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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SSS 2019-12-17
13:35
東京 機械振興会館 自動運転車の高速通信部向け機能安全設計技術の開発
渡邊のぞみ新保健一鳥羽忠信日立SSS2019-23
自動運転レベルの向上に伴い,ECU(Electronic Control Unit)に接続されるカメラ数が急増し,機能安... [more] SSS2019-23
pp.5-8
RCC, MICT
(共催)
2015-05-28
15:20
東京 機械振興会館 通信装置向けFPGAのソフトエラー高速リカバリ技術
新保健一鳥羽忠信上薗 巧伊部英史日立RCC2015-9 MICT2015-9
通信インフラを流れるデータトラフィック量の急増に伴い,高速・大容量の通信装置開発が求められている.通信装置には設計の柔軟... [more] RCC2015-9 MICT2015-9
pp.37-42
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-EMB, IPSJ-SLDM
(共催)
(連催) [詳細]
2015-03-07
13:00
鹿児島 奄美市社会福祉協議会 会議室(2F・4F) 危険側故障割合の定量評価を用いたFPGA活用制御システムの低コスト化
広津鉄平鳥羽忠信日立CPSY2014-180 DC2014-106
近年,FPGAの高性能化,低価格化が進展し,コストパフォーマンスを追求する制御用組込みシステムを実現する上で有望なデバイ... [more] CPSY2014-180 DC2014-106
pp.119-124
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2009-12-02
13:50
高知 高知市文化プラザ [招待講演]最新半導体デバイスの環境中性子線エラー ~ デザインルール22nmへのインパクトと対策 ~
伊部英史新保健一谷口 斉鳥羽忠信日立CPM2009-139 ICD2009-68
メモリ、論理ゲートなど半導体デバイスの環境中性子線によるエラーのメカニズム、各種エラーモードの現状と22nmデザインルー... [more] CPM2009-139 ICD2009-68
pp.29-34
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2009-12-03
10:00
高知 高知市文化プラザ 情報システム装置の中性子照射試験とフィールドエラーとの相関
新保健一鳥羽忠信伊部英史西井浩士日立CPM2009-143 ICD2009-72
中性子照射試験により情報システム装置のソフトエラー耐性評価を行った.メモリ構成の異なる2台の装置のソフトエラー比について... [more] CPM2009-143 ICD2009-72
pp.51-55
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