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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
EMCJ, EMD
(共催)
2013-07-12
10:35
東京 機械振興会館 ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討(28) ~
和田真一越田圭治サインダー ノロブリン久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大
著者らは,ハンマリング加振機構によって,電気接点に実際の環境と類似した振動を加えることのできる機構を設計・開発し,さらに... [more] EMCJ2013-39 EMD2013-24
pp.1-6
EMD 2012-12-21
15:45
東京 機械振興会館 ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討 (26) ~
和田真一越田圭治サインダー ノロブリンTMCシステム)・益田直樹東京高専)・柳 国男久保田洋彰TMCシステム)・寺崎真志東京高専)・澤 孝一郎日本工大
著者らは,いくつかの加振機構(ハンマリング加振機構,微摺動機構,タッピング・デバイスなど)により,実際の微小振動による電... [more] EMD2012-95
pp.27-32
EMD 2012-12-01
14:30
千葉 千葉工業大学 ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ 加振機構の特性に関する基礎的検討 (25) ~
和田真一越田圭治サインダー ノロブリン益田直樹石黒 明柳 国男久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大
Authors developed the mechanism which gives real vibration t... [more] EMD2012-86
pp.125-131
EMCJ, EMD
(共催)
2012-07-20
12:50
東京 機械振興会館 ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ 加振機構の特性に関する基礎的検討(23) ~
和田真一越田圭治サインダー ノロブリン竹田弘毅益田直樹柳 国男久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大
著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を検討してきた.本論文... [more] EMCJ2012-41 EMD2012-16
pp.1-6
EMCJ, EMD
(共催)
2012-07-20
13:15
東京 機械振興会館 ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗変動のモデリング(24) ~
和田真一越田圭治サインダー ノロブリン益田直樹石黒 明柳 国男久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大
著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検... [more] EMCJ2012-42 EMD2012-17
pp.7-12
EMD, CPM, OME
(共催)
2012-06-22
17:25
東京 機械振興会館 ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ 加振機構の特性に関する基礎的検討(22) ~
和田真一越田圭治サインダー ノロブリン益田直樹石黒 明柳 国男久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大
著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を検討してきた.本論文... [more] EMD2012-15 CPM2012-32 OME2012-39
pp.41-46
EMD 2012-05-25
14:20
宮城 東北文化学園大 ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗とそのモデル (21) ~
和田真一越田圭治サインダー ノロブリン益田直樹石黒 明柳 国男久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大
著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を検討してきた.本論文... [more] EMD2012-3
pp.13-18
EMD 2012-01-20
13:35
神奈川 レンタルホール湘南平塚 ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗とそのモデル (20) ~
和田真一越田圭治川述真裕サインダー ノロブリン益田直樹石黒 明柳 国男久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大
著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検... [more] EMD2011-112
pp.1-6
EMD 2011-12-16
13:55
東京 日本工業大学 神田キャンパス ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗とそのモデル (19) ~
和田真一サインダー ノロブリン越田圭治川述真裕益田直樹久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大
著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検... [more] EMD2011-108
pp.11-16
EMD 2011-11-18
16:15
秋田 秋田大学 手形キャンパス Degradation Phenomenon of Electrical Contacts using a Micro-Sliding Mechanism -- Minimal Sliding Amplitudes estimated under some conditions by the Mechanism (18) --
Shin-ichi WadaKeiji KoshidaMasahiro KawanobeSaindaa NorovlingNaoki MasudaAkira IshiguroKunio YanagiHiroaki KubotaTMC System)・Koichiro SawaNippon Inst. of Tech.
Authors have developed the mechanism which gives damping vib... [more] EMD2011-102
pp.189-194
EMD 2011-10-21
12:35
東京 立川市市民会館 第一会議室 ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗とそのモデル(17) ~
和田真一越田圭治川述真裕サインダー ノロブリン益田直樹石黒 明柳 国男久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大
著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検... [more] EMD2011-57
pp.1-6
EMD, EMCJ
(共催)
2011-07-15
12:20
東京 機械振興会館 ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗とそのモデル(16) ~
和田真一越田圭治川述真裕サインダー ノロブリン益田直樹石黒 明柳 国男久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大
著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検... [more] EMCJ2011-61 EMD2011-20
pp.1-6
EMD, EMCJ
(共催)
2011-07-15
12:45
東京 機械振興会館 タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ~ タッピング・デバイスの試作(3) ~
和田真一・○越田圭治サインダー ノロブリン川述真裕竹田弘毅石塚大貴柳 国男久保田洋彰TMCシステム)・久我宣裕横浜国大)・澤 孝一郎日本工大
著者らは,専用のステージが必要なく,また,ある程度の定量性をもつ,ハンディな“タッピング・デバイス(TPD)”を開発し試... [more] EMCJ2011-62 EMD2011-21
pp.7-12
EMD 2011-05-20
15:50
宮城 東北大学 サイバーサイエンスセンター ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗とそのモデル(15) ~
和田真一サインダー ノロブリン越田圭治川述真裕久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎慶大名誉教授/日本工大
著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検... [more] EMD2011-7
pp.33-38
NLP 2011-03-11
16:35
東京 東京理科大学森戸記念館 いくつかの加振機構による電気接点の劣化現象に関する研究 ~ 接触抵抗変動のモデリング ~
和田真一越田圭治サインダー ノロブリン川述真裕小田部正能久保田洋彰TMCシステム)・池口 徹埼玉大)・堀尾喜彦東京電機大)・澤 孝一郎日本工大
著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検... [more] NLP2010-196
pp.187-192
EMD 2011-01-28
15:40
東京 日本航空電子工業株式会社 タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ~ タッピング・デバイスの試作(1) ~
和田真一越田圭治サインダー ノロブリン川述真裕石塚大貴柳 国男小田部正能久保田洋彰TMCシステム)・久我宣裕横浜国大)・澤 孝一郎慶大名誉教授/日本工大
著者らは,ハンマリング加振機構(HOM),摺動接触機構(SCM),および3次元加振機構(3DOM)によって外部微小振動が... [more] EMD2010-141
pp.35-40
EMD 2011-01-28
16:05
東京 日本航空電子工業株式会社 タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ~ タッピング・デバイスの試作(2) ~
越田圭治和田真一サインダー ノロブリン川述真裕小田部正能久保田洋彰TMCシステム)・久我宣裕横浜国大)・澤 孝一郎慶大名誉教授/日本工大
著者らは,専用のステージが必要なく,また,ある程度の定量性をもつ,ハンディな"タッピング・デバイス(TPD)"を開発し試... [more] EMD2010-142
pp.41-46
EMD 2010-12-17
14:30
東京 玉川大学 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗について (14) ~
和田真一サインダー ノロブリン越田圭治川述真裕小田部正能久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎慶大名誉教授/日本工大
著者らは,ハンマリング加振機構によって電気接点における鉛直方向の微小振動が接触抵抗に与える影響を検討してきた.本報告にお... [more] EMD2010-132
pp.17-22
EMD 2010-11-12
13:15
海外 西安交通大学(中国、西安) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象の研究 ~ モデリング (10) ~
和田真一越田圭治サインダー ノロブリン小田部正能久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大
 [more] EMD2010-111
pp.185-188
EMD 2010-10-15
14:35
東京 NTT武蔵野研究開発センタ ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗について(13) ~
和田真一越田圭治サインダー ノロブリン小田部正能久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎慶大名誉教授/日本工大
著者らは,摺動接触機構を用いて,摩擦力2.0Nおよび0.3N,摺動振幅±5.0μmおよび±10.0μmの条件で,それぞれ... [more] EMD2010-65
pp.13-18
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