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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| SDM | 2018-06-25 14:00 |
愛知 | 名古屋大学 VBL３F | ［依頼講演］ダイヤモンドパワー電界効果トランジスタの進展 ○川原田 洋・大井信敬・畢 特・今西祥一朗・岩瀧雅幸・矢部太一・平岩 篤（早大）  SDM2018-21 |
ダイヤモンドと絶縁膜界面の2次元正孔ガスを利用した電界効果トランジスタを利用して、高耐圧（～2000 V）の電界効果トラ... [more] | SDM2018-21 pp.23-28 |
| DC | 2017-02-21 10:30 |
東京 | 機械振興会館 | キャプチャセーフテストベクトルを利用した低消費電力指向テスト生成における動的テスト圧縮法 ○細川利典・平井淳士・山崎紘史・新井雅之（日大） DC2016-74 |
実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ動作時の過度な電力消費は回路の熱破壊や誤テストといった深刻な問題を引き起こし，歩... [more] | DC2016-74 pp.1-6 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-28 09:40 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | キャプチャセーフテストベクトルを利用した低消費電力テスト生成法 ○平井淳士・細川利典・山内ゆかり・新井雅之（日大） VLD2014-98 DC2014-52 |
実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ動作時の過度な電力消費は回路の熱破壊や誤テストといった深刻な問題を引き起こし，歩... [more] | VLD2014-98 DC2014-52 pp.179-184 |
| DC | 2014-02-10 16:00 |
東京 | 機械振興会館 | マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法 ○山崎紘史・川連裕斗・西間木 淳・平井淳士・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大） DC2013-89 |
ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている．キャプチャ時の高... [more] | DC2013-89 pp.61-66 |
| AI | 2009-01-16 13:30 |
東京 | 関西学院大学 東京丸の内キャンパス | テキスト化を介した画像分類手法の提案 ○平井敦之・張 諾・渡辺俊典・古賀久志（電通大） AI2008-42 |
情報処理能力の発達に伴い電子化が急速に進行している．中でも増大する一方の画像に関しては人間の処理能力を超え，人手により分... [more] | AI2008-42 pp.7-12 |
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