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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2019-02-27
15:10
東京 機械振興会館 耐過渡故障を指向した線形有限状態機械のストカスティック数による状態符号化
前田有希市原英行岩垣 剛井上智生広島市大
確率を用いた計算手法であるストカスティックコンピューティング(SC) は,低面積,低消費電力,耐過渡故障性などの利点から... [more] DC2018-81
pp.61-66
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2018-12-06
14:15
広島 サテライトキャンパスひろしま スキャンパス合成に利用可能なセグメントのレジスタ転送レベル探索
湯浅 将岩垣 剛市原英行井上智生広島市大
 [more] VLD2018-59 DC2018-45
pp.137-142
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2017-11-07
10:30
熊本 くまもと県民交流館パレア Stochastic Number Generation with Internal Signals of Peripheral Logic Circuits
Naoya KubotaMaki FujihaHideyuki IchiharaTsuyoshi IwagakiTomoo InoueHiroshima City Univ.
ストカスティックコンピューティング(SC)は確率的な演算手法であり,故障耐性が高いことや演算に必要な素子数が少ないことか... [more] VLD2017-47 DC2017-53
pp.115-120
VLD 2017-03-03
13:00
沖縄 沖縄県青年会館 エラートレラントアプリケーションのための論理回路の許容関数を用いた簡単化手法について
岩崎真弥市原英行岩垣 剛井上智生広島市大
エラートレラントアプリケーションとは,画像処理や機械学習のように出力の多少の誤差が許容されているアプリケーションである.... [more] VLD2016-128
pp.145-150
VLD 2017-03-03
13:50
沖縄 沖縄県青年会館 ストカスティック反復による積和演算アーキテクチャ
杉野達美市原英行岩垣 剛井上智生広島市大
今日のLSI製造ばらつきや微細化によるソフトエラーの発生率の増加を受けて,数値を確率として表現し演算を行うストカスティッ... [more] VLD2016-130
pp.157-162
DC 2017-02-21
14:00
東京 機械振興会館 Impact of Operational Unit Binding on Aging-induced Degradation in High-level Synthesis for Asynchronous Systems
Tsuyoshi IwagakiKohta ItaniHideyuki IchiharaTomoo InoueHiroshima City Univ.
 [more] DC2016-78
pp.23-28
DC 2016-06-20
13:50
東京 機械振興会館 耐ソフトエラーを指向したストカスティックコンピューティングのための有限状態機械の状態割当てについて
福田 基市原英行岩垣 剛井上智生広島市大
確率を用いた計算手法であるストカスティックコンピューティング(SC)は,低面積,低消費電力,高ソ フトエラー耐性等の利点... [more] DC2016-11
pp.7-12
DC 2016-02-17
11:30
東京 機械振興会館 連続ビット系列の動的共有によるストカスティックコンピューティングの高速化
高森研輔市原英行岩垣 剛井上智生広島市大
一定の誤りを許容するエラートレラントアプリケーションのために,確率を用いて演算を行うストカスティックコンピューティングが... [more] DC2015-89
pp.19-24
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2015-12-03
09:20
長崎 長崎県勤労福祉会館 ハンドシェイク遅延を考慮した4相2線式非同期システムの高位合成におけるスケジューリングアルゴリズム
猪谷孝太岩垣 剛市原英行井上智生広島市大
本稿では,4相2線式非同期システムの高位合成におけるスケジューリング問題について議論する.高位合成の入力として与えられる... [more] VLD2015-60 DC2015-56
pp.147-152
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2014-11-26
16:40
大分 ビーコンプラザ(別府国際コンベンションセンター) エラートレラントアプリケーションのための論理合成におけるドントケア拡大について
稲岡智哉市原英行岩垣 剛井上智生広島市大
LSI システムが多少の誤り出力や性能低下を引き起こしても,システムの用途がこれらを許容できるとき,
このような用途を... [more]
VLD2014-89 DC2014-43
pp.123-128
VLD 2014-03-04
11:35
沖縄 沖縄県青年会館 相関を持つストカスティック数の演算精度に与える影響に関する考察
石井章太砂盛大貴市原英行岩垣 剛井上智生広島市大
LSI製造ばらつきの増加や微細化によるソフトエラーの増加を受けて,数値を確率で表現して演算を行うストカスティックコンピュ... [more] VLD2013-147
pp.79-84
DC 2014-02-10
16:40
東京 機械振興会館 Dual-FPGAアーキテクチャに基づく相互再構成型耐故障システムの実装
森 拓馬大元将一岩垣 剛市原英行井上智生広島市大
本研究ではDual-FPGAアーキテクチャに基づいた相互再構成型耐故障システムを提案する.
提案システムは故障状況を推... [more]
DC2013-90
pp.67-72
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2013-11-27
15:20
鹿児島 鹿児島県文化センター 耐マルチサイクル過渡故障を指向した高位合成におけるコントローラの設計について
石森裕太郎中祖達也岩垣 剛市原英行井上智生広島市大
本研究では,マルチサイクル過渡故障に耐性を持つシステムにおけるコントローラの設計について議論する.
コントローラの構成... [more]
VLD2013-68 DC2013-34
pp.45-50
VLD 2013-03-04
13:50
沖縄 沖縄県青年会館 エラートレラントアプリケーションのための多重縮退故障を用いた論理簡単化アルゴリズム
亀井惇平松木伸伍岩垣 剛市原英行井上智生広島市大
LSI システムが多少の誤り出力や性能低下を引き起こしても,システムの用途がこれらを許容できるとき,このような用途をエラ... [more] VLD2012-136
pp.1-6
DC 2013-02-13
10:00
東京 機械振興会館 解の再利用によるテスト生成のためのハードウェアSATソルバの実装
向井俊矢上田健司岩垣 剛市原英行井上智生広島市大
 [more] DC2012-80
pp.1-6
DC 2013-02-13
15:50
東京 機械振興会館 エラートレラントアプリケーションのための論理回路簡単化における必須割当てを利用した許容故障判定法
松木伸伍亀井惇平岩垣 剛市原英行井上智生広島市大
エラートレラントアプリケーションは,特定のLSIシステムの誤差(誤り)を許容することが可能なアプリケーションである.
... [more]
DC2012-88
pp.49-54
DC 2012-12-14
16:00
福井 アオッサ(福井) 過剰テスト緩和のためのテスト生成モデルと故障の許容性に基づくテストへの応用
櫻田正明市原英行岩垣 剛井上智生広島市大
正常に動作するチップを不良と判断してしまう過剰テストは,実効歩留まりの低下を引き起こす.本論文では,過剰テスト緩和を目的... [more] DC2012-77
pp.21-26
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2012-11-27
13:00
福岡 九州大学百年講堂 解の再利用を用いたSATに基づくテスト生成におけるインスタンス順序と変数割当順序の決定法
上田健司岩垣 剛市原英行井上智生広島市大
本稿では充足可能性問題(SAT)に基づくテスト生成問題を取り上げ,
解を再利用しながら複数のインスタンスを解く状況下で... [more]
VLD2012-83 DC2012-49
pp.141-146
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2012-11-27
13:25
福岡 九州大学百年講堂 耐過渡故障データパス合成における演算器バインディングのためのヒューリスティックアルゴリズム
中祖達也大窪涼子岩垣 剛市原英行井上智生広島市大
LSIの高集積化,高速化,利用範囲の複雑化などの背景を受けて,放射線衝突が原因でLSI内部に発生する一時故障が問題となっ... [more] VLD2012-84 DC2012-50
pp.147-152
DC 2012-06-22
13:50
東京 機械振興会館 高信頼組込み自己テストのための耐故障テスト生成器に関する考察
深澤祐樹岩垣 剛市原英行井上智生広島市大
BIST回路(テスト生成器や応答圧縮器など)の故障は,
被テスト回路に対するテスト実行結果の判定を誤らせる可能性があり... [more]
DC2012-11
pp.15-20
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