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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| HCS | 2019-03-07 13:00 |
北海道 | 北星学園大学 | ディスカッション中の幼児の行動分析におけるメンバー変更時の行動変化に関する考察 ○福田 量・堀尾恵一・古川徹生（九工大）・大森隆司（玉川大）  HCS2018-67 |
[more] | HCS2018-67 pp.1-6 |
| ICD | 2009-04-13 12:40 |
宮城 | 大観荘（宮城県松島町） | ［招待講演］FeRAMの概要と1.6GB/s DDR2 128Mb Chain FeRAM ○滋賀秀裕・高島大三郎・白武慎一郎・穂谷克彦・宮川 正・荻原 隆・福田 良・滝澤亮介・初田幸輔・松岡史宜・長冨 靖・橋本大輔・西村久明・日岡 健・堂前須弥子（東芝） ICD2009-1 |
強誘電体メモリ(FeRAM)はDRAM並みの高速アクセスとフラッシュメモリ等の有する不揮発性とを兼ね備えており、次世代の... [more] | ICD2009-1 pp.1-6 |
| ICD | 2007-04-13 09:10 |
大分 | 大分県・湯布院・七色の風 | Floating Body RAM技術開発及びその32nm nodeへ向けたScalability ○中島博臣・楠 直樹・篠 智彰（東芝）・東 知輝（東芝マイクロエレクトロニクス）・大澤 隆・藤田勝之・幾見宣之・松岡史宜・福田 良・渡辺陽二・南 良博（東芝）・坂本篤史（東芝情報システム）・西村 潤・浜本毅司・仁田山晃寛（東芝） ICD2007-10 |
SOI基板上にFloating Body RAM技術の開発を行ってきたが、今回、SOI膜厚を43nmまで薄膜化し16Mb... [more] | ICD2007-10 pp.53-58 |
| ICD | 2005-04-15 11:30 |
福岡 | 福岡システムLSI 総合開発センター | 高速大容量混載 DRAM Pre-Fuse Wafer-Level テストのための Burst-Cycle Data圧縮方式 ○福田 良・小林謙二（東芝）・赤松正志・開発 実・田村 淳・谷口一雄（ソニー）・渡辺陽二（東芝） |
高速大容量混載DRAM Pre-Fuse Wafer Level テストのためのBurst-Cycle Data 圧縮方... [more] | ICD2005-15 pp.13-17 |
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