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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SDM, ICD
(共催)
ITE-IST
(連催) [詳細]
2018-08-09
12:45
北海道 北海道大学大学院情報科学研究科 M棟M151 10nm FinFETプロセスにおける回復効果を含むBTIのスタンダードセルのレイアウト形状依存性に関する研究
五十嵐満彦内田優希高沢義生塚本康正澁谷宏治新居浩二ルネサス エレクトロニクス
 [more] SDM2018-47 ICD2018-34
pp.109-113
ICD 2012-12-18
10:20
東京 東工大蔵前会館 ロイアルブルーホール テスト時ピーク電力最適化に向けた28nmHKMGプロセスのデジタルVdrop検出センサー
五十嵐満彦高沢義生五十嵐康人松下博明竹内 幹ルネサス エレクトロニクス
フルデジタルで実装やテスト時の使用が容易なダイナミックVdropセンサーを提案する。このセンサーは2.4Kゲート規模で、... [more] ICD2012-115
pp.97-102
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