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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2021-02-05
14:00
ONLINE オンライン開催 RTLハードウェア要素のテストスケジューリング情報を用いた多重目標故障テスト生成法
浅見竜輝細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大DC2020-74
近年,大規模集積回路のテストコスト増大伴い,テストパターン数削減のためのテスト並列化手法が提案されている.従来手法ではコ... [more] DC2020-74
pp.30-35
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2020-07-31
15:45
ONLINE オンライン開催 テストパターン数削減のためのゲート網羅故障の多重目標故障テスト生成法
浅見竜輝細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大CPSY2020-12 DC2020-12
近年,集積回路の高集積化・複雑化に伴い,セル内の欠陥が増加し,セル内の故障モデルのテスト生成法やゲート網羅故障モデルのテ... [more] CPSY2020-12 DC2020-12
pp.75-80
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