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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SIS, SIP, IPSJ-AVM
(共催)
2008-09-25
13:55
福岡 九州工業大学戸畑キャンパス 付属図書館AVホール 複数特徴点の追跡によるカメラ動き補償
上村浩文石川聖二九工大)・Krystian MikolajczykUniv. of Surrey
本論文では,複数特徴点の追跡によるカメラ動き補償を提案する.提案法では,特徴点の検出にFAST特徴点検出器を用い,特徴点... [more] SIP2008-90 SIS2008-25
pp.5-8
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