回路の微細化技術の進展とともに,回路の劣化に伴う経時変化の考慮が重要になっている.本研究では,回路の劣化検知を行う準... [more] DC2008-17
pp.35-40
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(共催)
CPSY, RECONF, IPSJ-ARC
(併催) [詳細]
2007-11-20
10:30
福岡 北九州国際会議場 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について
福澤友晶宮瀬紘平大和勇太古川 寛温 暁青梶原誠司九工大VLD2007-71 DC2007-26
実速度スキャンテストにおいて,キャプチャ時に多くのフリップフロップで論理値の遷移が起こると過度のIRドロップが生じる可能... [more] VLD2007-71 DC2007-26
pp.7-12
R 2007-09-14
13:40
高知 高知工科大学 LSI回路のX故障による Per-Test 故障診断手法の拡張について
中村優介大和勇太温 暁青宮瀬紘平梶原誠司九工大)・K. K. サルージャウィスコンシン大R2007-33
LSIの微細化・高速化により,欠陥の振舞いは複雑化し,複数の欠陥が回路内に生じることが増えてきた.このような回路を精確に... [more] R2007-33
pp.23-28
 24件中 1~20件目  /  [次ページ]  
ダウンロード書式の初期値を指定してください NEW!!
テキスト形式 pLaTeX形式 CSV形式 BibTeX形式
著作権について : 以上の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します.
(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会