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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2020-12-11
13:00
兵庫 洲本市文化体育館 (淡路島) 勾配降下法を用いた回路遅延の劣化予測について
森 誠一郎権藤昌之三宅庸資加藤隆明梶原誠司九工大
(ご登録済みです.開催日以降に掲載されます) [more]
VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM
(連催)
(併催) [詳細]
2020-11-17
10:30
ONLINE オンライン開催 LSIの領域毎の信号値遷移確率に基づく電力評価に関する研究
大庭 涼星野 竜宮瀬紘平温 暁青梶原誠司九工大VLD2020-13 ICD2020-33 DC2020-33 RECONF2020-32
LSIテストでは通常動作時に比べて信号値遷移が多く発生するため,消費電力が増加する.消費電力が増加すると過度なIR-dr... [more] VLD2020-13 ICD2020-33 DC2020-33 RECONF2020-32
pp.12-17
DC 2020-02-26
10:00
東京 機械振興会館 機械学習を用いたデジタル温度電圧センサの精度向上について
権藤昌之三宅庸資梶原誠司九工大DC2019-86
VLSI稼働時のチップの温度と電圧を測定するため,リングオシレータ(RO: Ring Oscillator)を利用したデ... [more] DC2019-86
pp.1-6
DC 2020-02-26
14:35
東京 機械振興会館 メモリ搭載LSIに対するロジック部の消費電力解析に関する研究
児玉優也宮瀬紘平高藤大輝温 暁青梶原誠司九工大DC2019-93
LSIのテスト時は,通常動作時と比べて消費電力が大きくなる.過度なIRドロップは,過度な遅延値を引き起こし,特に実速度テ... [more] DC2019-93
pp.43-48
DC 2020-02-26
15:00
東京 機械振興会館 LSIの高消費電力エリアに対する信号値遷移制御率向上に関する研究
史 傑宮瀬紘平温 暁青梶原誠司九工大DC2019-94
LSI テスト時は,通常動作より多くの信号値遷移が起こることで過度なIRドロップが発生し,LSI回路内部の信号伝搬遅延時... [more] DC2019-94
pp.49-54
DC 2019-12-20
16:30
和歌山 南紀くろしお商工会 長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測
三宅庸資加藤隆明梶原誠司九工大)・麻生正雄二見治司松永恵士シスウェーブ)・三浦幸也首都大東京DC2019-85
最先端のVLSIでは経年劣化に起因する故障の増加が懸念されている.回路の劣化による遅延の増加を検出するには,フィールドで... [more] DC2019-85
pp.37-42
DC 2019-02-27
10:15
東京 機械振興会館 LSIのホットスポット分布の解析に関する研究
河野雄大宮瀬紘平九工大)・呂 學坤台湾科技大)・温 暁青梶原誠司九工大DC2018-74
LSIの通常動作時におけるIR-drop増加に起因する性能低下などの問題は,電源供給ネットワークを強化するなどの手段で設... [more] DC2018-74
pp.19-24
DC 2018-12-14
13:00
沖縄 沖縄県立宮古青少年の家 FPGAにおける周期的なフィールドテストのためのオンチップ遅延測定
三宅庸資佐藤康夫梶原誠司九工大DC2018-58
最先端のVLSIでは経年劣化に起因する故障の増加が懸念されている.劣化現象として回路遅延の増加が知られているが,劣化によ... [more] DC2018-58
pp.1-6
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2018-12-06
13:25
広島 サテライトキャンパスひろしま 論理BISTのテスト電力制御手法とTEG評価について
加藤隆明九工大)・王 森レイ愛媛大)・佐藤康夫梶原誠司九工大VLD2018-57 DC2018-43
スキャンベースの論理BISTでは,過度のテスト時消費電力が問題となる.一方,電力削減は故障検出率向上及びテスト時間削減と... [more] VLD2018-57 DC2018-43
pp.125-130
DC 2018-02-20
11:00
東京 機械振興会館 正当化操作を用いたレイアウト上のホットスポット特定に関する研究
河野雄大宮瀬紘平梶原誠司温 暁青九工大DC2017-80
LSIのテスト時は,通常動作より多くの信号値遷移を伴うため消費電力が増大する.特に実速度スキャンテストにおける過度な消費... [more] DC2017-80
pp.19-24
DC 2018-02-20
15:05
東京 機械振興会館 デジタル温度電圧センサにおける特定温度電圧領域の推定精度向上手法
井上賢二三宅庸資梶原誠司九工大DC2017-85
VLSI稼働時のチップの温度と電圧を測定するため,リングオシレータ(RO:Ring Oscillator)を用いたデジタ... [more] DC2017-85
pp.49-54
DC 2017-12-15
15:30
秋田 放送大学秋田学習センター FPGAの自己テストのためのTDCを用いたテストクロック観測手法の検討
三宅庸資佐藤康夫梶原誠司九工大DC2017-75
FPGAの自己テストによるフィールド高信頼化のため,論理BISTと可変なテストクロックを組み合わせた遅延測定手法が提案さ... [more] DC2017-75
pp.37-42
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2017-11-07
09:00
熊本 くまもと県民交流館パレア スキャンベース論理BISTにおけるマルチサイクルテストの中間観測FF選出手法について
大島繁之加藤隆明九工大)・王 森レイ愛媛大)・佐藤康夫梶原誠司九工大VLD2017-41 DC2017-47
論理BISTにおける故障検出率向上のために,マルチサイクルテストにおけるフリップフロップ(FF)値の中間観測手法が提案さ... [more] VLD2017-41 DC2017-47
pp.85-90
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2017-11-07
09:25
熊本 くまもと県民交流館パレア On Avoiding Test Data Corruption by Optimal Scan Chain Grouping
Yucong ZhangStefan HolstXiaoqing WenKohei MiyaseSeiji KajiharaKIT)・Jun QianAMDVLD2017-42 DC2017-48
 [more] VLD2017-42 DC2017-48
pp.91-94
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
DC
(併催) [詳細]
2017-07-26
16:15
秋田 秋田アトリオンビル(秋田) デジタル温度電圧センサにおける温度2点補正手法の検討
三宅庸資佐藤康夫梶原誠司九工大DC2017-19
VLSI稼働時のチップの温度と電圧を測定するため,リングオシレータ(RO: Ring Oscillator)を利用したデ... [more] DC2017-19
pp.19-24
DC 2017-02-21
10:55
東京 機械振興会館 電源ネットワークに対するIR-Dropの影響範囲特定に関する研究
宮瀬紘平濱崎機一九工大)・ザウアー マティアスフライブルク大)・ポリアン イリアパッサウ大)・ベッカー ベルンドフライブルク大)・温 暁青梶原誠司九工大DC2016-75
LSIの微細化や低消費電力化はLSIテストを非常に困難にしている.今後のさらなる微細化は配線幅の縮小を可能にし,低消費電... [more] DC2016-75
pp.7-10
DC 2016-02-17
10:25
東京 機械振興会館 論理パスとクロックパスを考慮した実速度スキャンテスト生成手法について
李 富強温 暁青ホルスト シュテファン宮瀬紘平梶原誠司九工大DC2015-87
スキャンキャプチャ時に発生するIR-Dropは論理パスのみならず、クロックパスにも影響を与える。本稿では、論理パスとクロ... [more] DC2015-87
pp.7-12
DC 2015-12-18
13:20
新潟 クリエート村上(村上市) デジタルモニタを用いたチップ内温度電圧変動の測定について
三宅庸資加藤隆明糸永卓矢佐藤康夫梶原誠司九工大DC2015-74
VLSIの稼働時の温度と電圧を測定するデジタルモニタが提案されている.このデジタルモニタは,一般的なアナログ回路によるモ... [more] DC2015-74
pp.5-10
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2015-12-01
15:45
長崎 長崎県勤労福祉会館 [フェロー記念講演]VLSIテスト技術によるシステムディペンダビリティ向上への期待
梶原誠司九工大VLD2015-44 CPM2015-128 ICD2015-53 CPSY2015-64 DC2015-40 RECONF2015-51
VLSIの製造不良の検出を目的に行われる生産テストの技術は,テスト品質向上(故障検出能力の向上)とコスト削減を主眼に研究... [more] VLD2015-44 CPM2015-128 ICD2015-53 CPSY2015-64 DC2015-40 RECONF2015-51
pp.43-44(VLD), pp.9-10(CPM), pp.9-10(ICD), pp.19-20(CPSY), pp.43-44(DC), pp.19-20(RECONF)
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2015-12-03
10:50
長崎 長崎県勤労福祉会館 FPGAのオンチップ遅延測定における温度影響補正の検討
喜納 猛三宅庸資佐藤康夫梶原誠司九工大VLD2015-63 DC2015-59
フィールドでVLSIの遅延テストするための手段として,チップ上に搭載したユーザ論理回路のパス遅延を可変なテストタイミング... [more] VLD2015-63 DC2015-59
pp.165-170
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