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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
EMD 2011-11-17
17:30
秋田 秋田大学 手形キャンパス A Robust Solution for Hesitate Phenomenon in Closing Process of Sealed Electromagnetic Relay
Jie DengXuerong YeYue MaGuofu ZhaiHarbin Inst. of Tech.
To the Sealed Electromagnetic Relay (SEMR) of small batch an... [more] EMD2011-86
pp.103-108
EMD 2010-11-11
11:00
海外 西安交通大学(中国、西安) Failure process and dynamic reliability estimation of sealed relay
Xuerong YeJie DengQiong YuGuofu ZhaiHarbin Inst. of Tech.
Usually the failure rate of a sealed relay is regarded as a ... [more] EMD2010-76
pp.41-44
EMD 2009-11-20
09:40
東京 日本工業大学 神田キャンパス Reliability Tolerance Design of Electromagnetic Relay Considering Paremeters Fluctuation
Xuerong YeHuimin LiangJie DengGuofu ZhaiHarbin Inst. of Tech.
Electrical life of Electromagnetic relay (EMR) depends mainl... [more] EMD2009-90
pp.93-96
EMD 2008-11-15
10:40
宮城 東北文化学園大学(仙台) Research on Dynamic Characteristics Testing and Analyzing System of Electromagnetic Relay
Xuerong YeHuimin LiangJie DengGuofu ZhaiHarbin Inst. Tech.
 [more] EMD2008-69
pp.17-20
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