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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2021-12-10
15:45
香川 国民宿舎小豆島(ふるさと荘交流センター)
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
機械学習による踏切遮断かん折損検知に関する考察
志田 洋NESCO)・白石倫之JR四国)・高橋 寛愛媛大DC2021-62
踏切道は鉄道と道路が唯一交差する部分であり,踏切遮断機は列車接近時に鉄道と道路を遮断し,踏切を通行する一般公衆・自動車及... [more] DC2021-62
pp.38-43
R 2021-05-28
13:00
ONLINE オンライン開催 [招待講演]車載システム向けのテスト容易化設計法
高橋 寛愛媛大
先進自動運転のための車載コンピュータにおいては機能安全規格に基づくテストが必要である.新しいテスト環境であるフィールドに... [more]
DC 2021-02-05
14:25
ONLINE オンライン開催 マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法
中岡典弘王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスDC2020-75
 [more] DC2020-75
pp.36-41
DC 2020-12-11
14:40
兵庫 洲本市文化体育館 (淡路島)
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
NS形電気転てつ機の状態基準保全に関する研究
志田 洋JR西日本)・三﨑友樹JR四国)・高橋 寛愛媛大DC2020-64
我が国の鉄道で広く使用されているNS形電気転てつ機について,状態基準保全(CBM)の実現に向けた研究を行っている.本稿で... [more] DC2020-64
pp.27-32
VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM
(連催)
(併催) [詳細]
2020-11-17
11:20
ONLINE オンライン開催 マルチサイクルテストにおけるスキャンパターン削減指向制御ポイントの選定法
環 輝王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスVLD2020-15 ICD2020-35 DC2020-35 RECONF2020-34
 [more] VLD2020-15 ICD2020-35 DC2020-35 RECONF2020-34
pp.24-29
R 2020-05-29
14:00
愛媛 愛媛大学 城北キャンパス
(開催中止,技報発行なし)
[招待講演]Society5.0におけるテスト技術(口頭発表)
高橋 寛愛媛大
 [more]
DC 2020-02-26
10:50
東京 機械振興会館 機械学習の異常検知による半断線故障判別法における温度依存性の検討
中西遼太郎四柳浩之橋爪正樹徳島大)・樋上喜信高橋 寛愛媛大DC2019-88
 [more] DC2019-88
pp.13-18
DC 2020-02-26
11:35
東京 機械振興会館 マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法
青野智己中岡典弘周 細紅王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスDC2019-89
車載システムの機能安全を保障するためには,システムの起動時に回路を検査するパワーオンセルフテスト(POST)が必要である... [more] DC2019-89
pp.19-24
DC 2019-12-20
15:40
和歌山 南紀くろしお商工会 機械学習による鉄道信号設備の状態基準保全に関する研究
志田 洋JR西日本)・田村晃裕二宮 崇高橋 寛愛媛大DC2019-83
公共性の高いシステムはディペンダビリティが求められる.ディペンダビリティを維持するためシステムの構成部品の劣化傾向を把握... [more] DC2019-83
pp.25-30
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2019-11-14
16:10
愛媛 愛媛県男女共同参画センター 確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析
中岡典弘青野智己・○工藤壮司王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスVLD2019-45 DC2019-69
先進自動運転システムの機能安全を保障するために , システムの起動時に論理組込み自己テスト (LBIST)
機構を用い... [more]
VLD2019-45 DC2019-69
pp.145-150
DC 2019-02-27
11:20
東京 機械振興会館 期待署名自己生成に基づく組込み自己診断機構
平本悠翔郎大竹哲史大分大)・高橋 寛愛媛大DC2018-76
 [more] DC2018-76
pp.31-36
DC 2019-02-27
14:05
東京 機械振興会館 マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFFトグル制御ポイントの選択法
青野智己Hanan T.Al-Awadhi王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスDC2018-79
車載システムの機能安全を保証するためには,システムの起動時にテストを実行するパワーオンセルフテスト(POST)が必要とな... [more] DC2018-79
pp.49-54
NLC, IPSJ-IFAT
(連催)
2019-02-08
15:25
京都 龍谷大学大宮キャンパス 要望分析のための投稿テキストのカテゴリ分類支援
高橋寛治奥田裕樹SansanNLC2018-48
ェブサービスをユーザに提供している弊社では,自社サービスに対する要望について自由記述形式 の投稿を収集し,投稿... [more] NLC2018-48
pp.69-74
DC 2018-02-20
16:10
東京 機械振興会館 メモリベース再構成デバイスMRLDにおけるブリッジ接続故障のテスト方法
王 森レイ小川達也樋上喜信高橋 寛愛媛大)・佐藤正幸勝 満徳TRL)・関口象一太陽誘電DC2017-87
MRLD とは、メモリ機能も備える新しい再構成可能論理デバイスである。MRLD の基本要素となるMLUT(Multipl... [more] DC2017-87
pp.61-66
DC 2017-02-21
11:35
東京 機械振興会館 論理回路の組込み自己診断に関する提案
香川敬祐矢野郁也王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・大竹哲史大分大DC2016-76
近年,自動車の機能安全を実現するために車載集積回路が果たす役割が増加している.自動車の機能安全を保証するためには,フィー... [more] DC2016-76
pp.11-16
DC 2017-02-21
16:35
東京 機械振興会館 三次元積層ICのTSV相互接続の評価容易化設計DFE ~ アナログバウンダリスキャンによる接続抵抗評価 ~
亀山修一愛媛大/富士通)・王 森レイ高橋 寛愛媛大DC2016-83
本稿では製品の品質評価のための回路をLSIやボードに組込む設計手法,評価容易化設計(Design for Evaluat... [more] DC2016-83
pp.53-58
NLC 2016-09-09
10:50
東京 コンベンションルーム AP渋谷道玄坂 日本語解析システム「雪だるま」第2報 ~ 進捗報告と活用形態素の導入 ~
山本和英高橋寛治桾澤優希西山浩気長岡技科大NLC2016-23
現在我々が構築している日本語解析システム「雪だるま」の進捗について述べる。昨年度は表記統制と形
態素結合処理を中心に辞... [more]
NLC2016-23
pp.63-68
DC 2016-02-17
10:50
東京 機械振興会館 論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減
藤谷和依四柳浩之橋爪正樹徳島大)・樋上喜信高橋 寛愛媛大DC2015-88
半導体プロセスの微細化に伴って,配線およびビアの断線故障が増加している.断線故障は故障線論理値を隣接線間容量によって制御... [more] DC2015-88
pp.13-18
DC 2016-02-17
15:15
東京 機械振興会館 三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法のアナログ回路設計について
王 森レイ香川敬祐愛媛大)・亀山修一富士通)・樋上喜信高橋 寛愛媛大DC2015-94
 [more] DC2015-94
pp.49-54
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2015-12-01
14:40
長崎 長崎県勤労福祉会館 隣接線の信号遷移による遅延変動を用いる半断線故障の判別法について
伊勢幸太郎四柳浩之橋爪正樹徳島大)・樋上喜信高橋 寛愛媛大VLD2015-42 DC2015-38
IC 内で発生する半断線故障は抵抗成分を持ち,故障の影響は微小遅延として顕在化する.また,トランジスタのばらつきの影響に... [more] VLD2015-42 DC2015-38
pp.31-36
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